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基于GPIB接口微波内场自动测量系统的设计搭建梁步阁,袁乃昌,王建朋(国防科技大学微波技术发展中心,湖南长沙410073)摘要:讲述了在GPIB接口通信基础上,微波内场自动测量系统的硬件软件设计与搭建基本方案。可以实现天线增益、目标散射界面积等电磁特性的自动测量。特别是给出了一套自行设计的简易测量系统,大大删减了目前通行的测试方案中所要求的硬件设施。关键词:GPIB;微波;自动测量;硬件设施;软件编制1引言由于GPIB(GeneralPurposeInterfaceBus通用接口总线)通信协议的完善与推广,现在绝大多数微波测试仪器都配置有GPIB接口。加上数控技术、计算机通信技术在20世纪90年代以来的迅猛发展,使得微波自动测量在技术上更加成熟。传统的微波内场测试系统可得到很大完善和改进。由于内场测试系统在测量精度、灵敏度上要求较高,系统设计搭建技术性很强,难度大、造价高。且一般多为国外引进系统,由于其技术上的保密造成系统运作期间可维护性较差、也很难得到进一步完善与改进。相关技术资料也较为零散,缺乏系统性。本文结合作者在该领域相关经验,较系统的对内场测量系统设计搭建进行讲述。2系统原理与结构微波内场测量原理大致相同,即通过建筑结构、吸波材料等有效设计在相对较小距离内实现远区场的模拟与测试。图1为Agilent公司技术手册所提供标准微波紧凑场天线测量原理框图[1],需要85320A混频模块两块、射频源、本振源、85309A本振/中频单元等。本文讲述的自行开发系统中,以ADVANTESTR3767CG四端口矢量网络分析仪替代该图中85320A混频模块、射频源、本振源、85309A本振/中频单元等接收装置,直接以1端口接发射天线、2端口接接收天线,实验证实,紧凑场条件下,R3767CG矢量网络分析仪80dB灵敏度完全可满足普通天线测试、目标RCS测试要求,从而使系统硬件设施搭建大大简化,造价大大降低。另外系统包括有步进电机及转台系统一套、控制转台用单片机一个(自行开发)、控制用计算机一台、测量支架多副及微波紧凑场暗室等辅助设施。测得待测天线方向图增益后,再以标准天线进行增益校准,即可获得待测天线方向图及增益。在目标单站RCS测量时,与天线测试稍有不同,待测目标架于反射场平面口径场区测试支架上,收发天线均应放置于反射面馈源位置。通过特殊方法去除收发耦合。测得待测目标RCS粗值后,再以标准球进行校准,即可获得待测目标RCS。图1微波紧凑场天线测试原理框图3GPIB通信协议下的软件编制Agilent公司提供有两种不同的GPIBI/O库:VISA(AgilentVirtualInstrumentSoftwareArchitecture)和SICL(AgilentStandardInstrumentControlLibrary),外加4个IO辅助软件:IOConfig、VISAAssistant、VXIResourceManager和LANServer[2]。VISA库和SICL库实现功能基本相同,大同小异。均支持C/C++、VisualBASIC、VEE软件编译环境,可在Windows95、Windows98、WindowsMe、WindowsNT,以及Windows2000系统下正常运行。但是VISA支持VXIplug&play(VXI即插即用标准协议),故为了系统以后更好的兼容性考虑,作者采用了VISA库。GPIB测量程序编制基本步骤如下:(1)包含“visa.h”头文件,打开RS3767CG矢量网络分析仪GPIB口,设置矢网为REMOTEMODE远程控制模式,取矢网系统默认地址11,基本语句如下[2][3]:ViSessiondefaultRM,vi;……viOpenDefaultRM(&defaultRM);viOpen(defaultRM,GPIB::11::INSTR,VI_NULL,VI_NULL,&vi);viPrintf(vi,OLDCOFF\n);(2)打开串口控制转台。系统转台通过串口接单片机进行控制。在计算机程序中嵌入串口通信控件,MicrosoftCommunicationsControl。添加相应变量和串口事件响应函数。