SDH电接口参数测试

SDH电接口参数测试1、比特率及容差、接口码型A、指标要求：比特率即二进制信号速率，定义为每单位时间内传送的比特数。实际数字信号的比特率和规定的标称比特率多少有点差别，ITU-T规定了这种差别允许的范围，即容差。见下表1。输入口、输出口都应满足表1要求，输入口满足指能适应相应容差范围内的任何实际比特率，其它参数仍应满足指标；输出口满足指无论上游是何设备，数字信号从输出口送出，其实际比特率应在表1给出的容差之内。接口名称标称比特率（或时钟频率KHz)(Kbits/s)容差（或频率容差Hz）接口码型ppm(bits/s)PDH1次群204850102.4HDB32次群844830253.43次群3436820687.44次群139264152089CMISDHSTM-1e155520203110.4/表1：比特率及容差、接口码型指标要求B、测试基本框图：图1：比特率及容差测试框图C、测试步骤：（1）、输入口比特率及容差：---按图1接好电路，配置SDH测试设备使之产生相应表1的比特率及码型，使系统正常运行，确认SDH测试设备检测不到任何误码；---减少SDH测试设备的输出信号比特率，直到SDH测试设备刚好检测到任何误码的临界点，记下此时的频偏值（如到测试设备频偏设置的极限仍无误码，则记下此极限值）；---增加SDH测试设备的输出信号比特率，重复上一步骤；---记录下的频偏值必须超过表1中的容差限值；---更换其它输入口重复以上测试步骤。（2）、输出口数字信号比特率：---按图1接好电路，配置SDH测试设备使之产生相应表1的比特率及码型，使系统正常运行；---确认SDH测试设备的输出信号比特率无频偏，测试此时接收到的信号比特率频偏，其值应在表1所示容差限之内；---更换其它输入口重复以上测试步骤。2、出口信号波形A、指标要求：实际工作条件下，输出口通过电缆连接在数字配线架（DDF）上，由于电缆长度和阻抗等不确定因素，无法规范实际工作的输出口信号波形参数指标。现在的输出口信号波形各参数都是在输出口终结规定的测试负载阻抗条件下所规定的指标，各级数字接口的输出口指标应符合表2的要求。比特率（Kbit/s）2048844834368139264155520脉冲形状矩形，应满足相应的脉冲模板负载阻抗7575757575传号（脉冲）峰值电压2.37V2.37V1.0V峰-峰电压10.1V峰-峰电压10.1V空号（无脉冲）峰值电压00.237V00.237V00.1V//标称脉冲宽度244ns59ns14.55ns升时间2ns上升时间2nsB、试用滤波器和探头要求：测试用滤波器的带宽要能覆盖被测信号，探头阻抗要高，电容要小，具体要求见表3。接口标称比特率（Kbit/s）Y轴下降3dB上限频率(MHz)固定阻抗（低阻输入）()低电容高阻抗探头耦合方式工作频段(MHz)输入阻抗（输入电阻及并联电容）204860/06010M,20pf直流(DC)84481505001505k,20pf直流(DC)343683505003505k,20pf直流(DC)1392645005005005k,1.0pf交流(AC)耦合电容0.01uf1555205005005005k,1.0pf交流(AC)耦合电容0.01uf2048kHz同步信号接口60/06010M,20pf直流(DC)表3：接口测试用滤波器和探头要求C、测试基本框图：D、测试步骤：---按表3选择示波器和探头，按测试框图接好电路；---将测试负载阻抗（75电阻，误差小于0.5%）或75/50阻抗变换器（若不用低电容高阻抗探头时）的75侧接到待测的输出口上；---先校准零基线，方法是不给示波器送信号（输入端短路），将水平扫描线调到屏幕适当的位置（模板的标称0伏线）处；---将被测信号送入示波器，读出表2中各参数，应满足相应的指标；---对于139264和155520Kbit/s输出口，注意示波器用交流耦合（AC）方式。CMI码的幅度中线和示波器的零基线之差应不超过0.05V。3、阻抗和反射衰减A、指标要求：输入口或输出口的实际阻抗与标称阻抗的差异用反射衰减规定，它表示接口失配时反射造成的能量损失，又称回波损耗。相应各数字接口的反射衰减指标见下表4：接口比特率(Kbit/s)测试频率范围(KHz)标称阻抗反射衰减2048输入口51.2102.4102.420482048307275或12075或12075或12012dB18dB14dB2048KHz同步信号输入口204875或12015dB8448输入口211.2422.4422.4844884481267275757512dB18dB14dB34368输入口859.21718.41718.434368343685155275757512dB18dB14dB139264输入口和输出口70002100007515dB155520输入口和输出口80002400007515dB表4：接口阻抗特性指标B、基本测试框图：图3：阻抗和反射衰减测试配置C、测试步骤：---按图3接好电路，振荡器的阻抗按反射桥的要求设置，输出电平0dB，频率在表4相应的范围内。电平表阻抗按反射桥的要求设置；---先将待测接口与反射桥完全断开，此时电平表指示电平为P1（dB）；---将待测接口接在反射桥上，此时电平表指示电平为P2（dB）；---反射衰减b=P1-P2，其值应满足表4的要求；---改变频率，重复以上步骤，可得到整个频率范围内的b。注意：连接被测接口和反射桥的电缆要尽量短。YB536-92规定，2048Kbit/s及更低速率接口测试所用电缆在10MHz的衰减不得超过0.5dB，8448Kbit/s及更高速率接口测试所用电缆在200MHz的衰减不得超过0.2dB，这样才能使测得的结果准确。4、输入口允许衰减和抗干扰能力A、指标要求：连接输出口和输入口的电缆和数字配线架会引入衰减，对于减弱的信号，输入口应能正确接收，输入口的这种特性用允许的衰减范围表示。另外，由于数字配线架和输出口阻抗不均匀性，在接口上可能呈现信号反射，反射信号对有用信号形成干扰，因此必须保证输入口有足够的抗干扰能力。其指标要求见下表5：比特率允许衰减抗干扰能力标称值(Kbit/s)容差(bit/s)测试频率(kHz)衰减范围(dB)信号/干扰(dB)干扰源(PRBS)2048102.410240618215-18448253.442240620215-134368687.41714801220223-1139264208970000012/1555203110.478000012.72048kHz同步信号接口/204806B、测试基本框图：见下图4。C、测试步骤：---按图4接好电路，仪表参数按表5设置；---调整干扰支路衰减器，使信号/干扰比等于表5所要求的数值；---SDH测试设备设置相应的速率、码型，连接电缆衰减接近0dB时，SDH测试设备应检测不到误码；---在SDH测试设备速率有偏差（范围不超过表5所给容差），连接电缆衰减增大（范围不超过表5所给衰减范围）的不利条件下，SDH测试设备仍应检测不到误码。图4：输入口允许衰减和抗干扰能力测试配置5、过压保护要求通过比较输入口经标准闪电脉冲冲击前后各项指标的测试结果，检验闪电脉冲冲击后输入口是否损坏。由于该项试验带有一定的破坏性，一般作为抽测项目，维护测试中一般不作要求，此出不再繁述。6、输入口容许抖动容限输入口抖动容限指标及测试方法详见第五部分《传输性能测试---抖动测试》。7、输出口输出信号最大峰峰抖动输出口输出信号最大峰峰抖动指标及测试方法详见第五部分《传输性能测试---抖动测试》。