AMS2750D中文版

1AMS2750D高温测定1范围：本规范规定了用于热处理的热加工设备的高温测定的要求。它包括温度传感器、仪表、热加工设备、系统精度测试和温度均匀性测试。这些对保证零件或毛料按相关规范热处理是必需的。本规范不适用于加热或中间热加工，除非由材料或工艺规范特别规定。本规范适用于3.6规定的范围的实验室炉子。1.引用文件：在采购订单日期的下述文件的版次的有效性构成了这里规定的本规范范围的一部分。供应商可以按后来的版次文件工作，除非规定了特定的文件版次。当参考文件已经被取消并没有规定替代文件时，应使用最后版次的文件。2.1ASTM出版物:从ASTM,100BarrHarborDrive,P.O.Boxc700,WestConshohochen,PA194282959或获得。ASTME207通过与一个相似EMF-温度性能的参考热元件作比较来测试单个热元件材料的热EMFASTME220用比较技术的热电偶校验ASTME230用于标准热电偶的标准规范和温度-电势（EF）表ASTME608矿物绝缘的金属壳贱金属热电偶ASTME1129热电偶连接线的标准规范2ASTMMNL7数据描述和控制图表分析ASTMMNL12温度测量中的热电偶使用3.技术要求内容章节题目3.1温度传感器3.1.1通用传感器信息3.1.1.1符合要求的传感器合格证3.1.1.2毫伏转换度数3.1.1.3热电偶校验要求3.1.1.4热电偶的使用3.1.1.5延伸导线3.1.1.6线圈-校验要求3.1.1.7线圈-最大允许长度3.1.1.8作为二级标准或SAT传感器的K和E型电偶的再次使用。3.1.1.10一次性贱金属测试电偶“U”公式3.1.2参考标准传感器3.1.3初级标准传感器3.1.4.次级标准传感器3.1.5温度均匀性测试传感器33.1.6系统精度测试传感器3.1.7控制、监控和记录传感器3.1.8负载传感器3.2仪器3.2.4控制、监控和记录仪表3.2.5仪表校验（也见表3）3.2.6仪器记录3.2.7电子记录-仪器3.3热处理设备3.3.1炉子类别（也见表6和7）3.3.1.1A类装置3.3.1.2B类装置3.3.1.3C类装置3.3.1.4D类装置3.3.1.5E类装置3.3.1.6.1装置-冰冷设备3.3.1.6.2装置-淬火系统3.4系统精度测试3.4.2系统精度测试频率（也见表6和7）3.4.3取消系统精度测试3.4.4系统精度测试程序3.4.4.2.1长置测试传感器43.4.4.8可替代的系统精度测试程序3.4.5系统精度测试仪器（也见表1和3）3.4.6记录-系统精度测试3.5炉子温度均匀性检测（TUS）3.5.2多点鉴定操作温度范围3.5.5最初的TUS温度3.5.6定期的TUS温度3.5.7TUS频率（也见表8和9）3.5.8在TUS中的炉子参数3.5.9在TUS传感器插入时的炉子温度3.5.10装载情况3.5.11TUS中的炉子气氛3.5.12TUS中的炉子真空水平3.5.13批生产炉、盐浴炉、可控的温度液体浴和流体床炉3.5.13.1TUS传感器的数量(也见表11)3.5.13.2TUS传感器的放置3.5.13.3TUS数据收集3.5.13.4对盐浴炉、控制的温度液体槽和流体床炉可替代的探测方法3.5.14连续的和半连续的炉子3.5.14.1TUS传感器的数量和放置-测定体积法53.5.14.2TUS传感器的数量-平面法3.5.14.3TUS传感器的放置-平面法3.5.14.4TUS数据收集3.5.15对连续或半连续炉或坩埚炉或马弗炉可替代的TUS方法3.5.15.1探测方法3.5.15.2性能测试3.5.16TUS传感器失效3.5.17TUS通过/失败要求3.5.18对A类或C类装置的热或冷记录传感器的重新归位3.5.19TUS失败3.5.20TUS使用仪器（也见表1和3）3.5.21TUS报告3.5.22正式出版前的TUS3.5.23辐射探测3.6实验室炉子3.7记录4.0质量保证条款表1传感器和传感器校验表2热电偶和延伸导线表3仪表和仪表校验6表4对炉子图表记录仪的分辨率要求表5工作记录仪的打印和进纸速度表6零件炉子分类、装置类型和SAT间隔表7毛料炉子分类、装置类型和SAT间隔表8零件炉子分类、装置类型和TUS间隔表9毛料炉子分类、装置类型和TUS间隔表10允许的校验/测试间隔延长表11要求的TUS传感器数量8.1注释8.2定义3.1温度传感器温度传感器应符合表1和下列要求。