IEC62321-3-1-翻译

1IEC62321-3-1Ed1.02013-06测定电子电气产品六种限制物质-第3-1部分：采用X-射线荧光光谱法对铅、汞、镉、总铬进行初筛目录前言简介1.范围2.引用标准3.术语、定义和缩写4.原理4.1概述4.2测试原理4.3绪言5.仪器，设备和材料5.1XRF光谱仪5.2材料和工具6.试剂7.制样7.1概述7.2无损方法7.3破坏性方法8.测试程序8.1概述8.2光谱仪调试8.3试样8.4光谱仪性能验证8.5测试8.6校准9.计算10.精密度10.1概述10.2铅10.3汞10.4镉10.5铬10.6溴10.7不同测试材料中的五种待测物质的重复性综述10.7.1概述10.7.2材料：ABS（丙烯腈-丁二烯-苯乙烯共聚物），颗粒和平板状态10.7.3材料：PE（低密度聚乙烯），颗粒状态10.7.4材料：PC/ABS（聚碳酸酯和ABS混合物），颗粒状态10.7.5材料：HIPS（耐高冲击性聚苯乙烯）210.7.6材料：PVC（聚氯乙烯），颗粒状态10.7.7材料：聚烯烃，颗粒状态10.7.8材料：水晶玻璃10.7.9材料：玻璃10.7.10材料：无铅焊料，铸块10.7.11材料：硅铝合金，铸块10.7.12材料：铸造铝合金，铸块10.7.13材料：PCB-印刷电路板，粉碎至小于250μm10.8不同测试材料中的五种待测物质的再现性综述10.8.1概述10.8.2材料：ABS（丙烯腈-丁二烯-苯乙烯共聚物），颗粒和平板状态10.8.3材料：PE（低密度聚乙烯），颗粒状态10.8.4材料：PC/ABS（聚碳酸酯和ABS混合物），颗粒状态10.8.5材料：HIPS（耐高冲击性聚苯乙烯）10.8.6材料：PVC（聚氯乙烯），颗粒状态10.8.7材料：聚烯烃，颗粒状态10.8.8材料：水晶玻璃10.8.9材料：玻璃10.8.10材料：无铅焊料，铸块10.8.11材料：硅铝合金，铸块10.8.12材料：铸造铝合金，铸块10.8.13材料：PCB-印刷电路板，粉碎至小于250μm11.质量控制11.1校正的准确度11.2质量控制样品12.特殊案例13.测试报告附录A（参考）采用X-射线荧光光谱法（XRF）进行筛选的实际应用方面和结果解释附录B（参考）采用XRF初筛的实际例子参考书目图B.1—AC电源线，样品部位的X-射线谱图图B.2—RS232电源线和其X-射线光谱图B.3—手机充电器部分拆解示例图B.4—手机充电器的PWB和电源线图B.5—PWB上的一个单个焊接点分析图B.6—用两台扫描机器对印刷电路板得到的光谱和结果图B.7—PWB的物质分布示例图B.8—有少量铅污染（尺寸=30μm）的无铅焊锡SEM-EDX扫描图像表1—铅在材料中测试的浓度范围表2—汞在材料中测试的浓度范围表3—镉在材料中测试的浓度范围表4—总铬在材料中测试的浓度范围3表5—总溴在材料中测试的浓度范围表A.1—基体成分对某些限制元素检测限的影响表A.2—限制元素在各种材料中的筛选限值，单位mg/kg表A.3—来自IIS2的统计数据表A.4—来自IIS4的统计数据表B.1—AC电源线，分析样品的选择表B.2—在观察后，手机充电器中分析样品的选择（测试区域）表B.3—图B.6中所示的点（1）和（2）的XRF分析结果测定电子电气产品六种限制物质-第3-1部分：采用X-射线荧光光谱法对铅、汞、镉、总铬进行初筛前言1)国际电工委员会（IEC）是一个世界性的标准化组织，它是由各个国家的电工委员会组成。IEC的目的是在电子电气领域内标准化有关的所有问题促进国际间合作。为了实现这一目标和其它的活动，IEC公开出版国际标准、技术规范、技术报告、公开发行规范（PAS）和指导（此后均称作“IEC出版物”）。它们的制订工作委托给技术委员会；任何国家对此项目感兴趣的IEC委员会均可参与制订工作。与IEC相关联的国际组织、政府组织或非政府组织也可以参与制订工作。IEC同国际标准化组织（ISO）根据双方签立的协议，进行密切的合作。