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计算机控制实验注意事项:1、硬件接线如下:O1接环节输入,中间环节输出接I1,如果两路AD和DA同时使用,接线按照实验指导书,中间环节电路中的锁零G接到-15V。2、按下“启动暂停”按键程序开始运行,再次按下该按键程序暂停。3、测试信号设置选项框中可以设置发出的波形的种类、幅值、频率、占空比、采样开关T、采样时间。4、深度选项可以设定图形显示控件存储历史数据的深度。5、下端的参数设置可以设置实验的响应参数。6、按下退出按键程序退出。实验一:A/D、D/A转换1.量化实验:a、实验接线,实验箱上信号源部分的斜波信号接到I1,I2接O1。b、打开LabVIEW软件参考程序实验一.VI。c、R0=R1=R2=R3=R4=100K。d、锁零接-15V2.两路互为倒相的周期斜波信号的产生:a、模拟电路如下图1.1所示。b、实验接线如图所示,其中R0=R1=R2=R3=R4=100K。O1为周期斜波信号,O2为偏置值,I1,I2互为倒相的周期信号。c、锁零接-15V。d、打开LabVIEW软件参考程序实验一.VI。3.测试信号的发生:a、实验接线,O1接I1。b、打开LabVIEW软件参考程序实验一.VI,分别通过测试信号选项栏来改变信号发生类型,分别为正弦波、方波、斜波、和抛物线四种波形。R2O2R1+O1R0-图1.3+R3+-+R4I2I1图2.1R2尖脉冲干扰正弦信号R1+R0-++R3R4-+实验二:数字滤波1.模拟电路如图2.1所示。2.实验接线,O1接图2.1中的正弦信号端,O2接尖脉冲干扰端,In接I1端,其中R0=R1=R2=R3=R4=100K。3.锁零接-15V。4.参考LabVIEW软件参考程序实验二,包括随机干扰信号和方波干扰信号的参考程序和高阶滤波参考程序。实验三:D(S)离散化方法的研究1.连续系统串联校正及动态性能,此实验在自控理论实验中完成。2.计算机闭环控制系统的混合仿真。a、模拟电路如下图3.3所示。b、实验接线,O1接Om,In接I1。c、锁零接-15V。d、打开LabVIEW软件参考程序实验三.VI。图3.3++Om100k500k1u-200k++-1uIn图3.4R(t)e(t)D(z)Z.0.HG(s)y(t)实验四:数字PID控制算法的研究1.模拟电路如图4.1所示。2.实验接线,O1接Om,In接I1。3.锁零接-15V。4.R0=100k,R1=500k,C1=2u,R2=200k,R3=500k,C2=1u。5.打开LabVIEW软件参考程序实验四,数字PID控制器的参数整定,可以通过KP、TI、TD进行修改,观测对系统动态性能的影响。InOm图4.1++R0R1-C1R2++C2R3-R(t)e(t)e(k)PIDG(s)图4.2Z.0.Hu(k)y(t)实验五:串级控制的算法研究1.模拟电路如图5.1所示。2.实验接线,O1接Om,I1、I2分别接A/D采样通道I1、I2。3.常规数字算法运行LabVIEW软件参考程序实验五;逐步整定法。具体参见实验指导书。4.锁零接-15V。5.R0=R1=R2=R3=100K,R4=200K,C1=3UF,C2=C3=1UF,R=15K。y(k)+C2C1D1(z)e(k)OmR0R(t)-R3++R1-R2++R4C3-+D2(z)u(k)图5.1Z.0.H0.05s+15+RR-+I1I2s12s+14I2I1y(t)图5.2实验六:解耦控制的算法研究1.模拟电路如图6.2所示。2.实验接线也如6.2图所示。3.锁零接-15V。4.R0=R1=100k,R2=R3=500k,C1=1uF,R4=R5=R6=R7=100k,C2=1uF,R8=200k。5.运行LabVIEW软件参考程序实验六,比较A/D采样两通道波形解耦前后情况,方法如下:改变一路A/D电路中参数值,观测另一路A/D信号是否变化;如果变化很小解耦作用就达到,同样也可以改变软件上的参数,即改变任一路数字PID调节器,观测另一路波形变化情况。如果在实验中,效果不好,可以对程序中的Km1,Km2进行修改。O2++I2图6.2++O1R4R5-C2++R0R1-I1R2R8R6-+R7+C1R3-r2(t)r1(t)u2(t)e2(t)PID2PID1e1(t)u1(t)M1(t)M2(t)图6.4G22D21(s)D12(s)G21G12G11c2(t)c1(t)实验七:最少拍控制的研究1.模拟电路如图7.1所示。2.实验接线,O1接Om,I1接In,其中R0=100K,R1=100K,C1=C2=1UF。3.锁零接-15V。4.运行LabVIEW软件参考程序实验七,在程序中选择不同的输入波形,观测输出波形,在实验当中,可以调节程序中T1、T、K参数值,然后再次运行程序。InOm图7.1++R0R1-C1R2++C2-图7.2r(t)e(t)D(z)e(k)Z.0.HG(s)y(t)实验八:具有纯滞后系统的大林控制1.模拟电路如图8.1所示。2.实验接线,O1接Om,I1接In,其中R=R0=100K,R1=510K,C1=2UF,3.锁零接-15V。4.运行LabVIEW软件参考程序实验八,改变程序中的T0,TI,T,K参数,观测系统动态变化。InOm图8.1++R0R1-C1R++-Re(k)e(t)r(t)D(z)T1s+1图8.2Z.0.Hke-nTsy(t)实验九:线性离散系统全状态反馈控制1.模拟电路如图9.2所示。2.实验接线,O1接Om,I1接X1,I2接X2,此时I2显示反相。3.锁零接-15V。4.R0=R1=100K,C1=10UF,R2=500K,C2=2UF。5.运行LabVIEW软件参考程序实验九,将改变参数K1和K2,然后再次运行程序,参考值K1=-1.48,K2=-1.04。u(t)图9.1e(k)k1k2e(t)Z.0.Hs+11x2x1s1y(t)C1R1图9.2A/D控制器OmA/DD/AR0+--x2+R2+-+C2x1实验十:二维模糊控制器1.模拟电路如图10.1,10.2,10.3所示,控制结构图如图10.4。2.实验接线,O1接Om,I1接In。3.锁零接-15V。4.R0=R1=100K,C1=C3=2UF,R2=500K,C2=1UF。5.运行LabVIEW软件参考程序实验九,将改变参数K1和K2,然后再次运行程序,参考值K1=-1.48,K2=-1.04。C1R1OmR0+-R3图10.1+R2+-+C2InC1R1OmR0+-R3图10.2+R2+-+InOmR0++-R2+-C1R1R3C2图10.3+R4++-RC3R5In+-+RZ.0.H图10.4u(k)e(k)e(t)u(t)FuzzyD(z)G(s)e-sy(t)
本文标题:计控实验操作说明
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