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1/14Twyman-Green干涉实验实验者:何杰勇(-------)合作者:--(中山大学理工学院,光信息科学与技术11级1班B13)2014年3月13日【实验目的】1.了解激光干涉测量,及其数字干涉技术的原理、方法、特点和应用场合。2.掌握微米和亚微米量级位移量的激光干涉测量方法及应用场合。3.实测一个平面光学零件的表面形貌。4.了解光学系统波差PSF及调制传递函数MTF的基本物理概念。5.掌握利用干涉法测量波差,求MTF的基本方法,及PSF、MTF的评价方法。【实验仪器】激光器、反射镜、物镜、半反射镜、成像透镜、CMOS光电探测器、波差测试试件。【实验原理】1.精密位移量的激光干涉测量方法本实验采用Twyman-Green干涉仪是著名的迈克尔逊白光干涉仪的变形。与后者相比,它具有以下特点:(1)它使用两列平面波进行干涉,相干得到等厚干涉条纹(2)Twyman-Green干涉仪只能使用单色光源。(3)Twyman-Green干涉仪的参考光束和测试光束经过成像透镜聚焦后,受光阑限制,观察者的位置固定。利用Twyman-Green干涉仪可以研究反射或透射光学元件的表面形貌或波面形状,其原理图如图1所示2/14为了研究反射物表面形貌或其与标准平面镜的偏差,将反射物放在干涉仪的一支光路上。本实验用He-Ne激光器做光源。激光通过扩束准直系统形成平面波,入射至半反射镜,此平面波可表示为:()ikzUzAe(1)此平面波经半半反射镜后一分为二,一束射向参考镜M1,被反射后成为参考光束。()RiRzRRUAe(2)另一束透射过半反射镜,经测量镜M2反射后,成为待测光束。()TitzTTUAe(3)此二束光在半反射镜上重新相遇,由于激光的相干性,因而产生干涉条纹。当成像质量足够高时,干涉场的变化取决于待测反射物M2的实像与参考反射镜M1被半反射镜重现的虚像M1’间的夹角。当较小,有sin≈,则可求得干涉条纹的光强为:0(,)2(1cos2)IxyIkl(4)式中0I为激光光强,l为参考光束与待测光束间的光程差:RTlzz。略去大气影响,且两支光路光程相差不大时,则干涉条纹移动数N与光程差l存在以下关系:/2lN(5)光程差增大时,干涉条纹向干涉级次低的方向移动;反之,向级次高的方向移动。通过记录干涉条3/14纹移动的数目,在已知激光波长的情况下,由上式可得出反射镜的轴向位移量L。2.数字干涉测量技术数字干涉测量技术是一种波面位相的实时检测技术。此方法同时检测被检波面上的多个点的光强后进行傅立叶展开,且在光强变化的周期内对同一坐标上的点进行多次测量,在对多个周期的测量数据求平均值。其原理图如图2所示实验系统中参考镜M1镜由压电陶瓷驱动,产生周期性的轴向振动。设参考镜的瞬时位移为li,被测表面的形貌为w(x,y),则参考光路和测试光路可分别用下式表示:exp[2()]RRiUAikLl(6)exp{2[(,)]}TTUAikLwxy(7)相干产生干涉条纹的瞬时光强为:22(,,)2cos2[(,)]iRTTRiIxylAAAAkwxyl(8)由上式可知干涉图像内任一点的瞬时光强总是li的余弦函数。若li随时间变化,则干涉场的光强受到调制。参考镜每移动半个波长,则干涉条纹明暗变化一个周期。若li随时间作线性变化时,干涉场中各点光强随时间t作某一固定频率的余弦变化,其频率由li的变化速率决定。若这个频率已知,就能利用通信理论从噪声中提取出信号,从而反推得到波面的相位信息。式(8)进行傅立叶展开得:011(,,)cos2sin2iiiIxylaaklbkl(9)由正交归一性,可确定系数4/140111112(,,)2(,,)cos22(,,)sin2iiiiinpinpinpiaIxylnpaIxylklnpbIxylklnp(10)式中n为每周期内的采样点数,p为被采样的条纹的周期数。