2)IEC对技术问题的正式决定或协议，尽可能地，就相关的议题在国际范围内达成共识，因为每个技术委员会有感兴趣的来自各个国家IEC委员会的代表。3)IEC发行的出版物以推荐的形式在国际范围使用，在这种意义上，它被IEC各国委员会所接受。IEC虽然做出各种合理的努力以确保出版物技术内容的准确性，但却对它们如何被使用或终端使用者的误解不承担责任。4)为了在国际程度上达到一致，IEC各国委员会担负着在它们的国家和地区性出版物中昀大程度地公开应用IEC出版物。任何IEC出版物与相应的国家或地区性出版物之间的差异应在结尾部分予以清楚说明。5)IEC本身不提供符合性证明，第三方认证机构提供符合性评估服务，以达到IEC符合性标识。对于第三方机构提供的任何服务，IEC不负有责任。6)所有使用者必须确保他们获得的本出版物为昀新版本。7)任何人身伤害、财产损失或其它任何性质的损失，无论是直接还是间接的，或是花费（包括法定费用），及由此出版物产生的花费、使用或依赖此出版物产生的花费，或是其它的IEC出版物，IEC或它的主管、雇员、服务人员、机构包括独立的专家、技术委员会的成员和各个国家的IEC委员会不需要承担责任。8)需要注意到本出版物中引用到的参考标准，参考标准的使用与正确运用本出版物是密不可分的。9)需要注意到本IEC出版物的某些部分可能会涉及到著作权的问题，IEC并不负责鉴别这种著作权相关的问题。国际标准IEC62321-3-1由IEC技术委员会TC111编制：电子电气产品与系统的环境标准化。IEC62321：2008第一版是一个“独立的”标准，包含导言、测试方法总论、机械制样方法和不同的测试方法章节。IEC62321-3-1的第一版是IEC62321:2008的部分替换，由第6章及附录D结构修订和一般性替换构成。IEC62321系列更多章节将逐渐取代IEC62321:2008的相应章节。尽管如此，在所有章节都出版之前，IEC62321:2008中这些还未作为独立部分重新出版的章节仍然有效。本标准的内容基于以下文件：FDIS投票报告111/298/FDIS111/308/RVD4有关本标准投票通过的全部信息可以从以上表中的投票报告找到。本出版物根据ISO/IEC指导第2部分起草。IEC62321系列的全部章节清单可以在IEC网站的下述大标题下找到：电子电器产品中限制物质的测定委员会决定在数据库中与此相关的出版物的内容在修订期限之前将维持不变，此日期显示在IEC的网址：“”中可以找到。此期限后，本出版物将会被：重新确认废除由修订版取代修订简介电子电气产品广泛使用对环境产生的影响，已经越来越多地引起了人们的关注。导致了世界是许多国家修改法律法规以影响电子电气产品中废弃物、物质和能源的使用。电子电气产品中某些物质，如：铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、六价铬（Cr(Ⅵ)）和它们的化合物，另外加上两种溴化阻燃剂多溴联苯（PBB）和多溴联苯醚（PBDE），这些物质在当前的和提案的地方法规是被限制使用的。因此，本标准的目的是为电子电气产品业界提供测试方法，在全球范围内一致的基础上测定电子电气产品中的限制物质的浓度。警告——个人使用此国际标准应该熟悉常规实验室工作。本标准不致力于解决所有跟使用相关的安全问题。建立适当的安全和健康措施，是使用者的责任，并确保符合所有国际调整的环境。测定电子电气产品六种限制物质-第3-1部分：采用X-射线荧光光谱法对铅、汞、镉、总铬进行初筛1.范围IEC62321第3-1部分描述了采用X-射线荧光光谱法（XRF）扫描分析电子电器产品中均质材料里的五种物质：铅（Pb），汞（Hg），镉（Cd），总铬（Cr）和总溴（Br）。它适用于聚合物，金属和陶瓷材料。本测试方法可适用于原材料、从产品上取下的单种材料以及多种材料的“粉碎均匀化”的混合物。样品的筛选可使用任何型号的XRF光谱仪来进行，只要它具备本测试方法中所描述的性能特征。