亲爱的读者为客户奉献50年的知识和能力

hongkong|China«editorial»亲爱的读者:我们很荣幸向您介绍我们公司的新杂志《FiSChERSCoPE》，该杂志刊载有关厚度测量、材料分析和检查的消息、动态和信息。当然我们还乐意向您报道Fischer集团的全球业务活动。我们身处经济充满挑战的时代，集中精力发展自已的优势（如优质产品和高效生产工艺）与在激烈的世界竞争中更好地定位企业目标同样重要。我们愿成为您的合作伙伴，以高质量产品和服务为您提供帮助。就这一方面，我们为你提供最新手持式涂层厚度测量设备一览。同时用于我们的X射线荧光仪器的软件也在不断开发中。您将从三遍文章中获知该领域的最新创新。我们期望您能从FiSChERSCoPE中找到有益的信息。不要犹豫，请与我们联系。我们乐意为您的测量项目提供方案支援。WalterMittelholzerSimonNgCEOGeneralManagerHelmutFischerAG总经理(控股)股份有限公司测试仪器（远东）HelmutFischerAG有限公司股份有限公司«closerexamination»为客户奉献50年的知识和能力测试仪器（远东）有限公司于1986年在香港成立，其总部设在香港，是瑞士helmutFischerholdingag公司的全资子公司，业务面向华南地区的制造企业。在华南、菲律宾和越南，菲希尔香港公司是本领域的领先公司，公司在这些地区有直接业务，能够保障其客户的投资安全，因为公司直接负责零部件供应和售后服务。我们提供全系列的产品，这些产品采用X射线荧光、β背散射、磁感应、涡流和电量分析技术进行精确的材料分析、涂层厚度测量和显微硬度测量。当前，菲希尔测试仪器在华南的各个行业领域得到了成功的应用，其中包括汽车和汽车部件、电镀、装饰涂料、珠宝、纯度检测、航空航天、电子、半导体、重工业、研发、实验室和测试实验室等行业领域。我们致力于向我们的客户提供国际品质的产品和服务，帮助他们提高其产品质量、生产效率和增强产品可靠性。我们在华南的所有主要城市都驻有由销售、服务和应用工程师组成的高度专业的团队，为我们的客户提供支持。菲希尔香港公司向其用户提供其母公司所具备的全球优势，同时又具备本地的专业知识。我们是本领域经验最丰富的领先厂商，因为自从于1953年建立以来，我们已经积累了50多年的能力和知识。如欲进一步了解菲希尔的产品和解决方案，请访问或者与我们联系。总经理测试仪器（远东）有限公司SimonNg«informationfrompractice»第四代手提式的FiSChER涂镀层测厚仪全新上市：新系列手提式仪器DELTaSCoPE®FMP10和FMP30iSoSCoPE®FMP10和FMP30DUaLSCoPE®FMP20和FMP40在1985年首先使用在微处理器仪器DELTaSCoPE®MP和iSo-SCoPE®MP，作为FiSChER最成功的产品系列之一，其继承和发展的FMP10、FMP20、FMP30和FMP40系列新型手提式仪器在最近几个月内成功打入全球市场。新颖的外形设计使FMP设备格外出众。在测量模式中，外壳滑块盖住不常使用的操作键。大LCD显示屏可以清楚地显示菜单和操作指示。参见插图1。其外观与2008年初上市的顶级手提式仪器DUaLSCoPE®FMP100相一致，该仪器采用Windows（TM）*CE（*微软注册商标）作为操作系统并通过时尚的触摸屏进行操作。与以前舊款仪器一样，基本型仪器FMP10和FMP20和带有高级功能的仪器FMP30和FMP40在配置上是有所差别。相关信息参见表1。经过考虑，新一代FMP仪器与之前型号MP在操作理念上没有分別，在测量仪器使用上，用户可发现操作键位置及方式是大致相同，可立即适应。应用范围DELTaSCoPE®可以测量钢铁上的非鐵性金属涂层（铬、铜、锌等）以及漆油、塑料等的涂层厚度。iSoSCoPE®应用于有鐵性金属和非磁化的不锈钢上的漆油和塑料涂层以及铝上的阳极氧化层的厚度。