AFM数据离线分析软件Nanoscope_Analysis简易使用方法

在上的相关软件文件夹下载NanoScope_Analysis_v140r3sr2.exeAFM图像离线分析软件，之后双击左键安装软件。从FTP上下载的数据最好不要保存在桌面上，有时会打不开，可以放在C、D、E盘的根目录下，或存放于文件路径不含非英文字符的目录中。软件安装数据存放AFM测试的数据后缀是.000等，在电脑上有时会显示为压缩文件，实际是源文件，需要用AFM的离线分析软件NanoScope_Analysis打开Win7系统安装软件时需要安装.netframework4.0，请自行下载安装打开软件任选一项，如需立即查看文件，直接按No打开文件测试条件点击可在下拉菜单中选择0阶（0th），1阶（1st）,2阶(2nd)，3阶(3rd)确定后，执行平滑图像0阶平滑对应平面内高度值移动；1阶平滑对应斜面拉平；2阶平滑对应曲面拉平。高阶平滑内包含低阶平滑的内容。请根据自己样品的特性选择选择相应阶数。如果样品上有明显过高的非基底特征，如下图中亮点，需要使用遮蔽框将这些位置遮蔽后（点右键画框），再execute，或将flattenZthresholdingdirection设置为Z》=或Z《，将Markexcludeddata设置为Yes，设定FlattenZthreshold%值，使非基底部分被遮蔽后，再execute，之后将Markexcludeddata设置为No，即可完成操作。未遮蔽的flatten效果遮蔽后flatten效果，无阴影拖尾执行后，图片变成这样。生成三维图片按钮右键点在色度条上出现colorscale后，左键选择可更改图像颜色点击后，生成的三维图片有色系和颜色区间等选项可选背景颜色选项三个坐标轴显示选项设定完各项参数后，点Export导出三维图参数设定区域按需要更该参数后，点export，命名后保存输出彩色二维图像（颜色深浅代表高度）点击section，进行图片上特征位置高度、宽度等尺寸分析高度宽度分析用鼠标左键在样品图像区域拖一条线，右侧坐标图中就会出现这条线上相应位置高度的折线图，左键拖动折线图中两条竖直虚线的位置，就可以改变图像区域与虚线颜色相同的相应十字叉的位置。将十字叉定位准确后，在图像下方的三色条框中读出相应颜色十字叉定位的数值。例如，下图中蓝色十字叉标记的线上读出被测试样品的高度为4.816nm（verticaldistance栏）；红色十字叉标记的线上，可读出目标颗粒的宽度为30.503nm（horizontaldistance栏）；基底线样品线被测试颗粒在图像区域点击右键，出现如下对话框，点export可输出做过标记的图片同样，在折线图区域点右键，选择export——graphic（输出被激活折线图像图片）/XZdata（输出被激活折线数据txt文档）。点击右键，copytext,输出此框数据。读取粗糙度,读取Rq，Ra注意：用该软件计算得到的粗糙度值仅仅是在该软件设定的程序下的结果，软件设定算法可以在相应窗口下按F1帮助键，弹出的相应窗口中有功能说明。如果需要，图像可以在0阶或1阶平滑后计算粗糙度。整幅图像的粗糙度值选定区域的粗糙度值，若没有选定区域，这两个值为0点击右侧browsefiles,选定目标文件，在未进行平滑的原始文件上点击右键，出现如下对话框，选择exportASCII，可以输出图像上每个数据点的高度值（进针位置的高度被默认为0）。该组数据可根据测试者需要，采用特定的统计方法得出所需的粗糙度等值。如需输出矩阵形式将输出数据的列数设置为扫描线条数。打开软件后按F1键，可弹出介绍软件详细功能的网页，未在本PPT中介绍到的内容，请详细阅读网页内容。友情提示文中未明确提出的地方，一般默认用左键操作。以上内容，如有错漏请指出。