单片机通过P0口控制转台,以汇编语言开发,基本语句如下:电机1的正转控制语句:CONTROL10:MOVP0,#11HACALLDL;延时MOVP0,#13HACALLDLMOVP0,#12HACALLDLMOVP0,#16HACALLDLMOVP0,#14HACALLDLMOVP0,#15HACALLDLDEC42H;一步结束,转数低位减一RET位置信息回送语句:SOUT:CLRTI;发送子程序,子程序3,向微机发送位置码信息MOVA,01HMOVSBUF,ARET(3)结合转台状态,通过单片机向计算机串口回送位置信息。计算机通过GPIB卡远程控制矢量网络分析仪进行同步数据采集和实时处理。基本采样语句如下:charbuf[4096];……for(i=0;im_Pointscount;i++){……viPrintf(vi,@LV=VALUE(%d,0)\n,i*pnumstep);viQueryf(vi,@OUTPUT11;LV\n,%t,buf);DATA1[i]=atof(buf);……}(4)进行数据处理,显示数据结果,画出相关曲线。以及文件存储。图2以天线方向图测量为例简要说明程序基本流程。接串口事件,转台转到预定角度?GPIB测量采集S21值,即天线增益是否转完设置角度?是否是设置测量条件初值,GPIB口、串口初始化否用标准天线进行增益校准画出方向图、显示数据是否开始下一次测量退出图2天线测试程序流程图图3紧凑场暗室反射面4测试方法与数据处理基本算法天线测量比较简单,数据处理也较为简单:矢网端口1接馈源,端口2接待测天线,测得各个方位角上传输参数S21(待测,角度)。再用标准天线增益进行校准,端口2接标准天线,测得各个方位角上传输参数S21(标准,角度),获得其最大增益方向值S21MAX(标准,角度)。则待测天线增益方向图GAIN(待测,角度)计算公式如下:GAIN(待测,角度)=S21(待测,角度)-S21MAX(标准,角度)+GAIN(标准)(1)目标散射RCS(雷达散射界面积)测量较为复杂。分频域、时域两种情况。二者之间可通过傅立叶变换进行计算得出。以下仅对频域测量进行简化讨论。雷达截面RCS是一标量,而多目标散射是电场相干的过程,故其RCS无法直接代数相加减,从雷达方程导出。一般引入,将其视为复数,包括相位与幅度信息。则可直接进行复数相加。对入射波与目标间的相互作用关系的全面描述,可由极化散射矩阵S给出,其将入射场IE、散射电场SE联系起来:ISESE*(2)而S各分量与目标截面积有如下关系:IJIJRS*42(3)其中I、J代表极化方向。在暗室中测量RCS()时,G、、R、IE为定值,SE可测得。且简单认为收发交叉极化时散射接面积为0,即IJ=0(JI时)故(式-3)可简记为标量式:SIEKE**(4)测试架空,以及将球与目标分别放置测试架上,天线接收其散射场分别测得为背景散射0SE、球加背景散射1SE、目标加背景散射SE,已知标准球的精确RCS(0),则目标RCS()可计算得出,其公式如下。20100*SSSSEEEE(5)5系统界面及相关测试结果该测量系统,目前已基本改造完毕,且已投入使用,图3、图4、图5分别给出系统硬件实物照片、测量软件界面及相关典型测量数据。系统完全自主开发,经济实用,满足一般微波天线、目标测量精度要求。图4软件界面图5天线测量显示结果参考文献[1]AgilentTechnologies.Agilent85301B/CAntennaMeasurementSystems45MHzto110GHzConfigurationGuide.[2]AgilentTechnologies.AgilentIOLibrariesInstallationandConfigurationGuideforWindows.[3]AdvantestCorporation.R3752/53/64/65/66/67HSeriesR3765/67GSeriesR3754SeriesNetworkAnalyzerProgrammingMenu.
本文标题:基于GPIB接口微波内场自动测量系统的设计搭建
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