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第一篇X射线荧光分析技术作业1、从应用角度讲,核技术的主要功能有哪些?2、什么是X荧光?试述XRF的工作原理。3、俄歇效应的实质是什么?它对X射线的激发有什么影响?4、吸收限的定义是什么?它对原子的激发和特征X射线的产生有何意义?5、放射性同位素激发源有哪些种类?各有何优缺点?6、在什么情况下必须使用滤片?滤片能否改善探测器的能量分辨率?说明平衡滤片对的工作原理。7、工作曲线的意义是什么?选择标准样品时主要应注意些什么问题?8、试从纯样品X射线照射量率基本公式出发,讨论厚层、薄层样品方法的优缺点。9、什么是基体?什么是基体效应?基体效应一般是指哪些物理过程?10、室内研究和校正基体效应的方法有哪些?试归纳出它们的依据、特点和应用条件。11、现场X射线荧光测量受到哪些限制?12、为什么要选择测量点距?如何选择?13、在采矿、选矿、冶金工作中X射线荧光方法可以完成哪些任务?14、用X射线荧光方法测定厚度应用了X射线荧光的哪些性质?15、用X射线荧光方法测定价态的依据是什么?16、选做题:测量目标元素Cu、Cr(铬)、As(砷)时各用什么元素作平衡滤片对?若滤片直径为60mm,计算滤片厚度。
本文标题:一X射线荧光分析作业
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