EMC电磁兼容测试报告2

产品名称NAMEOFSAMPLE智能读卡锁商标型号TRADEMARK&TYPECHD1200M制造厂商MANUFACTURER深圳市纽贝尔电子有限公司委托单位CLIENT深圳市纽贝尔电子有限公司检验类别TESTSORT委托检验项目TESTITEM静电放电抗扰度、电快速瞬变脉冲群抗扰度、浪涌（冲击）抗扰度深圳电子产品质量检测中心SHENZHENELECTRONICPRODUCTQUALITYTESTINGCENTER检验记录编号NO.2812共页报告编号：2811068第页共页深圳电子产品质量检测中心检验记录第2页共页样品名称智能读卡锁商标/制造厂商深圳市纽贝尔电子有限公司型号规格CHD1200M委托单位深圳市纽贝尔电子有限公司取样方式委托人送样抽样单位/抽样母数1台抽样地点/样品数量1台生产日期--抽样日期/送检日期2008年11月14日检验日期2008年11月14日--2008年12月4日检验环境15～35℃45～75%RH样品说明:检测样品1台，检测编号：1#，检测前后样品外观完好，功能正常。测试时供电电压：DC12V检验项目:静电放电抗扰度、浪涌（冲击）抗扰度、电快速瞬变脉冲群抗扰度检测依据:IEC61000-4-5:2005、IEC61000-4-2：2001、IEC61000-4-4-2004、企业要求检验概况:依据标准和企业要求对1台样品分别进行了静电放电抗扰度、浪涌（冲击）抗扰度、电快速瞬变脉冲群抗扰度共3项的检测，测试结果均符合企业要求。详见后页。检验结论:共检3项，3项均符合企业要求检验负责人：审核：批准：职务：年月日年月日年月日抗扰度试验判据说明：报告编号：2811068第页共页序号判定准则类别说明1判据A试验中EUT在规范极限值内性能正常2判据B试验中EUT功能或性能暂时降低或丧失，但能自行恢复3判据C试验中EUT功能或性能暂时降低或丧失，但需操作者干预或系统重调(或复位)4判据D试验中EUT因装置(或元件)损坏而不可恢复的功能降低或丧失检验项目：浪涌（冲击）抗扰度试验依据标准：IEC61000-4-5:2005、企业要求产品名称：智能读卡锁商标型号：CHD1200M样品编号：1#试验条件：温度：23℃，湿度：52%RH，正常大气压。电磁条件保证受试设备正常工作，并不影响试验结果。EUT状态：试验前工作正常，试验中受试设备刷卡及RS485命令开锁正常，使受试设备处于正常工作状态。试验等级：在受试设备的DC电源和信号线端口：正-负：电压峰值2kV，开路电压波形1.2/50µs（短路电流波形8/20µs），2Ω内阻正（或负）-地：电压峰值2kV，开路电压波形1.2/50µs（短路电流波形8/20µs），12Ω内阻信号线对线：电压峰值2kV，开路电压波形1.2/50µs（短路电流波形8/20µs），15Ω内阻信号线对地：电压峰值2kV，开路电压波形1.2/50µs（短路电流波形8/20µs），15Ω内阻要求符合性能判据B。试验布置：严格按标准要求。试验过程：：浪涌（冲击）电压施加在EUT的DC电源和信号线端口，60秒钟一次，正、负极性各做5次。试验电压由低等级增加到规定的试验等级，较低等级均应满足要求。EUT表现：在整个试验过程中没有出现危险或不安全的后果，试验中及试验后，EUT工作正常，表现出抗扰能力。符合性能判据A。描述如下：受试设备在试验前正常工作，试验中及试验后EUT工作正常。符合性能判据要求。检验人：校核人：检验日期：校核日期：报告编号：第页共页抗扰度试验判据说明：序号判定准则类别说明1判据A试验中EUT在规范极限值内性能正常2判据B试验中EUT功能或性能暂时降低或丧失，但能自行恢复3判据C试验中EUT功能或性能暂时降低或丧失，但需操作者干预或系统重调(或复位)4判据D试验中EUT因装置(或元件)损坏而不可恢复的功能降低或丧失检验项目：静电放电抗扰度试验依据标准：IEC61000-4-2：2001、企业要求产品名称：智能读卡锁商标型号：CHD1200M样品编号：1#试验条件：温度24℃，湿度：52％RH，正常大气压。电磁条件保证受试设备正常工作，并不影响试验结果。EUT状态：试验前工作正常，试验中受试设备刷卡及RS485命令开锁正常。