田口方法品质工程

Lite-ONITCorp.LITEONLITEONGROUPVisit:田口方法介紹(TaguchiMethodology)Lite-ONITCorp.LITEONLITEONGROUPVisit:田口方法的由來:1.它是一個學術用語(田口方法)是一位田口玄一博士所開發的,並于1981年以後田口博士于美國幾個大企業輔導後,開始陸續出現此名詞,並風糜全球.2.品質工程田口方法是一種技術的觀點來討論及改善問題,而不是科學的研究及統計的理念.實驗計劃品質工程田口方法Lite-ONITCorp.LITEONLITEONGROUPVisit:田口方法的應用:1.技術開發2.產品設計3.制程設計4.生產管制生產線外品質工程系統設計參數設計允差設計量測器具的校正系統生產線上品質工程利用計量值的控制制程的診斷與調節回饋系統的設計與管制預防保養規格,安全與檢查設計Lite-ONITCorp.LITEONLITEONGROUPVisit:田口方法專業內容涵括:損失函數與允差直交表參數設計SN(倍噪比)計數分類值的參數設計技術開發與穩健性設計Lite-ONITCorp.LITEONLITEONGROUPVisit:我們將選擇一種對我們非常有幫助的“直交表”法進行討論:兩個名詞:因子:Factor,一件事物中之幾個要素.如:溫度,壓力,電壓.水準:Level,一個因子含有幾種不同的表征.如,電壓:15V,16V,14V.Lite-ONITCorp.LITEONLITEONGROUPVisit:多元配置:A4部机器,B3种彈簧,C2种加工方法.Lite-ONITCorp.LITEONLITEONGROUPVisit:拉丁方格:A:2*2B:3*3B1B2A1A2ABB1B2B3A1C1C2C3A2C2C3C1A3C3C1C2AB231123312123231312213321132Lite-ONITCorp.LITEONLITEONGROUPVisit:*2拉丁方格實例:一CD-ROM厂之客戶反應其產品在不同的溫度下進行功能測試,CD-ROM的傳輸速率會不一樣.,經該厂工程人員初步分析可能与環境溫度及測試電壓有關.B(5℃)B(45℃)A(4.75v)55006320A(5.25v)62006021ABLite-ONITCorp.LITEONLITEONGROUPVisit:案例:某CD-ROM生產線F/T測試站發現最近傳輸速率達不到規格的不良品明顯增多,怀疑可能因素有DISC受溫度影響.,PUH,測試電壓,用田口法分析如下.1.定義品質特性Y--傳輸速率愈大愈好.2.訂出影響Y因子與水準.A.環境溫度-3水準:A1=25℃A2=40℃A3=60℃B.測試電壓-3水準:B1=5VB2=4.75VB3=5.25VC.不同PUH-3水準:C1=SanyoC2=HitachiC3=SonyLite-ONITCorp.LITEONLITEONGROUPVisit:實驗因子搭配Lite-ONITCorp.LITEONLITEONGROUPVisit:選直交表:ABC傳輸速率實驗11(25℃)1(5V)1(Sanyo)7350實驗22(40℃)12(Hitachi)7210實驗33(60℃)13(Sony)7010實驗412(4.75V)37280實驗52217112實驗63224852實驗713(5.25V)27300實驗82336500實驗93317100Ⅰ219302157021562Ⅱ208221924419362Ⅲ189622090020790R296823262200水準Ⅰ水準Ⅱ水準Ⅲ回應表RⅠ+Ⅱ+Ⅲ=總和Lite-ONITCorp.LITEONLITEONGROUPVisit:分析試驗結果:A.Tx-Rate最大為第1個實驗.各因子水準分別為:25DegreeC,5V,SonyPUH,可知最佳搭配與最壞搭已一目了然..B.水準和的計算方法:Ⅰ=?,Ⅱ=?,Ⅲ=?C.R代表不同級差:級差大的因子意味著它選取不同水準對于TX-Rate影響較大,一般而言它就是為重要因子,而級差小的因子可能是最不重要的因子.R的計算方法=水準和最大值-水準和最小值Lite-ONITCorp.LITEONLITEONGROUPVisit:田口方法之作業步驟:1.選取品質特性,探討實驗要改善之Y.2.訂出影響Y之因子與水準值.3.選直交表,安排實驗,獲得實驗數據值.4.分析實驗數據,選擇最佳組合條件,並作確認實驗.田口方法之注意點:1.最好能使誤差因子复合為1,2個或最多三個.2.誤差因子可按其影響的程度及實驗目的來確定.3.一般選擇2個水準.田口方法之特色:1.采用直交表之方法分析各因子不同水準間試驗數據總和之比較,可將復雜的問題簡單化,使一般技術人員都能接受和使用.2.對參數之設定最佳化可達到明了化的效果.