另外也可应用于绝缘材料上的非磁性金属层（铜、锡和锌等）。DU-aLSCoPE®集DELTaSCoPE®和ISOSCOPE®的功能于一身（基本材料自动確認）。最佳组合：FMP系列仪器和新型F系列探测仪器随着FMP系列手提式仪器的发展，磁感应仪器、电涡流仪器以及磁感应和电涡流两用仪器（DUaL或DUPLEX）及配合大量不同型號的F測量頭，便可以應用於很多不同的測量要求。也同样发生变化。表1：FMP手提式系列仪器的重要新特征或改进*功能仪器规格新硬件-FMP优点可储存应用程式分析、统计测量方式基本仪器：DELTaSCoPE®FMP10iSoSCoPE®FMP10DUaLSCoPE®FMP2050小时运行时间(4x1.5V)USB数据接口*1改良了在使用標準片校正時的用戶操作指示。純文字菜单。*独立测量值采纳自由滚动显示最重要的统计参数：数量N；平均值；标准偏差；變動率；最小；最大、範圍高级仪器：DELTaSCoPE®FMP30iSoSCoPE®FMP30DUaLSCoPE®FMP4050小时运行时间(4x1.5V)数据和打印机USB数据和打印机的接口*最大100（可在4000測量数組中最多20000测量数值）*改良了在使用標準片校正時的用戶操作指示。純文字菜单。*独立测量值采纳自由滚动i-独立测量平均值的保存矩阵模式显示最重要的统计参数：数量N；平均值；标准偏差；變動率；最小值；最大、範圍，其它特殊参数：公差控制面积测量*自动测量*LCD显示屏（矩阵图）*插图1：带FD10测量頭的DUaLSCoPE®FMP40自带嵌入式仪器座（橙黄色）的外壳设计。外壳滑块打开（左）和关闭（右）。图形显示屏上的矩阵图。在股票市场强烈波动时，投资贵金属极具吸引力，检测金属的组成和纯度变得非常重要。对此，有四种不同的方法可用：•试金石检测法：该法主要步骤是，先在石板上刮被测物体，然后使用酸对刮落物进行处理，最后根据与参照物的颜色比较来判断金的含量。•提纯法：将样本包在铅内，然后熔化。通过氧化，从熔液中分离出金与其它元素。•原子发射光谱法(iCP-oES)：汽化样本并在6000-8000°C温度中加热。测量产生的光，确定其中的合金浓度。•Ｘ-射线荧光分析法：该法是通过Ｘ-射线照射检测物并激发出荧光。测量荧光辐射，确定合金浓度或可能存在的涂镀层厚度。因为提纯法和iCP-oES会对检测物造成部分或整体损毁，所以上述两种方法不适用检测珠宝或钱币。在时间紧迫时，可以选择精确而无损的性测量方法----Ｘ射线荧光分析法(RFa)。应用RFA法存在一个难题，即针对测量物体选择正确的测量程式，特别是当进行需要校准程序的测量，例如：测量对象为18k合金上镀铑，如用程序925银上镀铑来测量，便不能得到最佳结果。尤其当涂层样本不明时，使用正确的测量程序一般是无法实现的。測量頭采用复杂技术制造而成，使用寿命长。F測量頭放置于接触测量物上方，发出测量信号。正确选择测量頭是决定测量问题解决的關鍵因素–即可以有一個稳定、準確的厚度测量。每一个FiSChER測量頭的组件、EEPRoM内存芯片、电缆和插头组成。F測量頭是設計給FMP系列儀器使用的測量頭，具有一个新的、耐用的連接插头。使用F測量頭时，測量頭本身內的EEPRoM內永存了1条出廠時廠家的主校准曲线，及客戶可以自建客戶產品做出來的主校准曲线，并將系数将存储在EEPRoM内存芯片内，當客戶自建的主校准曲线不存在時，測量頭便自動回覆使用出廠時廠家的主校准曲线。新型F測量頭技术的重要进步在于：经过精心和深入的改进，在获取组件主校准时（借助激光支持、特殊的精度主标准或创新性的数学补偿法），所形成的主校准曲线几乎接近事实，也就是说达到了前所未有的精确程度。在这种情况下，系统測量偏差Us小于已知厚度的偏差。测量值偏差Us为质量特征，表示用F測量頭內的主校准曲线來計算测量信号後出來的厚度。根据Din1319，测量误差U定义為则Uz為随机测量偏差。