IC测试设备

数字电路测试系统美国Credence公司ElectraMSR100MHz台湾德律TR-6010逻辑测试系统日本VTT公司V777大规模集成电路逻辑测试系统安捷伦83000数字电路测试系统混合信号电路测试系统美国Credence公司ElectraMSR100MHzTeradyneIntegraJ750TestSystemLTXSynchro/FusionHTSZM3650模拟电路测试系统台湾德律TR-6800电源管理器件测试机TeradyneA585/A575LTXTS80/88测试机接口板ElectraMSR100MHz客户定制型V777测试通道扩展板--CECC设计制作V777测试通用接口板--CECC设计制作IMS100用户定制型接口板--CECC设计制作SOC器件测试系统安捷伦93000SOC测试系统TeradyneJ971TeradyneJ973LCD器件测试系统存储器测试系统SytestQ2-52RFIC器件测试系统LTXFusionRFTeradyneCatalystRFAgilentHp93000RF测试座及夹具通用测试座特殊夹具美国Credence公司ElectraMSR100MHz美国Credence公司ElectraMSR100MHz概述·100MHz量测速率的功能验证性设备，具有FuntionalPattern产生、仿真、测试，DC参数量测等功能。·非常适合IC设计公司进行样片芯片验证性测试及分析特性:·4M的向量存储深度/通道完整的功能Pattwen和DC参数测试系统·UNIX系统的操作软件，可视化友好界面·ShmooPlot工具,用于器件特性分析·可连接LABVIEW辅助性工具·直接连接到工作站服务器系统规格·时钟频率：100Mhz·数据速率：200Mbits/Sec·1.5ns的上升和下降时间（ECL、CMOS电路）·每个管脚的电压和负载可编程·每个管脚可编程边缘分辨率50ps·7bitsperChannelforSimultaneousReal-time·CompareandDataAcquisition·时钟线形稳定，偏差≦±100ps·系统偏差≦±1ns(ATS1)·每个管脚可选用直流精密测量单元·Window、Edge和Dual-Edge采样·128个I/O管脚(ATS1)·APMU：直流精密测量单元·2.1Gb扩展图形存储器·PCI-GPIB和PCI-VXI接口板·SunUltra10工作站系统软体功能·TestEnv：基于Xwindows的测试软件环境，包括·IMSScreens、IMS-Shmoo、TestLITE和·MATSS测试服务器·IMS-Link：提供脱机向量转换软件编辑能力和通用仿真器支持·TestVIEW(V7.2e)：图形测试编程语言系统模组Module·ControlModulex1·Timingmodulex1·Datamodulex8·AnalyticalDCPMUmodulex1SocketCard种类及数量·DIPAutoSocketCard40*1·ATS1/MSTS1AnologInterfaceBoard*1·ForceAutocalInterfaceBoard*1·OpenCustomDUTInterfaceBoard*13·ATS1/MSTSFixtureBoard*1·ForceAutocal*1·CompareAutocal*1·IMSAdapterBoard*1台湾德律TR-6010逻辑器件测试机概述：·专为10MHz逻辑IC测试机,具有FunctionPattern测试,Dc参数量测等功能硬件结构：特性：·2M的向量存储器深度·可4组并行测试·完整的功能Pattwen和DC参数测试·驱动电压：+-8V，比较电压：6V·具有ShmooPlot工具,用于器件特性分析·测试程序调试工具·完善的测试诊断报告和柱状图·TTL和GPIB接口,可直接连接至prober和handler·紧凑小型，易安装资源配置：·测试控制器：奔腾III以上PC·系统软件：MS-DOS·电源要求：（1）单相交流，AC110V10A/50-60Hz（2）单相交流，AC220V6A/50-60Hz性能参数：·测试频率：10MHz·周期速率：100nS-1.31mS·周期分辨率：20nS·测试通道：最大128个·多组测试：2/4组并行测试·定时器：4Pins/TG·定时器分辨率：10nS·闸门模式：边沿式·测试向量深度：2M·驱动器：VIH：+-8V分辨率：5mV·VIL：+-8V分辨率：5mV·比较器：VOH：+-8V分辨率：5mV·VOL：+-8V分辨率：5mVPMU：1组/板卡，最大8组施加电压/测量电流范围：级别电压精确度分辨率010V+%+-5mV2.5mV110V+%+-5mV2.5mV210