材料分析技术

1、1895年德国物理学家伦琴在研究阴极射线的时候，发现了一种新的射线，简称为X射线，又叫做伦琴射线2、X射线如何产生的？高速运动的电子被物质阻止时，伴随电子动能的消失与转换，从而产生X射线。3、X射线产生的4个条件？（基本原理）a产生自由电子的电子源b阳极靶c阴阳极之间有高压d阴阳极置于高真空中4、X射线的波长范围？0.001~10nm。波长短的称为硬射线，波长长的称为软射线5、X射线谱是指X射线的强度I随波长λ变化的关系曲线6、连续X射线谱的3个实验规律？A）当增加X射线管压时，各种波长射线的相对强度一致增高，最大强度X射线的波长λm和短波限λ0变小B）当管压保持恒定时，增加管流，各种波长X射线的相对强度一致增高，但最大强度X射线的波长λm和短波限λ0保持不变C）改变阳极靶元素时，各种波长的相对强度随靶元素的原子序数增加而增加8、特征X射线如何产生的？对一定元素的靶材，当管电压超过某一临界值V激后，X射线的强度分布曲线会产生显著的变化，即在连续X射线谱的几个波长，强度显著增大。由于这些波长反映了靶材料的特征，因此称为特征X射线。特征X射线取决于阳极靶材的原子序数。10、特征X射线的3个实验规律？A特征X射线产生的条件是管压必须超过V激B每个特征谱线对应一个特定的波长，不同阳极靶元素的特征波长不同。C不同阳极靶元素的原子序数与特征波长之间的关系一一对应，复合莫塞莱定律。11、X射线入射到物质之后，会产生怎样的相互作用？X射线通过物质时，在入射电场的作用下，物质原子中的电子将被迫围绕其平衡位置振动，同时向四周射出与入射X射线波长相同的X射线，称之为经典散射。12、X射线在晶体中发生散射的基本单元是电子。第二章1、X射线在传播过程中，由于波程产生位相差，合成振幅可能出现三种情况，增强，抵消和零2、衍射和反射的区别？AX射线是入射线在晶体中所经过路程上的所有原子散射波干涉的结果，而反射是在物体的极表面层上产生，仅发生在两种介质的界面上。B单色X射线的衍射只有在满足布拉格定律的某几个角度上产生，而可见光的发射可以在任意角度产生。CX射线的衍射效率很低，而反射的效率很高3、X射线的入射与反射线的夹角永远都是2θ4、X射线衍射是大量原子参与的一种散射现象5、布拉格方程的表示式是2dsinθ=λ6、布拉格方程在X射线的衍射中有哪两个实验用途？A计算晶面间距B计算未知X射线的波长7、在X射线衍射实验中，可以通过测定衍射束的方向可以测定晶胞的形状和尺寸8、倒易点阵是一种虚拟点阵9、正点阵中某一基矢的模越大，则倒易点阵中相应的模越小10、倒易点阵的几何意义？A倒易点阵对应于一组平行晶面B点在晶面的公共法线上C点到原点的距离为该组晶面面间距的倒数11、在X射线衍射中，系统消光指的是因原子在晶体中位置不同，或原子种类不同而引起的某些方向上的衍射线消失的现象12、在X射线的衍射中，结构因子的含义包括三个层次，A一个电子对X射线的散射B一个原子对X射线的散射C一个晶胞对X射线的散射第三章1、最基本的衍射实验方法：粉末法，劳厄法，转晶法2、在倒易点阵中，单晶中某组平行晶面对应于一个倒易点3、粉末多晶的某一组平行晶面在空间的分布与在空间绕着所有各种可能方向转动的单晶体中同一组平行晶面在空间的分布是等效的。4、X射线衍射法中粉末粒度会产生怎样的影响？在X射线衍射中，如果粉末的粒度太大，则因参与反射得的晶粒数目减少而使衍射呈不连续的斑点，如果粒度太小，则衍射条变宽。5、X射线德拜-谢勒法中有哪四种底片装置方法？A正装法B倒装法C不对称法D45度对接法6、X射线衍射管要实现需满足的4个技术方面的问题？AX射线的接受装置B衍射强度必须适当加大CX射线衍射线必读聚焦D技术管的移动必须复合布拉格条件7、X射线衍射仪主要通过哪两个机构来实现？AX射线测角仪B辐射探测仪8、X射线衍射几何的关键问题是必须同时满足布拉格方程，同时满足衍射线的聚焦条件第四章1、何谓X射线的物相分析？