晶体管在ICT设备上的测试

LOGO晶体管在ICT设备上的测试鑫镁晨电子科技有限公司@smiken.com2011.04.30分类二极管:普通二极管,稳压管,LED,保护二极体等…1.三极管:NPN,PNP,MOS管,晶闸管等…2.其它类:光藕,整流桥等…3.二极管普通二极管,稳压管,LED,保护二极体等…1.普通二极管:测试其PN结的导通电压,一般的锗管导通电压为0.2-0.4V,硅管为0.5-0.8V.2.稳压管:除正向PN节导通测试以外,还要测试其反向导通压降,也就是他的稳压值.如3.3V或5V稳压值,但要注意的是,不同的ICT设备其可测试的电压范围不同.3.LED:常规LED发光时的压降为1.8-2.3V之间.4.保护二极体:其只存在于IC的内部(仅限I/OPIN),用于测试IC脚位的粘贴性,压降为0.7V左右.三极管三极管:NPN,PNP,MOS管,晶闸管等…1.普通三极管:测试其两个PN节的导通电压,一般的锗管导通电压为0.2-0.4V,硅管为0.5-0.8V.然后让三极管进入饱和状态,测试C和E两个极的压降,大多为0.2V以下.所以一般三极管需要测试三个步骤,即B-C,B-E,B-C-E.2.MOS管:MOSFET三个为G-S-D,其中S和D之间存入一个PN结,ICT在测试时有两个步骤,一个是-D的PN节导通电压,另外一个是把它当成开关管来测试,例如:N型的MOS管,在G极送给3V电压,S-D将反向导通.晶闸管也类似.其它晶体管三极管:光藕,整流桥等…1.光藕:可拆分为一个LED+一个三极管,当LED工作时三极管导通进入饱和,CE压降多在0.2V以下.在电路中作为隔离的开关用.所以,光藕有两个步骤,一个是测试LED(如PC817的结电压为1.25V),另一个是四端测试,让LED工作,测试CE的导通状况,约0.2V.2.整流桥:当作四个PN结即四个二极体来测试即可.测试时,晶体管是已经贴装好了,也就是说,PN结会受到旁路的影响,如串联或并联元件对其测试有一定的影响.D//R并联假設R=35Ω，IS=20mA則VO=IS*R=20*10-3(A)*35(Ω)=700*10-3(V)=0.7(V)這時D既便漏件也無法測試,推而广之,并联其它阻性元件,都会对D的测试造成一定影响.D//D并联兩個二極體(即PN結)異向并聯时,可以测到缺件,同正并联时,如果有一个缺件,则ICT检测不到.二极体的并联,包含IC的保护二极体.和导线/电感并联时,D无法测试.D//J并联D//L并联另外,当D并联大电容时,因ICT使用小电流信号源,对电容充电较慢,会造成测试时间较长并出现不稳定状况.测试时,LED会发光,ICT提供一个恒电流.测试其导通电压约2V左右.IC的保护二极体,是ICT设备自动学习出来的,这种二极体在IC中主要是起到防静电的作用,但仅限I/O脚位,而且不是所有的PIN都存在保护二极体,所以ICT不可能对IC的测试完全涵盖.2所以.测试晶体管,无非就是测试PN节电压,这样就避免不了受到电阻/电容/电感/二极体等旁路原件的影响.ICT为了防止损坏待测原件,统一使用小电流信号源进行测量,而且测试模式就是固定的几个,可调节的空间相对较小.3对于ICT来说,三极管只分NPN或PNP,也就是导通电压的差异,所以对于不同厂牌或近似类型的晶体管,靠ICT是无法区分的.晶体管ICT测试总结