RT基础应用

RT考试应用1.发生光电效应几率的实验近似公式为：τ=kρz4λ3，其中K为常数；ρ为（物质密度）；Z为（物质的原子序数）；λ为（射线的波长）射线穿透物质时产生的吸收程度，取决于材料的（原子系数）、（密度）、（厚度）以及射线本身的（波长）2.连续Χ射线总强度可用下式表示：I=（ηoiZV2），连续Χ射线的转换效率公式为η=（ηoZV）.单色窄束射线的半价层厚度约为1/10价层厚度的（0.3）倍；若已知线衰减系数μ，则1/10价层厚度为（2.3/μ）3.γ射线放射性活度与照射量的关系式为X=A·t/KrR2。式中X-（照射量[伦]）；A-（放射性活度[Ci]）；Kr-（照射率常数[mR/h·ci]）；R-（到点源距离[m]）；t-（受照时间[h]）4.常用的γ源Kr常数,对于60Co为Kr=（1.32）；对于192Ir为Kr=（0.472）5.照射量的国际单位是(库仑/千克,C/Kg),专用单位是(伦琴,R),两者的换算关系是(1库仑/千克≈3.877*103伦琴,1伦琴=2.58*10-4库仑/千克)6.吸收剂量的国际单位是(戈瑞,Gy),专用单位是(拉德,rad),两者的换算关系是(1戈瑞=1焦耳/千克=100拉德,1拉德=10-2戈瑞)7.剂量当量的国际单位是(希沃特,Sv),专用单位是(雷姆,rem),两者的换算关系是(1希沃特=1焦耳/千克=100雷姆,1雷姆=10-2希沃特)8.剂量当量H是吸收剂量D与(品质因数Q)与(其他修正因数N)的乘积,数学表达式为H=(DQN),对Χ射线和γ射线防护而言,由于(有关修正因数为1),可以认为吸收剂量与剂量当量(等值)9.当单色窄束X射线通过厚度为d的物质后，表示射线强度衰减规律的公式为：（I=I0e-μd）10.射线与物质作用时，最主要的效应是(光电)效应、(散射)效应、(电子对生成)效应11.X射线的能量取决于（X射线管电压），而γ射线的能量取决于（γ源的种类）12.高能射线是能量在（1）兆电子伏特以上的X射线，采用直线加速器产生的高能X射线与一般X射线相比，它具有（穿透能力强）、（焦点小）、（转换效率高）等特点13.X射线是利用（高速运动的电子撞击金属靶）的方法产生的，它具有（连续X）线谱和（特征X）线谱，γ射线是利用（放射性同位素物质衰变）的方法产生的，它只具有X射线中的后一种线谱14.X射线的能量取决于X光机的（管电压），γ射线的强度取决于（源的种类）15.原子核内的（质子）数相同，而（中子）数不同的元素叫做同位素16.单色、窄束、强度为I0的X射线通过厚度d的材料后的衰减公式为（I=I0e-µd），而对于强度为I0的单色、宽束X射线通过厚度d的材料后的衰减公式为（I=(1+n)I0e-µd）17.X射线、γ射线与物质作用时，可产生（光电）效应、（康普顿(或散射)）效应和（电子对生成）效应，其中（电子对生成）效应只有在光子能量大于（1.02MeV）才会出现18.射线的衰减系数与（射线能量）及照射物质的（原子序数）和（密度）有关19.吸收剂量当量的单位是（雷姆(Rem)），对于X射线、γ射线，因为修正系数等于（1），故吸收剂量当量值与吸收剂量值是（相同）的20.直线加速器的优点是（体积小）和（输出射线强度大），回旋加速器的优点是（焦点尺寸小）21.经Χ射线曝光过的胶片包含两种不同类型的粒度：（胶片）粒度和（量子噪声）引起的粒度22.产生给定胶片密度所需要的伦琴数随射线能量的增加而（增加）；射线能量高到一定数值，上述伦琴数（基本不变），这就是所谓射线胶片的光谱灵敏度24.