X射线物相分析是☞利用X射线衍射方法，对试样中由各种元素形成的具有固定结构的化合物（即物相）进行定性或定量的分析2、X射线定性分析的基本依据是什么？任何一种结晶物质都具有特定的晶体结构，在一定波长的X射线的照射下，每种晶体物质都会给出自己特有的衍射花样。每一种物质都会和它的衍射花样一一对应，不可能有两种物质给出相同的衍射花样。3、X射线定性分析的方法是什么？X射线定性分析的方法是将由试样测得的d-I数据组（即衍射花样）与已知结构物质的标准d-I数据组（即标准衍射花样）进行对比，从而鉴定出试样中存在的物相。4、简述X射线定性分析的步骤？A获得衍射花样B计算晶面间距d值和测定相对强度I/I1（I1为最强线的强度）C检索PDF卡片D样品的最后判定5、在进行X射线衍射的定性分析中，晶体的晶面间距d是鉴定物相的主要依据，强度是次要的指标6、何谓X射线的定量分析？X射线衍射的定量分析的基本任务是确定混合物中各相的相对含量7、X射线衍射线条的强度与该相在混合物中相对含量存在怎样的相互关系？强度随着含量的增加而增强8、判断和解释在X射线衍射中是否可以直接测量衍射峰的面积来求物相的浓度？不行。因为X设想的衍射强度除了与物相的浓度有关之外，还和物体的吸收系数有很强的依赖关系。9、X射线的定量分析的方法？外标法，内标法，K值法，直接比较法10、在X射线衍射中，如果不知道各相的质量吸收系数，该如何标定衍射强度I。可以先把纯α相样品的某根衍射线条强度（Iα）0测量出来，再配置几种具有不同α相含量的样品，然后在实验条件完全相同的条件下，分布测出α相含量已知的样品中同一根衍射线条强度Iα。11、常见的测定X射线衍射线净峰强度的方法有哪些？A面积法b积分强度测定法C近似法12、半高法是确定衍射峰峰位的常见方法，解释半高法的定义和具体步骤半高法是以峰高1/2处的峰宽的中点作为衍射峰的位置，定峰过程如下：A连接衍射峰两段平均背底直线abB过衍射峰最高点P做X轴的垂线，交直线ab于P‘点C过PP‘线的中点O‘做ab的平行线，与衍射线交于M、N两点D将MN的中点O作为衍射峰的位置第六章1、何谓电子散射？电子散射是指一束聚焦电子沿着一定方向射到样品上时，在样品物质原子的库伦电场作用下，入射电子的方向发生了改变，这种物理现象叫做电子的散射2、电子的弹性散射和非弹性散射有什么区别？在弹性散射中，电子只改变运动方向，基本上无能量上的变化，而在非弹性散射中，电子不但改变了运动方向，能量也有不同程度的衰减。3、散射角的大小和原子序数、原子的能量和和距核距离有什么联系？原子序数越大，或者原子的能量越小，或原子距核越近，则散射角越大4、高能电子核物质发生相互作用时，主要产生哪些电子信息？二次电子，背散射电子，俄歇电子，特征X射线，吸收电子5、二次电子具有的特点？A对样品表面形貌敏感B空间分辨率高C信号收集效率高6、二次电子的产生的区域时接近表面约10nm以内的区域7、什么时二次电子？二次电子来自哪里？当入射电子与原子发生相互作用时，原子会失去电子变为例子，在这个过程中，脱离原子的电子成为二次电子，所以二次电子来自于北侧样品的原子。8、如果被电离出来的二次电子是来自原子的外层电子，则这种电离过程称为价电子激发；如果被电离出来的二次电子是来自原子的内层电子，则这种电离过程称为芯电子激发。9、二次电子是扫描电子显微镜成像的主要手段。10、什么是背散射电子？入射电子样品中经多次散射后重新逸出样品表面，该类电子称为背散射电子。11、背散射电子有哪些特点？A对样品物质的原子序数敏感B分辨率及信号收集率粉底12、特征X射线和俄歇电子课用于成分分析。第七章1、透射电子显微镜的结构通常包括哪几个组成部分？A电子光学部分B真空系统C供电控制系统2、透镜成像作用可分为哪两个过程？A第一个过程是平行电子遭到物体的散射作用而分裂为各级衍射谱（或简称为由物变换到衍射的过程）；B第二个过程是各级衍射谱经过干涉重新在像平面上会聚成诸像点（或简称为由衍射重新转换为物的过程）3、电子衍射必须遵守的衍射条件和几何关系是：2dsinθ=λ4、在透射电子显微技术中，电镜的相机常数通常采用两种方法测定：金膜测定法和已知晶体测定法6、常见电子衍射谱有哪几种？