并非所有型号的XRF光谱仪都适用于各种大小和形状的样品。选择适当的光谱仪，应注意其设计和功能。通过测试不同媒介中的以下物质，本测试方法的性能经过测试得以证明，浓度范围在表1-5中描述。表1—材料中铅的测试浓度范围物质/元素铅参数测量单位测试的媒质/材料ABSaPEb低合金钢铝，铝硅合金无铅焊锡粉碎PWBc水晶玻璃PVCd聚烯烃测试的浓度或浓度范围mg/kg15.7～95414～10830e190～93017422000～23000240000390～665380～640a丙烯腈-丁二烯-苯乙烯共聚物。b聚乙烯。c印刷配线板。d聚氯乙烯。e这个铅浓度范围不是通过测试中参与的仪器得到的。5表2—材料中汞的测试浓度范围物质/元素汞参数测量单位测试的媒质/材料ABSaPEb测试的浓度或浓度范围mg/kg100～9424～25a丙烯腈-丁二烯-苯乙烯共聚物。b聚乙烯。表3—材料中镉的测试浓度范围物质/元素镉参数测量单位测试的媒质/材料无铅焊锡ABSaPEb测试的浓度或浓度范围mg/kg3c10～18319.6～141a丙烯腈-丁二烯-苯乙烯共聚物。b聚乙烯。c这个镉浓度范围不是通过测试中参与的仪器得到的。表4—材料中总铬的测试浓度范围物质/元素铬参数测量单位测试的媒质/材料ABSaPEb低合金钢铝，铝硅合金玻璃测试的浓度或浓度范围mg/kg16～94416～115240130～110094a丙烯腈-丁二烯-苯乙烯共聚物。b聚乙烯。表5—材料中总溴的测试浓度范围物质/元素溴参数测量单位测试的媒质/材料HIPSc，ABSaPC/ABSdPEb测试的浓度或浓度范围mg/kg25～118400800～240096～808a丙烯腈-丁二烯-苯乙烯共聚物。b聚乙烯。c耐高冲击性聚苯乙烯。d聚碳酸酯和ABS混合物。在类似媒质中但不处于上述列出的浓度范围内的物质，也可以根据本测试方法进行分析，然而，该性能并未根据此测试标准建立。2.参考标准以下文件，全部或者部分地在本文件中作为引用标准，并且对于本文件的应用是密不可分的。对于注明日期的参考文件，仅所引用的版本适用于本标准。对于未注明日期的参考文件，所引用的参考文件的昀6新版本（包括修正案）适用于本标准。IEC62321-1，电子电器产品中限制物质检测-第1部分：导言和概述IEC62321-2，电子电器产品中限制物质检测-第2部分：拆解和机械制样IEC/ISO指南98-1，测量不确定度—第一部分：测量不确定度的介绍和表达3.术语、定义和缩写对于本文档，在IEC62321-1和62321-2给出的术语、定义和缩写同样适用。4.原理4.1概述.“筛选”概念的形成降低了测试量。与原本执行的其它任何测试分析相比，筛选的主要目的是对于筛选部分或产品的一部分进行快速测定。——含有某些物质在显著的较高浓度，相比于其限值或者选择作为评判标准的值，则因此认为不可接受；——含有某些物质在显著的较低浓度，相比于其限值或者选择作为评判标准的值，则因此认为可以接受；——含有某些物质接近于限值或者选择作为评判标准的值，当考虑了所有可能的测量错误和安全因子，对于某些物质可接受的不存在还是存在，无法做出决定性的结果，因此，应当需要一个紧接着的行动，包括使用已验证测试程序进一步的分析。本测试方法特别为筛选均质材料中铅、汞、镉、铬和溴（Pb、Hg、Cd、Cr、Br）而设计，这些均质材料存在于大部分的电子电气产品中。典型情况下，XRF光谱法提供了样品中存在的每种元素总量的信息，但是不能识别化合物和元素的价态。因此，当测试铬和溴时，结果反映的是存在的总铬量和总溴量，需要引起特别注意。是否存在Cr(Ⅵ)、PBB或PBDE，需要使用定量测试方法来验证。当这种方法应用于“传统意义上”电子电气产品时，而电子产品从设计属性上其成份就不是均匀的，在解释这些结果时需要注意。同样地，测试转化镀层中Cr有些很困难，因为基材中存在Cr和/或对通常非常薄（几百个纳米）的转化镀层中的铬不够灵敏。筛选分析可以通过两个方法中的一种