底片颗粒度的表示为：G=σd/α,式中符号意义：σd（密度均方差）；α（扫描点面积）25.Χ射线能量低于150kV时，由于（吸收系数）变化很快，管电压的选择比较严格；能量在200～400kV时，电压变化约为（30～40）kV才使灵敏度有明显变化；当为2～31MeVΧ射线时，探伤灵敏度（几乎相同）26.(电离室)型监测仪可用来测量直射线、操作区内的散射线等相当高的照射率；（闪烁计数器）可用来探测曝光室之外的泄漏射线；（胶片剂量计）是最典型的个人照射剂量计，可记录在相当长时间内累积的剂量27.对电子加速器产生的Χ射线束，不宜用（铅）或重过滤材料，因在（2～3）MeV时，其质量衰减系数有一最低值28.目前常用的中子源有以下三种：①(同位素中子源)；②(加速器中子源)；③(反应堆中子源)29.X射线照相检测时的工艺参数最重要的是(管电压),(管电流),(曝光时间),(焦距)等30.用棒阳极射线管透照有剩磁的钢管环焊缝时，（聚焦电子）漂移会造成曝光量不稳定31.胶片特性曲线上，某一区域的黑度差没D与（相对曝光量对数的差值）的比值称为该区域的反差系数r32.亚硫酸钠在显影液中起（保护）作用；在定影液中起（保护）作用33.工业用X光机高压的调节通常是通过（自耦变压器）的调节，改变高压发生器中的（初级电压）来实现的，而管电流的调节是通过（电阻）的调节，改变（灯丝变压器）的（初级电压）来实现的34.金属增感屏的增感系数随着材料原子序数的增大而（增大），在试验范围内（金）最大，在管电压较低时（锡）最大35.在某一密度D时的胶片衬度用下式表示：G0=（dD/dlgE）；在两特定密度之间，胶片的平均衬度可表示为G=（△D/△lgE）36.射线照相灵敏度是射线照相（清晰度）和（对比度）两大因素的综合结果37.X射线照相检测时的工艺参数最重要的是(管电压),(管电流),(曝光时间),(焦距)等38..射线辐射防护的三种基本方式是(距离防护),(屏蔽防护),(时间防护)39.按JISZ3104,3105标准规定，用内胶片法，对管子环缝进行照像时，为保证横向裂纹的检出率，当焦距最远时，按普通级要求，最少应照（13）张片子40.为了提高射线照像的对比度，可以采取射线胶片与工件保持适当距离的特殊照像方法，此时（1/[1+n]）值随该距离的增大而增大，（σ）值该距离的增大而减小，因此必须取（σ/[1+n]）值的最大时的最佳距离41.对于厚度差比较大的工件进行一次曝光透照时，可以采用（双胶片）、（分散曝光）、（补偿）等方法，使底片黑度都处于有效黑度范围内42.底片对比度与（工件）对比度和（胶片反差）系数有关43.射线照相的灵敏度由两个指标来确定，即射线底片的（对比）度和（清晰）度44.为了提高射线照像的对比度没D，可以在照相布置时把胶片与工件的距离调整到使（σ/[1+n]）的比值达到最大值45.底片黑度取决于辐射强度和曝光时间的乘积，若曝光量一定时，辐射强度与曝光时间成反比，但采用（荧光增感）方法时，则该反比定律失效46.铅箔增感屏前屏起（增感）、（吸收软射线）作用，后屏主要起（吸收散射线）作用47.在半波自整流电路里加装逆电压降低器的目的是(降低X射线管的逆电压)，在倍压整流电路里起倍压作用的元件是(电容器)48.由于Χ射线照射场内阳极侧和阴极侧（焦点尺寸）和（射线强度分布）不同，因此不能利用整个照射场来透照工件49.射线底片表观对比度与底片对比度的关系式为：△Da=（△D/(1+n')）50.体积状缺陷的可检出性主要取决于射线照相（对比度）细小缺陷的可检出性还取决于胶片的（清晰度）51.