A单电子衍射谱B多电子衍射谱C多次衍射谱D高级劳厄带斑点E菊池线7、在电子衍射工作中，特别是选区电子衍射中，其主要目的包括两个A确定取向B分析结构第八章1、扫描电子显微镜主要由哪两个部分组成？A电子光学系统B信号收集和显示系统2、扫描电子显微镜中的电子光学系统包括电子枪、电磁透镜、光阑和样品室3、扫描电子显微镜中的信号收集和显示系统主要包括：二次电子和背散射电子收集器；显示系统；吸收电子检测器；特征X射线检测器4、扫描电子显微镜最主要的信号检测器是二次电子和背散射电子收集器5、衡量扫描电子显微镜的三个主要性能包括：放大倍数，景深，分辨率6、扫描电子显微镜最主要的性能指标是分辨率7、在理想情况下，二次电子像的分辨率等于电子束斑直径。因此二次电子分辨率作为衡量扫描电子显微镜性能的主要指标8、在电子显微镜中，背散射电子主要用于测定样品的原子序数9、在电子显微镜中，用于收集特征X射线的探测器通常有两种：波谱仪和能谱仪10、在一个成分未知的样品中，检测激发产生的特征X射线波长（或其光子的能量），可作为其中所含元素的可靠依据。11、用于探测特征X射线的波谱仪主要有分光晶体，X射线探测器组成。12、用于探测特征X射线的波谱仪最主要的优点是波长分辨率高，最主要的缺点是灵敏度低13、常见用于探测特征X射线的半导体探测器能谱仪是锂漂移硅探测器14、电子探针X射线波谱及能谱分析有三种基本方法：点分析，线分析，面分析第九章1、测定俄歇电子的能量，是一种定性分析，用于鉴定原子的种类2、测定俄歇电子的强度，是一种定量分析，用于计算元素的含量3、测定俄歇电子能量峰的位移和形状变化，一种定性分析，用于收集样品表面化学态的信息4、在诸多元素中，有两种元素不能产生俄歇电子：H和He6、跃迁的元素当中，轻元素主要为KLL跃迁，重元素主要为MNN和LMM跃迁7、俄歇电子谱的表示方法包括：直接谱和微分谱8、在俄歇电子谱的表示方法中，微分谱可以凸显较小的俄歇电子峰9、什么叫X射线光电子能谱分析？采用X射线作为激发源，利用电子对X射线的光电效应进行分析的能谱分析方法10、在X射线光电子能谱分析方法中区分光电子峰和俄歇电子峰的方法是：采用不同波长的X射线对样品进行激发，因为光电子的能量受激发光源能量的影响，而俄歇电子的的动能与激发源无关《寒月家的苔丝》喵帕斯~会有萝莉爱上喵~，我是一只猫~好玩吧。。喵。11、在X射线光电子分析中，考虑到谱线的宽度和能量，常用的X射线是Al和Mg的Kα射线，均为未分解的双重线。12、X射线光电子能谱最有特色的分析是样品的表面化学态分析13、X射线光电子能谱如何实现化学态分析的？同一种元素在不同的化合物中，如果化学环境发生了变化，会导致元素内层电子的结合能变化，从而会在谱图中产生化学位移和峰形的变化，这种化学位移和峰形的变化是确定的14、原子探针显微分析区别俄歇电子能谱分析最大的优势是能够直接观察到固体表面的单个原子。呐，这里直接跳了好几章，我也不知道为毛，喵的可能老板欺骗了我，好吧，我现在还没有看这些资料全不全，你先看看，我等会看完再和你说。第十三章1、热分析的定义是在程序控温的条件下，测量物质的物理性质随温度变化的函数关系的一项技术2、高分子材料研究领域常见的热分析技术包括：差热分析，示差扫描量热法，热机械分析（热力学分析）3、何谓差热分析？====差热分析是☞在程序控温下，测量试样与基准参比物之间的温度差与环境温度之间的函数关系的一项分析技术。4、子啊差热分析方法中，常见的参比样品是什么？熔融石英粉，α—Al2O3，MgO5、何谓示差扫描量热法（DSC）？目前发展了哪两种DSC方法？在程序控温下，在相同的环境中，采取热量补偿的方式保持两个量热器皿的平衡，测定试样对热能的吸收和放出的热分析方法。目前发展了功率补偿式DSC和热流式DSC。6、示