对特别应用的例外应列在下面段落中。3.1.1温度应由这里规定的热电偶或其他相等精度或更好精度（最大的允许误差）的热电偶或温度传感器测量。热电偶可以是裸露的或带线的或MIMS（矿物质绝缘的、金属壳）的。除非特别说明，要求对所有的温度传感器材料都适用。在本规范中的“传感器”与“温度传感器”意思相同。源于最初或后续的校验的传感器的校正值可以用于提高温度精度，并当本规范要求时应使用。3.1.1.1校验：传感器应有一个合格证书，标明校验日期、标定的测试温度、实际的测试温度读数、校验技术、和每个校验温度的校正值，7并可追踪到NIST或其他的认可的国际标准。校验技术应符合ASTME220、ASTME207或其他国际标准。3.1.1.2从毫伏到读数或从读数到毫伏的转换应符合ASTME230或其他国际标准。3.1.1.3温度传感器应在适用的温度范围内校验。除了那些在固定点校验以符合ASTMMNL12或其他国际标准外，对所有热电偶校验间隔不超过250℉（140℃）。对K型和E型热电偶，在超过500℉（260℃）使用后，禁止重新校验。禁止使用外推法来计算最高校验温度以上和最低校验温度以下的校正值。3.1.1.4热电偶及其使用：热电偶仅仅用于列在ASTMMNL12表3.1（推荐的保护热电偶的上限温度极限）或表3.5（推荐的保护热电偶的上限温度极限）、ASTME230标6（建议的保护电偶的上限温度）、ASTME608表1（建议的带壳电偶的上限温度）或其他国际标准和传感器供应商推荐的范围内。不符合这些推荐的热电偶的使用，应建立在按本规范表1要求的校验和重新校验的周期的基础上。3.1.1.4.1这里规定的校验周期，无论在时间上、使用的次数上或温度上都是允许的最大范围。可是，符合这些周期并不能减轻使用者保证在特定情况（环境、时间、温度）暴露所产生的过度漂移不发生的责任。使用者应有支持的数据，但不限于SAT、TUS和重新校验的数据，如适用，应有书面程序控制传感器的替换，包括最大使用期限和/或使用次数。3.1.1.5延伸导线的新安装（在这版修订一年之后）应符合ASTME8230或等同的国际标准。延伸导线不能拼接。如果有兼容性，例如热电性能符合相关热电偶类型特点-ASTME1129可以作为园头连接器的指导，允许用连接器、插头、插座和端子板。热电偶成分和延伸导线要求显示在表2。3.1.1.6用校验过的线圈制成的热电偶可以代替个体校验的热电偶。1000英尺（305米）以下，可以在一端取样；超过1000英尺的线圈应在两端取样（见3.1.1.1）。如果每端的校正值在表1范围内，使用两端的平均校正值。3.1.1.6.1适用时，如果在任何温度取样热电偶的最高和最低读数的差超过3.1.1.6.2或3.1.1.6.3的要求，这个校验方法不能用于超过1000英尺（305米）的线圈。3.1.1.6.2对于初级和次级标准热电偶1℉（0.6℃）。3.1.1.6.3对于系统精度测试、温度均匀性测试、控制、监控、记录和负载热电偶2℉（1.1℃）。3.1.1.6.4对不满足3.1.1.6.2或3.1.1.6.3的线圈：3.1.1.6.4.1可以分割线圈长度，直到满足端头到端头的公差在3.1.1.6.2或3.1.1.6.3范围内。3.1.1.6.4.2可以使用来自于线圈的单个的电偶，如果它们按表1校验过。