薄膜工程-薄膜在CD-RWdisk的应用

薄膜工程-薄膜在CD-RWdisk的應用指導教授:許進明老師報告學生:趙旋凱OutlineCD-RW的基本構造薄膜在元件中之功能與特性各層薄膜的材料CD-RW的燒錄原理薄膜的製作方式參考文獻CD-RW的基本構造CD-RW剖面構造圖(資料來源:中環網站cmc.taiwan.com)薄膜在元件中之功能與特性保護層：保護反射層免於氧化刮傷，作為印刷之底面。反射層：主要是要使打入的雷射光反射回記錄層增加記錄層的吸收。上下介電層：增進記錄層的記錄功效。記錄層：相變型材料構成，這種相變型材料，在受到雷射脈衝的照射後，會因溫度高低及冷卻速度的快慢的不同，而形成結晶態（Crystalline）或非結晶態（Amorphous）。各層薄膜的材料保護層：硬化壓克力樹脂記錄層：相變化型合金反射層：鋁、黃金或銅合金基板：光學級聚碳酸脂塑膠CD-RW的燒錄原理相片化型材料讀寫原理(資料來源:工業材料138期，光學特刊)相變化光碟係採用雷射光照射碟片，使記錄膜材料於結晶相及非晶相結構間轉換，並藉著結晶相的高反射率及非晶相的低反射率以辨識0,1訊號。位元寫入係使用高功率短脈衝照射，使碟片局部熔化，並快速冷卻以形成非晶結構，而位元擦拭則是以低功率雷射脈衝照射，造成碟片局部退火結晶，並以更低功率雷射照射藉以偵測位元反射率以讀取位元。CD-RW之燒錄原理光碟內鍍相變合金屬，多為銀，銦，硒或碲結晶層，為結晶與非結晶狀，由雷射光照射，在兩種狀態間互換，呈現出平面(Land)與凹洞(Pit)效果。相變化之介紹用透明基板上之記錄膜，受雷射光之局部照射升溫、停止照射瞬間降溫工作過程，導致物理結構相變化。結晶相變化具以下特點1.結晶與非晶之相變化。2.可逆式隨溫度相變化。3.不同相位膜層材料反射率不同。4.結晶與非晶化時間快速，短於1OOns。相變化原理非晶態--受熱溫度高於熔點，原子排列不規則狀，再急速冷卻，原子移動速度不足規則化，將維持高溫不規則。結晶狀態--溫度升到結晶溫度上(但低於熔點)慢慢冷卻，原子有足夠動能與時間規則排列。材料之結晶與非結晶相變化薄膜的製作流程參考文獻國立清華大學材料科學工程學系光儲存及遠紅外線感測材料實驗室~lhchou/wel02a2.html上海科文光盤有限公司光洋應用材料科技股份有限公司吉祥全球實業股份有限公司理銘科技光電光電原理報告完畢感謝聆聽