材料分析复习名词解释

一、X射线衍射分析1、二次标识X射线（荧光辐射）：由X射线所激发出来的特征X射线称为荧光辐射。2、XRD:X-rayDiffraction：利用x射线在晶体中的衍射现象来分析材料中的晶体结构、晶格常数、晶格缺陷，不同结构相的含量及内应力的方法。3、光电子：当入射光量子的能量等于或略大于吸收原子某壳层的结合能时，此光量子就很容易被电子吸收，获得能量的电子从内层溢出，成为自由电子称为光电子。4、衍射角：入射线与衍射线之间的夹角称为衍射角。5、俄歇电子：在入射电子激发样品的特征X射线过程中，如果在原子内层电子能级跃迁过程中释放出来的能量并不以X射线的形式发射出去，而是用这部分能量把空位层内的另一个电子发射出去（或使空位层的外层电子发射出去），这个被电离出来的电子称为俄歇电子。6、相干散射：当入射线与原子内收核束缚较紧的电子相遇，光量子能量不足以使原子电离，但电子可在X射线交变电场作用下发生受迫振动，这样的电子就成为一个电磁波发射源，向周围辐射与入射X射线波长相同的辐射，因为各电子所散射的射线波长相同，有可能相互干涉，故称相干散射。二、电子显微分析1、TEM:Transmissionelectronmicroscope透射电子显微镜。采用透过薄膜样品的电子束成像来显示样品内部组织形态与结构。因此它可以在观察样品微观组织形态的同时，对所观察的区域进行晶体结构鉴别（同位分析）。其分辨率可达10−1nm，放大倍数可达106倍。2、SEM:扫描电子显微镜。利用细聚焦电子束在样品表面扫描时激发出来的各种物理信号来调制成像。最常用来观察样品表面形貌（断口等）。分辨率可达1nm，放大倍数可达2X105倍，可以观察样品表面的成分分布情况。3、STM：scanningtunnelingmicroscope扫描隧道显微镜。STM可在真空、大气或液体环境下在实空间内进行原位动态观察样品表面的原子组态，并可直接用于观察样品表面发生的物理或化学反应动态过程及反应中原子迁移过程等。其横向分辨率达0.1nm，纵向分辨率达0.01nm。4、AFM：原子力显微镜。AFM不但可以测量绝缘体表面形貌，达到接近原子分辨，还可以测量表面原子间的力，测量表面的弹性、塑性、硬度、黏着力、摩擦力等性能。5、EDS：Energydispersivespectroscopy能量分散谱仪，简称能谱仪。用来测定X射线特征能量，进行成分分析。6、WDS：Wavedispersivespectroscopy波长分散谱仪，简称波谱仪。用来测定特征X射线波长，进行成分分析。7、背散射电子：由样品中原子核反射出来的入射电子。主要特点：能量很高，有相当部分接近入射电子能量，在试样中产生的范围大，分辨率低。8、衍射衬度：晶体试样在进行TEM观察时，由于各处晶体取向或结构不同，满足布拉格条件的程度不同，使得对应试样下表面处有不同的衍射效果从而在下表面形成一个随位置而变化的衍射振幅分布，这样形成的衬度为衍射衬度。9、EBSD\EBSPEBSD:电子背散射衍射。基于SEM为基础的新技术。通过此技术可以观察到样品的纤维组织结构，同时获得晶体学数据，并进行数据分析。EBSP：电子背散射衍射花样。在SEM中，入射于样品上的电子束与样品作用产生几种不同效应。其中之一就是每一个晶体或晶粒内规则排列的晶格面上产生衍射。三、热分析1、DTA：DifferentialThermalAnalisis差热分析法2、DSC：DifferentialScanningCalorimeter差示扫描量热法3、熔化焓：在一定温度、压力下，物物熔化（由固体转变为液体）过程中吸收的热量，等于过程前后体系焓的增量，故称熔化焓。4、结晶潜热：物质结晶时，在温度不发生变化时吸收或放出的热量。四、光谱分析1、AAS：AtomicAbsorptionSpedroscopy原子吸收分光光度法2、AES：AtomicEmissionSpectroscopy原子发射光谱3、IR：InfraralRadiation红外辐射五、核物理方法及其应用1、ME：MossbauuerEffect穆斯堡尔效应2、NMR：NuclearMagneticResonance