检治具设计

檢治具之設計二.檢驗治具應用目的A;提高生產效率;降低成本.B;控制產品品質均質.Ｃ;消除人為因素對產品之影三.檢驗治具設計原則１.治具公差選取原則治具所給公差原則上應占被檢尺寸公差的1/5~1/10但有時確應按實際情況及加工能力而定,總的來講設計當中應盡可能給工件留出最大的制造空間,目前治具公差的選取有2種方法,一種是直接給出公差的同時參考機械加工能力,第二種是按標準選定,並留有一定備磨量公差帶選擇圖示說明S:工件公稱尺寸T:工件公差帶T3:給工件所留制造公差帶T1,T2:治具GO和NG端公差帶TS:治具備磨量(需查表)第一種第二種優點缺點第一種治具公差及尺寸可以直接給出節省時間,易于校對,並可以根據實際情況,盡可能給工件留很大的制造空間無備磨量第二種治具尺寸及公差按標準給出,需查表並留有一定備磨量,增加了治具使用壽命吃工件制造公差帶較多兩种方案對比實例說明已知:一個被測孔直徑為Ｄ=２.７３+０/-０.１３則按第一种公差帶選取方法其治具設計尺寸為:ＧＯ端為:２.６０+０.０１/-０ＮＧ端為:２.７３+０/-０.０１則按第二种公差帶選取方法其治具設計尺寸為:ＧＯ端為:２.６０+０.０１２/+０.００２ＮＧ端為:２.７３+０/-０.０１２.治具一般設計原則Ａ;檢治具設計應遵守:阿貝原則尺寸鏈傳遞最短原則變形最小原則經濟原則Ｂ;治具設計應可靠且操作簡單;迅速;准确.Ｃ;治具設計應考慮治具維護性.Ｄ;治具設計應考慮ＥＣＮ變更的靈活性.四.檢驗治具最低要求Ａ;外觀:治具的表面應無明顯影響治具使用的外部缺陷,如:划傷;嚴重鏽蝕;易造成傷害之尖角等.Ｂ;治具各相配合部分之滑動應平穩;靈活;無卡滯現象.Ｃ;治具零件表面粗糙度之要求.1.治具工件與被測工件接觸的定位面,定位銷,定位塊等其表面粗糙度應不低于Ra0.8.2.測量面,滑塊等表面粗糙度應不低于Ra0.8.3.滑軌,導軌表面粗糙度應不低于Ra0.4.4.有一定精度的線割孔,槽,電火花加工面,其表面粗糙度應不低于Ra1.6.五.檢驗治具測量誤差的主要來源１.配合間隙產生的誤差.２.標准件;附件誤差.３.工件變形產生的誤差.系統誤差.系統誤差:在同一測量條件下,多次測量同一量值時.若誤差的大小和符號固定不變或在條件改變時按一定規律變化的誤差.系統誤差之發現１.實驗對比法２.計算數据比較法３.不同公式計算標准誤差比較法４.剩余誤差觀察法函數系統誤差計算間接測量中:y=x1+/-x2+/-……….+/-xnΔy=Δx1+/-Δx2+/-…………+/-Δxn函數系統誤差計算實例某四等量塊組由兩個不同尺寸之量塊組成Ｌ=Ｌ1+Ｌ2已知:Ｌ1=50.000mmΔL1=-0.0008mmＬ2=7.500mmΔL2=-0.0005mm求:Ｌ和ΔL解:L0=50.000+7.500=57.500mmΔL=-0.0008-0.0005=-0.0013mmL=57.5000-0.0013=57.4987mm偶然誤差.偶然誤差(隨機誤差):是指在同一定測量條件下,多次測量同一尺寸時,其絕對值和符號以不可預定的方式變化的誤差.函數偶然誤差的計算間接測量中:y=x1+/-x2+/-……….+/-xnΔy=+/-ＳQRT(Δ1+Δ2+…………+Δn)２２２偶然誤差計算實例某四等量塊組由兩個不同尺寸之量塊組成Ｌ=Ｌ1+Ｌ2已知尺寸檢測的极限偏差為Ｌ1=50.000mmΔ1=+/-0.00045mmＬ2=7.500mmΔ2=+/-0.00020mm求:Ｌ和ΔL解:L0=50.000+7.500=57.500mmΔL==+/-ＳＱＣ(Δ1+Δ2)=+/-0.00049mmL=(57.5000+/-0.00049)mm２２最有利測量條件的确定如某一測量過程中其測量結果受若干個因素的影響,如何建立測量結果与各因素之間的關系,使得測量誤差最小,這是在測量過程中要考慮的.六.治具常見的設計形式Ａ.常見型式１注:一般Ｓ５０mm.Ｂ.常見型式２注:一般Ｓ５０mm.Ｃ.常見型式３注:一般Ｓ５０mm.Ｄ.常見型式４七.治具設計中易犯錯誤1.定位銷,塊過高.如上圖所示定位高度L過高,忽略了工件折邊角度之影響,通常定位高度應小于5mm.2.長度檢測說明:由于被測尺寸L過大(大于200以上)基板又有方孔與GO-NOGOBlock有配合精度要求,所以基板應熱處理,實踐中發現當時校正合格后,過3月個復檢時,多數尺寸會變大0.07以上,其原因主要是由於淬火件應力釋放所造成建議設計成以下型式,基板不淬火,如圖: