ICT测试分析程序制作.

ValueforYouVayoPro-TestExpert（测试专家）上海望友信息科技有限公司Vayo(Shanghai)TechnologyCo.,Ltd.全球合作总监:HowardLiu邮箱:[e-mail]DFMSMTTESTDocumentVIEW望友公司简介公司成立于2005年1月份公司位于上海浦东先进制造技术创业园区（到浦东国际机场约20分钟车程）望友是一家专注于电子制造业的专业软件公司，目前已拥有7个自主版权软件产品望友的工程师主要来自全球性的领先电子制造企业，有着丰富的专业知识及行业背景曾于2009年获得政府创新基金奖励支持DFMSMTTESTDocumentVIEWVayoPro系列产品VayoProNPI信息化协同系统新产品导入过程管理&协同工作平台VayoPro新产品导入过程必要应用软件VayoPro-DFMExpert:(可制造性分析)VayoPro-SMTExpert:(各种贴片机程序快速制作及转换、数据校验…)Vayo-Flexa加速器:(FujiFlexa编程加速器)VayoPro-TestExpert:(快速DFT分析、ICT/FP/AOI/X-Ray编程)VayoPro-DocumentExpert:(工位作业指导书制作)VayoPro-ViewExpert:(Test/SMT/QA/PE/IE等PCB板信息快速查询)VayoPro-AIExpert:(自动插件设备快速编程)*VayoPro系列软件兼容Windows7.DFMSMTTESTDocumentVIEW部分参考客户DFMSMTTESTDocumentVIEW全球范围代理与合作代理伙伴:12欧洲:4,东南亚及南亚:3,中国:4,美国:1设备或软件合作伙伴:7Agilent,ViTrox,Fuji,Takaya,SinicTek,Panasonic,Eastwell代理伙伴合作伙伴DFMSMTTESTDocumentVIEW飞针测试程序快速制作PCBCAD数据源AOI/X-Ray快速编程支持20种CAD智能识别类型数据校验版本比较PCB版本差异验证ECO/ECN测试夹具再利用DFT/测试覆盖率分析丰富的选针规则优化的测试覆盖率几秒钟产生DFT报告丰富的可测率报告强大的拼板功能可与机器Library集成可扩展的输出测试类型自动分类测试夹具数据分析优化的输出结果ICT测试程序快速制作全面的测试信息优化的测试输出几分钟产生结果Nets/Part/Pin报告并联元器件报告其他报告…BOM分析处理支持多种格式CAD/BOM校验智能提取值/误差…DFMSMTTESTDocumentVIEW数据源分析1CAD导入2BOM分析处理3版本比较DFMSMTTESTDocumentVIEW支持20种CADCadence,Zuken,Altium/Protel,Mentor,PowerPCB,Viscadif,Orcad,P-cad,IPC-D-356,…FATF,GenCam,ODB++,Gencad….智能识别CAD文件类型数据源分析：PCBCAD导入DFMSMTTESTDocumentVIEW支持多种BOM格式Excel,textBOM/CAD融合校对元器件数量不匹配重复的料号在BOM但不在CAD元器件……智能提取值/误差等数据减少人工录入时间及错误Excel格式BOM数据源解析规则解析报告数据源分析：BOM分析处理DFMSMTTESTDocumentVIEW比较CAD版本差异元器件差异报告网络差异报告测试点差异报告验证ECN/ECO最大化共用测试夹具数据源分析：版本比较DFMSMTTESTDocumentVIEW数据源分析：软件界面展现真实PCB流程化操作导引易学易用交互化信息显示查询和定位高亮/闪烁DFMSMTTESTDocumentVIEWDFT/测试覆盖率分析4测试选针规则5结果查询及分析6强大的报告DFMSMTTESTDocumentVIEW优先级规则正反面规则测试点及过孔规则测试针数量规则100/75/50…mil测试针强制/条件下针规则安全距离规则灵活的规则设定：DFT/测试覆盖率分析:测试选针规则DFMSMTTESTDocumentVIEWDFT/测试覆盖率分析：测试针准确性验证—阻焊层Gerber数据融合检查nailnailnailnailnailSignalLayerMaskLayernailnailnailnailnailnailSignal+MaskNOAccessNewTestPoint现状：PCB裸板制造工艺原因导致部分测试位置被阻焊层覆盖测试点自动检查：铜箔是否暴露自动建议新测试点位置：添加测试点(支持AgilentABPT)*.