从而求得被测波面,由下式给出:1111112(,,)sin211(,)tantan222(,,)cos2iiiinpinpiIxylklbnpwxykakIxylklnp(11)式中/2ilin,i=1,2,,np。3.面形的三维干涉测量及评价(PV值、RMS值)评价光学平面零件的表面平整度时,常用PV和RMS二个指标。PV——表面形貌的最大峰谷值maxminPVxx(12)RMS——表面形貌的均方根值21xRMSN(13)4.光学系统的波差测量以及PSF、MTF的评价由于实际工作中,光学系统工作的环境、系统结构以及材料特性等影响,使实际的光学系统成像与理想状态下的光学系统的成像存在差异。这种差异称为像差。像差的分类有许多,其中本实验研究的是波差,即实际光波和理想球面波之间的差异。原理图如图3所示。5/14若不考虑标准参考镜M2和球面镜的系统误差,参考光波面和被检光波面可分别表示为:exp(2)RRUAikL(14)exp{2['(,)]}TTUAikLwxy(15)式中L是参考镜到半反射镜的距离,AR,AT为反射光与透射光的振幅,w’(x,y)为光学系统的波差。此时,又回到公式⑹⑺的形式。因此,我们可以利用数字干涉测量技术实现波差的数字求解,具体形式如公式⑾。广义光瞳函数P(x,y):(,)(,)exp['(,)]Pxytxyikwxy(16)式中t(x,y)是光学系统的透射率,k为波数,w’(x,y)为波差。相干光学系统中,振幅传递函数H0是描述该光学系统对各种空间频率相干光信号振幅的响应的参数,它的值等于广义光瞳函数。'0H(,)(,)(,)exp((,))xyixiyixiyixiyffPdfdftdfdfikdfdf(17)振幅传递函数与光学传递函数OTF(opticaltransferfunction)存在自相关积分关系,所以:(,)(,)2222(,)(,)yiyixixxyidfdfdfdfPxyPxyOTFffPxydxdy6/14exp{['(,)'(,)]}2222iyiyixixdfdfdfdfikwxywxydxdy(18)点扩散函数PSF,是指理想物点对应像方焦点的复振幅分布。点扩散函数PSF可以通过对光学传递函数OTF进行傅立叶变换得:(,){(,)(,)exp[2()]xyxyxyxyPSFxyFOTFffOTFffifxfydfdf(19)调制传递函数MTF,反映了光学系统对不同空间频率的物点在其相应的像点中对比度的下降情况。它与光学传递函数的关系如下:(,)(,)[(,)]xyxyxyOTFffMTFffespiPTFff(20)式中(,)xyPTFff(phasetransferfunction)是相位调制函数,表示相位上的偏移。因此可知调制传递函数实际是光学传递函数OTF的模,其表达式为:|(,)|(,)|(0,0)|xyxyOTFffMTFffOTF(21)【实验步骤】一、光路调节:1、打开激光多功能光电测试仪的电源,打开压电陶瓷电源,打开计算机。并且查看CMOS光电接受器上的电信号指示灯是否已亮。2、按照实验装置图,准直光路(部分已基本调好)调整平面反射镜的高低、俯仰和角度等,注意需用纸片垫好接触部分,以防刮花镜片),调节光路,使M1、M2的反射光入射到光阑内的CMOS,使干涉仪产生干涉条纹。聚焦时,用纸挡住其中一路的反射光路,调节另一路的反射镜的俯仰、角度微调旋钮,令其反射的光束聚焦到光阑的孔径之内,再用同样的方法用纸挡住此路的反射光,调节另一路的反射光聚焦到光阑内,保证两束光会聚的焦点重合。3、打开Csylas软件,点击“活动图像”,观察到干涉条纹。再打开Wave软件,点击“实时采样”,设置采样率为16,其他的设置皆为默认,点击“确定”采样,得到根据干涉图样得到的干涉图、等高图、以及三维立体透视图。记录相关数据,保存图像。二、面形的三维干涉测量以及评价1、加入傅立叶透镜,观察前后干涉图像的变化,分析产生变化的原因。