3.1.1.7校验时，一个线圈的线/览的最大数量：初级标准传感器——200英尺（60米）其他贵金属传感器——2000英尺（610米）9贱金属次级标准传感器——2000英尺（610米）所有的其他贱金属传感器——5000英尺（1525米）3.1.1.8对K型和E型热电偶的再次使用，在超过500℉（260℃）时，其插入的深度应等于或大于以往任何使用时插入的深度。3.1.1.9除非绝缘物保持完整，并且线包括热端没有损坏，否则不能再次使用热电偶。如果缺少部分（包括K型和E型热电偶暴露在500℉（260℃）以上的部分）被修整掉，热端被重新制作，电偶重新校验，损坏的电偶可以挽救。如果挽救的电偶来源于线圈，原始线圈的校验可以代替重新校验。在挽救之前的使用次数应包括在总的热电偶的使用次数之内。3.1.1.10禁止对任何一次性贱金属测试电偶（SAT或TUS）重新校验。允许重新使用，只要下面的公式”U”不超过30。对测试电偶一次使用定义为加热和冷却的一个循环。U=1200℉（650℃）以下使用的次数+2倍在1200℉（650℃）与1800℉（980℃）之间的使用次数。一次性的贱金属测试电偶应在1800℉（980℃）以上限于使用一次。3.1.1.11在500℉（260℃）以下使用的非一次性的贱金属K型和E型热电偶、J型、N型和所有贵金属测试电偶（SAT或TUS）的校验应按表1。3.1.2参考标准传感器应符合表1。3.1.2.1应使用参考标准传感器和初级标准仪器校验初级标准传感器。103.1.3初级标准传感器应符合表1。3.1.3.1应使用初级标准传感器和初级标准仪器校验次级标准传感器。3.1.4次级标准传感器用符合表1。3.1.4.1仅限于对温度均匀性、系统精度、控制、监控、记录和负载传感器的校验。3.1.5温度均匀性传感器应符合表1。3.1.5.1除了3.1.5.2的规定外，温度均匀性检测传感器应用初级或次级标准仪器和一个初级或次级标准传感器按表1进行校验。对热电偶的再次使用的限制见3.1.1.8和3.1.1.9。禁止对暴露在500℉（260℃）以上温度的K型和E型热电偶重新校验。3.1.5.2那些在测试中或在测试间保留在一个架子上并被保护（1）仅在1200℉（650℃）以下使用，（2）被标识，（3）储存/防护以避免损伤（例如卷曲、过度的潮气接触、腐蚀等）的一次性贱金属TUS电偶，可以在3.1.1.9和3.1.1.10的限制内再次使用。装在架子上并仅在1200℉（650℃）以下使用的非一次性贱金属TUS电偶，其使用不超过90次或3年，以先到的为准。3.1.6系统精度测试传感器应符合表1。3.1.6.1SAT传感器应用初级或次级标准仪器和一个初级或次级标准传感器按表1进行校验。对热电偶的再次使用的限制见3.1.1.8、3.1.1.9和3.1.1.10。禁止对暴露在500℉（260℃）以上温度的K型和E型热电偶重新校验。113.1.7控制、监控和记录传感器应符合表1。在3.1.1.9和3.1.1.10的限制下，可以使用一次性电偶。3.1.7.1控制、监控和记录传感器应被安装在热处理设备工作区内，或尽可能靠近控制和/或监控温度，并与控制/监控仪器相连。3.1.7.2当一个负载传感器被作为一个控制传感器使用时：3.1.7.3在使用前应进行校验。禁止对贱金属负载电偶重新校验。（见3.1.8.3）。3.1.7.4一次性电偶当作为控制传感器时仅限于使用一次。3.1.7.5非一次性负载电偶可以用于控制温度，受3.1.8的限制。3.1.8负载传感器应符合表1。3.1.8.1用于零件、模拟零件或毛料的温度测量的负载传感器，应在热处理过程中附着或埋入负载中。3.1.8.2负载传感器可以按3.1.7.2的要求作为控制传感器使用。当一个负载传感器作为一个控制传感器使用时，应没有控制、监控或记录传感器超过允许的最大加工温度。3.1.8.3禁止对贱金属负载电偶重新校验。贵金属电偶的再次校验应是首次使用以后每6个月。3.1.8.4当在1200℉（650℃）或以下使用时，一次性贱金属负载电偶只要满足3.1.1.9的要求可以使用到30次。在1200℉（6