目前业界仅望友软件提供此功能。CAD数据Gerber数据DFMSMTTESTDocumentVIEWDFT/测试覆盖率分析：网络优化(NetLink)多个网络融合为一个网络融合条件：0欧姆电阻、开关、保险丝益处：提升测试覆盖率、减少测试针数量R5:0ohmNet1C1.1TP1.1R5.1Net2C9.1R5.2NetLink_Net1C1.1TP1.1R5.1C9.1R5.2DFMSMTTESTDocumentVIEWDFT/测试覆盖率分析：结果查询及分析测试选针结果查询查询方式按未选针原因按网络名/编号按测试针号未选针原因分类铜箔暴露过小靠近元器件靠近板边靠近定位孔……与Layout交互显示位置DFMSMTTESTDocumentVIEW统计分析报告网络/元器件/引脚分析报告DFT/测试覆盖率分析：丰富的报告输出DFMSMTTESTDocumentVIEW未测试网络/元件分析报告并联分析报告…Excel、html等格式输出DFT/测试覆盖率分析：丰富的报告输出DFMSMTTESTDocumentVIEWLayout与原理图互动查询板故障快速诊断及维修原理图交互查询InteractiveDFMSMTTESTDocumentVIEW7ICT测试程序8飞针测试程序9AOI/X-Ray检测程序测试程序快速制作DFMSMTTESTDocumentVIEW测试程序快速制作：ICT/MDAICT/MDATester:Agilent,Teradyne/GenRad,Spea,TRI,Checksum,MTS,JET,Hioki,IFR,SRC,…测试夹具数据分析测试类型定义自动分类多种测试选针策略智能提取值/误差等数据计算并联元器件智能提取值/误差节省30%~50%在线Debug时间ICT/MDATester:Agilent,Teradyne/GenRad,Spea,TRI,Checksum,MTS,JET,Hioki,IFR,SRC,…测试夹具数据分析测试类型定义自动分类多种测试选针策略智能提取值/误差等数据计算并联元器件DFMSMTTESTDocumentVIEW测试针胶片图优化针号显示间隔针号绕线路径区域分布视图夹具数据输出Nails数据CNC钻孔数据DXF针位图Parts数据载板数据ICT测试程序快速制作：夹具数据分析DFMSMTTESTDocumentVIEWICT快速编程：测试类型自动分类Apply元器件名称自动分类自动匹配测试模式支持用户自定义设置支持多客户/多设备设置并存自动防错校验DFMSMTTESTDocumentVIEW测试程序快速制作：飞针测试飞针设备：TAKAYA,SPEA,HIOKI,SEICA,Acculogic,…支持各种测试模式可配置输出结果Outline/pin/sensor偏移设置计算并联值优化的测试程序/结果节省80%程序制作时间DFMSMTTESTDocumentVIEW飞针测试编程：Outline/Pin/Sensor偏移设置SensorPositionProbePositionOutline/Pin/Sensor偏移微调测试针位置自动偏移自动产生open-checksensor位置数据节省50%在线Debug时间DFMSMTTESTDocumentVIEW测试程序快速制作：AOI/X-rayX-Ray&AOI:Agilent5DX/SJ50,ViTroxV810&V510,Omron,VITechnology,Orbotech,Viscom,TRI,Landrex,…强大的拼板功能可与设备Library集成