该定义的结果证明，校准曲线精确性较高時，系统测量值偏差Us會较小，，這樣测量误差u也會较小。具体而言，測量頭的主校淮曲线的下部（小于5µm涂镀层厚度）与上部（大于1000µm涂镀层厚度）所形成的系统测量偏差Us會较小。该结论适用于标准測量頭EgaB与新型測量頭FgaB的比较。按照磁感应法或电涡流法进行的涂镀层厚度测量多種解决方案取决于测量頭的选择是否合适。一般来讲，正确的測量頭选择将直接影响测量的准确性和重复精度。选择测量頭时，建议考虑FISCHER的派驻代表和应用专家的专业建议。WinfriedStaib博士插图2：带FgaB1.3测量頭的DELTaSCoPE®FMP30。锌/钢或漆/钢（水平物体）和铬/钢（圆柱体）«informationfrompractice»在黄金测量时采用材料组份分析法FISCHERSCOPE®X-RayXAN120现在6.20版的WinFTM®升级到6.21版本，可以将宝石材料更准确地在预设在物料类别中分类。在图2的示例中，根据光谱检测识别含铑白金（au、ag、Cu和Pd）。识别系数、标准说明物料类别与光谱的符合性，只有当样本与显示区所示状态相符时，值为零。在下部边缘，可看到相关测量项目的产品程序，物料类别的选择性尤为显著；因为镀铑涂层厚度为0.1µm、合金中镍含量为2%，所以“Rh/14k白金-niPd”物料类别与所发现物质不同，通过检测指数，被完全排除。借助物料类别，分析贵金属便更加容易，避免了选择错误产品程序来测量，预防错误发生。JensKessler博士图2：物料类别的分析窗口。被测样本确定为14k含钯无镍白金，但是无铑涂层（检测指数为零）。其它所有类别都有一个指数。指数大于5，因此被排除。表2说明了划分原因。测量方法耗时可实现最小测量误差试金石检测法分钟10–20‰提纯法小时0,3–1‰iCP-oES小时2–3‰RFa分钟0,5–2‰表1：贵金属检测方法一览类别名称(MC)划分依据含钯14k白金正确MC含钯14k白金、镀铑样本未镀铑14k金（黄、绿或粉红）MC中未定义铑含镍和钯14k白金样本中不含镍含镍和钯14k白金、镀铑样本不含镍、样本未镀铑含镉18k金样本中无镉、MC中无钯、MC中金含量过高表2：图2中前6个类别排序依据图1：贵金属材质的珠宝和钱币，必须使用非破坏性测量方法进行检测。通过在真空中采用Ｘ-射线荧光分析法，检测出金戒指上的蓝石为人造蓝宝石。因为应用范围广，所以在电子连接技术中存在大量制造触点的技术（图1）。最终，通过这些技术，可以优化相应应用中的重要参数，如电子接触电阻或机械强度。为实现这些目标，通常在触点材料母体金属上涂上一种或多种金属涂镀层。这些涂镀层的厚度是触点性能的一个重要参数。在生产金属触点时，测量涂镀层厚度是工艺控制和质量控制的核心内容。BasematerialCoatinglayerCuCuSnCuZnCuFeFeNiFeCrNi…SnSn/CuSn/CuSnSn/CuZnSn/CuFeSn/FeNiSn/FeCrNiSn/…SnPbSnPb/CuSnPb/CuSnSnPb/CuZnSnPb/CuFeSnPb/FeNiSnPb/FeCrNiSnPb/…Sn/NiSn/Ni/CuSn/Ni/CuSnSn/Ni/CuZnSn/Ni/CuFeSn/Ni/FeNiSn/Ni/FeCrNiSn/Ni/…SnPb/NiSnPb/Ni/CuSnPb/Ni/CuSnSnPb/Ni/CuZnSnPb/Ni/CuFeSnPb/Ni/FeNiSnPb/Ni/FeCrNiSnPb/Ni/…AgAg/CuAg/CuSnAg/CuZnAg/CuFeAg/FeNiAg/FeCrNiAg/…AuAu/CuAu/CuSnAu/CuZnAu/CuFeAu/FeNiAu/FeCrNiAu/…Au/NiAu/Ni/CuAu/Ni/CuSnAu/Ni/CuZnAu/Ni/CuFeAu/Ni/FeNiAu/Ni/FeCrNiAu/Ni/…Au/PdNiAu/PdNi/CuAu/