V+%+-5mV2.5mV310V+%+-5mV2.5mV施加电流/测量电压范围：HVPMU：2组/板卡，最大16组施加电压/测量电流范围：施加电流/测量电压范围：日本VTT公司V777大规模集成电路逻辑测试系统（一）概述·10MHz的测试频率，128个测试通道，4M字节向量深度的大规模LSI测试系统系统尺寸·主框架：580(W),750(D),1200(H)或1850(H)毫米·测试头：580(W),340(D),250(H)毫米·电缆长度：4米测试器控制器·处理器AMD-K6-500·操作系统MS/DOSV·内存32MB·硬盘4.0GB·软盘3.5英寸1.44MB接口板·标准接口板针对探针机和机械手·GPIB接口板选项PIN电子性能·标准64PIN·全系统128PIN或64PIN*2DUTS软件包·语言C(库:TURBOC)·工具软件SCHMOOHISTOGRAMWAFERMAP·测试程序转换器ANDO-SUMMIT至V7100(主程序和波形程序)SENTRY至V7100(波形程序)CREDENCE-SC212至V7100(波形程序)ADVANTEST-MOSPL至V-7100(波形程序)驱动器·输出电压VIH0V至+11VVIL-2V至+8V·电压摆幅100mVp-p至11Vp-p·精度0.5%+5mV·分辨率2.7mV·最大DC电流输出=H±20mA输出=L±20mA·阻抗50±5%ohm·升/降时间驱动器模式5ns/5Vp-p(20%至80%)I/O模式5ns/5Vp-p·总时钟精度(NRZ格式)±5ns(最大)·时滞(NRZ格式)有关PINS±5ns(最大)·有关TGS±4ns(最大)·上突波/下突波3%+50mV·VIH/VIL级别4级别·驱动器模式FIX-HI,FIX-LO,NRZ,/NRZ,RZ,/RZ,R1,EXOR,/EXOR,·无调制·时钟的限制参照图1条件:10Mohm和15pF载荷下一页日本VTT公司V777大规模集成电路逻辑测试系统（二）安捷伦83000数字电路测试系统描述：特性和用途：·用于Credence的ElectraMSR100MHz机台上，根据客户器件封装尺寸设计制作专用的定制型测试接口板，有效解决高速信号干扰之问题。规格：长（L）*宽（W）*厚（H）安捷伦93000SOC测试系统概述·测试系统具有数字、模拟、存储器、射频（RF）模块（可选件）的功能测试和参数测试·支持扫描测试·支持IDDQ测试·测试系统具有可升级性和可扩展性参数:（1）系统控制平台·HPC3750UNIX工作站·内存2GB·硬盘36GB·HPp113021”高分辨率纯平彩色显示器·配备DVD光盘驱动器·配备磁带机·配备10M／100MEthernet接口·操作系统HP-UXB11.11（2）数字功能指标·数字通道:256·数据速率：660Mb/s·向量存储深度：14M·扫描存储器深度：56M·边沿定位精度≤土150ps（3）模拟部分·任意波形发生器（AWG），精度≥12-bit,频率：500MHz采样/s；·数字化仪，精度：12-bit,采样速率：320MHz采样/s；·时间间隔分析仪（TIA），输入频率：400MHz。（4）DC测试性能·通用器件电源，参数：±7V/8A·低噪声电源，参数：±8V/4A·精密测量单元，最大电压量程:-5V—+8V，电压分辨率:250uV，最大电流量程:±200mA，电流分辨率:250pA·参数测量单元PMU，量程:-2V—+7V,40mA·IDDQ电流测量，精度≤100nA，分辨率≤10nA5）测试软件·SmarTestRev.4.1.6/4.2.5·SmarTestProgramGeneratorRev.1.2.0·VCDTO93KEdition2.0安捷伦93000SOC系列模块配置表模块描述数量位置主要指标详情数字通道P600660Mbit/s数字通道1610101～10116最高数据速率：660Mbit/s最大时钟频率：625MHz?扫描深度：56MC400400Mbit/s数字通道24010201～11616最高数据速率：400Mbit/s最大时钟频率：400MHz?扫描深度：14M模拟模块WGD500M任意波形发生器1230分辨率：12bit采样速率：8ksps到500MspsWDD1GHz数字化仪1227分辨率：12bit采样速率：1Msps到320Msps最大带宽：1GHz（采样仪模式）TIA400MHz时隙分析仪1225最高输入频率：400MHz分辨率：0.8ps电源GPDPS通用器件电源4DPS11～14驱动能力：±7V/+8A,-4A?±8V/±4AVbump,IDDQ功能LNDPS超低噪声电源2DPS81～82驱动能力：8V/4A，-8V/-2A输出噪声：-80dBmVbump,IDDQ,交流调制功能