，使受试设备处于正常工作状态。试验等级：a)接触放电：试验电压6kV。b)空气放电：试验电压8kV。要求符合性能判据B。试验布置：严格按标准要求。试验过程：a)对EUT可接触的导电表面、螺钉、端口等金属体进行接触放电，分别选择4个以上试验点进行（每点至少50次，正负极性各25次），其中一个试验点承受水平耦合板前边缘中心距EUT0.1m处至少50次间接（接触）放电。试验电压4kV，用尖端接触放电枪头，最大放电重复频率为1次/s。试验电压应从最小值逐渐增加至规定的试验值，以确定故障的临界值。b)对EUT可接触的壳体表面，按键、指示灯、显示屏、壳体等的缝隙进行空气放电，分别选择3个以上试验点，每点进行至少20次单次放电，正负极性各10次，试验电压8kV，用圆形空气放电枪头。试验电压应从最小值逐渐增加至规定的试验值，以确定故障的临界值。EUT表现：在整个试验过程中没有出现危险或不安全的后果，表现出抗扰能力，符合性能判据B。描述如下：受试设备在试验前正常工作，试验中及试验后受试设备工作正常。符合性能判据要求。检验人：校核人：检验日期：校核日期：报告编号：第页共页抗扰度试验判据说明：序号判定准则类别说明1判据A试验中EUT在规范极限值内性能正常2判据B试验中EUT功能或性能暂时降低或丧失，但能自行恢复3判据C试验中EUT功能或性能暂时降低或丧失，但需操作者干预或系统重调(或复位)4判据D试验中EUT因装置(或元件)损坏而不可恢复的功能降低或丧失检验项目：电快速瞬变脉冲群抗扰度试验依据标准：IEC61000-4-4-2004、企业要求产品名称：智能读卡锁商标型号：CHD1200M样品编号：1#试验条件：温度：23℃，湿度：52%RH，正常大气压。电磁条件保证受试设备正常工作，并不影响试验结果。EUT状态：试验前工作正常，试验中受试设备刷卡及RS485命令开锁正常。，使受试设备处于正常工作状态。试验等级：在EUT供电电源端口：线对线和线对地：试验电压峰值2kV；重复频率2.5kHz，5/50nsTr/Td脉冲群波形。脉冲群持续时间、周期分别为15ms，300ms。要求符合性能判据B。在信号线端口，通过电容耦合钳耦合：试验电压峰值2kV；重复频率5kHz，5/50nsTr/Td脉冲群波形。脉冲群持续时间、周期分别为15ms，300ms。要求符合性能判据B。试验布置：严格按标准要求。试验过程：EUT的电源插入电快速瞬变脉冲群发生器的EUT插座端口，加峰值为2kV的试验电压，分别加在+、-和+/-线、地线上，每根线上的试验持续时间为1分钟，分别进行正负极性试验。EUT的信号线放入电快速瞬变脉冲群发生器的电容耦合钳里，通过耦合，加峰值为2kV的试验电压，试验持续时间为1分钟，分别进行正负极性试验。EUT表现：在整个试验过程中没有出现危险或不安全的后果，试验中及试验后，EUT工作完全正常，表现出抗扰能力。符合性能判据B。描述如下：受试设备在试验前正常工作，试验中及试验后受试设备工作正常。符合性能判据要求。检验人：校核人：检验日期：校核日期：试验仪器设备清单序号名称型号编号有效日期本次使用21静电放电测试仪PESD1600A01031082009.06.1022电快速瞬变测试仪PEFTJUNIORA01031102009.06.1023电容耦合钳IP4AA01032082006.06.1025雷击测试仪TSS500M10A07125112009.11.1926浪涌脉冲发生器VCS500M10A07125092009.11.1927浪涌耦合网络CNV503S9A07125102009.11.19注：打“√”为本次试验使用仪器、设备，所有仪器、设备均在校准有效期内。检查人：检验报告审批登记表QR-31工作任务通知书28-4271检验报告编号产品名称智能读卡锁生产企业深圳市纽贝尔电子有限公司检验项目静电放电抗扰度、电快速瞬变脉冲群抗扰度、浪涌（冲击）抗扰度检验完成日期年月日报告编制日期年月日报告附件情况1、工作任务通知书一份，1页；2、委托检验协议书一份，1页；3、检验记录一份，共页；4、打印无差错。编制：年月日审核记录审核：年月日批准记录批准：年月日