裂纹类面状缺陷的可检出性不仅取决于射线照相影像质量的三参数，还取决于缺陷本身的三参数即（深度L）、（宽度W）和（与射线束的角度θ）52.给定γ射线源可透检厚度范围的上限取决于其（能量和强度）下限取决于（灵敏度下降值）53.在Χ射线管窗口加滤板有两大作用（增大厚度宽容度）、（消除边蚀散射54.温度对显影的影响表现为：温度越高时，显影速度越（快），反差越（高），灰雾越（大），颗粒越（大）,温度越低，反差越（低），一般将显影温度控制在（20℃）左右55.用相同条件透照同一容器的环焊缝，采用外照法（射线源在容器外侧）比内照法（射线源在容器内侧）对横向裂纹的检出率要（低），而对单面焊根部裂纹和未焊透（熔入不足）的检出率要（高）56.在X射线检测中，以保证穿透为前提，一般为了提高灵敏度，应尽量选择（低）的管电压，（高）的管电流，（长）焦距，（小）焦点57.影响辐射损伤的因素是（辐射性质）、（剂量）、（剂量率）、（照射方式）、（照射部位）、（照射面积）58.辐射剂量仪可分为（探测器）和（测量装置）两部分59.辐射监测主要是（场所辐射）监测和（个人剂量）监测60.X射线管的管电压是指它的（最大额定工作电压峰值），但在电工测量中，表头指示的是（有效）值61.特殊用途的X光管包括（周向辐射X射线管）、（软X射线管）、（微焦点X射线管）、（棒状阳极X射线管）62.金属陶瓷X射线管与玻璃壳X射线管相比有下面六个优点：（抗震性强，不易破碎）、（金属壳不存在电击穿和表面放电问题）、（管内真空度高，各项电性能好）、（体积小，重量轻，寿命长）、（容易装焊铍或钼窗口以放射软X射线）、（制造工艺简单）63.有的X射线管的阴极头有两组灯丝，可产生（两个大小不同的）焦点，以适应不同的用途64.个人剂量笔给出的是（射线剂量累计照射率）值65辐射防护监测仪器多半是利用射线能使气体物质（电离）的原理制造的66..X射线在大晶粒材料中衍射而引起的一种特殊形式的散射线会使底片上出现（斑点）状影像67..对于一定的射线质量，如果因试样厚度范围太大并且被摄物对比度过大，应采用的修正方法是（提高管电压、在X射线管上放置滤波器，并延长曝光时间）68.实际应用来说，可以认为X射线胶片特性曲线的形状与（X射线或γ射线的线质）无关69透照某工件，已知曝光量达到胶片特性曲线的过渡曝光区，为使底片达到一定黑度，采用缩短显影时间的方法来调整，这将影响底片的（对比度）和（清晰度），并降低底片的（灵敏度）70..影响显影的主要因素为（配方）、（显影温度）、（显影时间）、（显影观察-暗室安全灯）、（显影液老化程度）与（搅动-显影均匀程度）71.金属增感屏靠（二次射线和电子）增感，常用的金属材料是（铅），它的粒度（细），增感系数（小），所得底片清晰度（高）72.同位素源辐射出的伽玛射线能量用（所有辐射能量的平均值）来度量，X射线机辐射出X射线的能量用（电压峰值）来度量73.底片对比度与（工件对比度）和（胶片对比度）有关74.评价一个同位素源时，要看（穿透力）、（半衰期）、（活性）和（源的尺寸）四个方面75..底片对比度与（工件对比度）和（胶片对比度）有关76.在X光机窗口加一层薄的过滤器，其目的主要是（提高平均能量）77..散射线对照相底片的影响主要是降低射线照相的（清晰度）和（对比度）78..试件厚度越大，散射比越（大）79.射线能量越高，μ值越（小）；试件厚度越大，μ值越（小80.射线照相对比度的公式是（△D=-0.434γµσ△d/(1+n)），其中（µ△d/(1+n)）称为主因对比度81.射线底片表观对比度与底片对比度的关系式为：△Da=（△D/(1+n')