7/142、用wave软件分析加入傅立叶透镜后的干涉图等高图以及三维立体透视图的变化情况,记录现象,分析原因。3、记录PV、RMS、Em各值,为光学的表面平整度进行评价。三、光学系统的PSF、MTF的测量1、打开wave软件中的“点扩散函数”,得到加入傅立叶透镜的点扩散函数三维图像以及二维分布图,根据数据分析原因。2、保存图像。记录数据。四、台阶镜面的三维干涉测量及评价把前面用的平面镜改为用台阶镜面,观察干涉图像。测量其PV、Rms、Em,并与平面镜作比较。【数据记录与处理】一、光路调节根据光路图设计实验,在不加入傅立叶透镜的情况下,得到如下的干涉图样以及等高图、三维立体透视图(图4、图5):图4干涉图样以及等高图8/14图5三维立体透视图由图4可知,在不加入任何波差的情况下,我们得到的干涉条纹是平直的,原因是M1与M2间有一定的角度θ使之产生了等厚干涉,若M1、M2间距离发生变化其干涉条纹也会发生响应的移动。在PZT自动扫描下,可以看到条纹在做周期性的左右移动。这是PZT自动扫描,启动了压电陶瓷,使待测镜沿着轴向做周期左右移动,光程差增大时,干涉条纹像干涉级次低的方向移动,反之,向干涉级次高的方向移动。图6平面镜的综合数据显示根据wave软件测量平面镜的综合数据显示(图6),我们可以知道如下的数据PV=0.010wave;Rms=0.002wave;Em=0.005wave。9/14PV是表面形貌的最大峰谷值maxminPVxx,可见所测得的PV=0.010wave值较小,结合等高图可知,表面有零星的凹凸,但是总体的凹凸程度不大,可能是表面有灰尘等不干净杂质;RMS是表面形貌的均方根值21xRMSN,是对表面粗糙度的描述,可见所测得的RMS=0.002wave值较小,体现该平面镜整体的粗糙度较小,即总体上还是平整的;Em是判定整体上平面上各点是是否接近所测量的最大值,即是整体偏高还是偏低的评价,maxEMxRMS,所测平面镜Em=0.005wave,对比RMS=0.010wave,并结合等高图,可见平面各点整体上接近测量的中间值。由上分析可知面形的评价的三个参数PV、RMS和EM能很好地反映光学表面零件的表面平整度,这三个指标与三维透视图、干涉图和等高图所体现的表面形貌符合得较好。二、光学系统的平整度评价以及PSF、MTF的测量加入傅立叶透镜,得到干涉图样如图7,图7加入傅立叶透镜后的干涉条纹可见加上透镜后,原来的直条纹变成了圆环条纹。调节光路使圆环中心出现在视图的中心,中间条纹间距较宽,越往外越小,条纹较为清晰。放入待测透镜之前,由于是两列平面波的干涉,干涉条纹是由两列平行光相干产生的平行的等厚干涉条纹;放入傅立叶透镜之后,经被测光学系统(傅立叶透镜)会聚在其焦点处的一束光由平行光束变成会聚球面波,但是这不是准确的平球面波,而是有波象差的。这样,球面波与平面波形成环形干涉条纹图,这与被测物镜存在的波象差的性质和大小有关,因为傅立叶透镜存在波差,不同带区的入射平行光束会有不同的聚焦点,入射的平面波经过它之后就成为轴对称的回转波面。用wave软件测量加入傅立叶透镜后综合数据,如图7所示:10/14图8加入傅立叶透镜后综合数据由上图可知,PV=3.146wave;Rms=0.800wave;Em=1.749wave。首先观察等高图,可以知道,加入的光学系统产生的波差使中间变厚,往外就变薄,这也符合了加入的光学系统是凸透镜的事实。由PV=3.146wave,可以知道该波差的最大值为3.146wave,和平面镜的情况相比大很多;由RMS=0.800wave,和平面镜相比可以知道该波差产生的表面不平整程度很大;由Em=1.749wave,可以知道波差整体偏高。接着观察点扩散函数。其三维图和截面图分别如下图9、图10所示图9点扩
本文标题:Twyman-Green干涉实验
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