SPC--

SPC（統計製程管制)簡易教程1.WhatisSPC2.為什么要用SPC3.SPC中基本概念4.管製圖應用5.製程能力Contents1.SPC-Whatisit?StatisticalProcessControl統計製程管制,為品質管制之統計方法英文義中文義製程(Process)2.為什么要用SPC•無論什麼製程,多麼精密的機器,多麼理想的環境,製程中存在一定的變異•挑戰:如何預測製程變化,降低變異,控制製程結果,提昇產品品質(質量)SPC(統計製程管制)--使用統計手法查覺變異的趨勢--不用量測每一個產品,而可以掌握製程狀況--讓使用者/操作員可以預測製程狀況,並採取積極行動避免不良產生？3.SPC中基本概念a.SPC基本工具----管制圖b.兩種數據c.基本名詞a.SPC基本工具管製圖依用途來分類:管制用管制圖-維持製程在穩定狀態中解析用管制圖-調查製程是否處於穩定狀態依數據性質來分類:計量值管制圖(ControlChartsforVariables)計數值管制圖(ControlChartsforAttributes)變數Data,或稱VariableData屬性Data,或稱AttributeDatab.兩種數據變數,VariableData-數據由量具實際量測而得,數值為連續性的•溫度,重量,體質,…•時間,頻率,MTBF,…•速度,加速度,…•電壓,電阻值,電容值,…•角度,長度,距離•亮度,粗糙度•強度,硬度T3T1T2Example屬性,AttributeData-數據由單位計數而得,數值為離散性的•人數•不良數•缺點數=10=6=5Example=1=1=33x2x1x=12Example1.群體,(PopulationN):群體是由具有共同特性之個體所組成之群體2.樣品,(Samplen):由母體中抽取部分個體組成的小群體3.規格界線(SL):品質特性之最大許可值4.管制界線(CL):探討製程變異之準則5.機遇原因:不可避免之原因,非人為原因,不易控制之原因6.非機遇原因:可避免之原因,人為原因,異常原因,特殊原因,可控制原因7.平均值,Mean(Average)X-bar抽樣中,其所有讀數的總和除以其共有多少讀數8.規格中心Meanofspecification,μ設計者之理想(規格中心)值9.標準差,StandardDeviationσ(Sigma)一種(與群體)平均值所產生的平均偏差10.全距,RangeR最大讀值與最小讀值的差值c.基本名詞Question:What’sUSL/LSL,UCL/LCL?4.管製圖應用a.管制圖選擇b.管制圖公式c.管製圖製作實例(X-bar-Rchart)計量值管制圖•平均值與全距管制圖(X-bar-R)•平均值與標準差管制圖(X-bar–S)•中位值與全距管制圖(X-R)•個別值與移動全距管制圖(X-Rm)計數值管制圖不良率管制圖(p-chart)不良數管制圖(np-chart)缺點數管制圖(c-chart)單位缺點數管制圖(u-chart)a.管制圖選擇計數值計量值n=1管制圖的選擇數據性質？樣本大小n=？數據係不良數或缺點數CL性質?n是否相等？單位大小是否相關n=？管制圖管制圖管制圖管制圖管制圖管制圖管制圖管制圖n≧2n=2~5n=3或5n≧10不是是不是是缺點數不良數RX~RXXRmXPPnuCa.管制圖選擇計量值／計數值管制圖公式彙總管制圖CLUCLLCL附　　註X/kXXRAX2RAX2X-Rμ，σ未知RR/kRRD4RD3n=2～5最適當n10以下XX/kXSAX3SAX3X-σμ，σ未知SS/kXSB4SB310≦n≦25～X/kX~XRAm~X23RAm~X23N=3or5較佳～X-RRR/kRRD4RD3與RX之R圖相同XR/kXmREX2mRE-X2計量值X-RmRm1)n-Rm/(kmRmRD4mRD3k：組數n：樣本大小/nP)(1P3P)/nP(1P3PP使用小數pnd/P)/nP(100P3P)/nP(100P3-PP使用%pnd/kdPn)P(1Pn3nP)P(1Pn3nPn=P5P/1～CC/kCC3CC3-C樣本大小相同時使用，n=20~25計數值UnC/U/nU3U/nU3U樣本大小不同時使用(為階梯界限)n=20~25b.管制圖公式c.管製圖製作實例Xbar-Rchart的作法Step1:收集數据Step2:計算各組平均值及全距Step3:計算總平均及全距平均Step4:求出管制界限Step5:描點繪圖Step6:製程解說錫厚量測表單a.製程能力衡量指標b.製程能力調查之步驟c.製程能力評價方法d.製程能力實例5.製程能力(ProcessCapability)1.製程準確度CA(CapabilityofAccuracy)平均值與規格中心值其間偏差的程度2.製程精密度CP(CapabilityofPrecision)規格公差範圍與製程變異寬度兩者之間相差的程度3.製程能力指數CPK綜合Ca與Cp指數來代表製程的綜合能力a.製程能力衡量指標製程能力指標Ca製程準確度(Capabilityofaccuracy)平均值－規格中心值Ｘ－μCa=------------------------=---------------規格公差／２Ｔ／２(雙邊規格時)(Ｔ=ＵＳＬ－ＬＳＬ)Ca愈小品質愈好,Ca=0表示平均值與規格中心完全一致製程能力指標Cp•製程精密度(Capabilityofprecision)規格公差Ｔ•Cp=---------------------=------------(雙邊規格時)6倍標準差６σ規格上限－平均值ＵＳＬ－Ｘ•Cp=---------------------=------------(單邊規格時)3倍標準差3σ平均值－規格下限Ｘ－ＬＳＬ或Cp=--------------------=-------------3倍標準差3σ•Cp愈大品質愈好,表示製程的變異寬度愈小於規格公差製程能力指標Cpk•製程能力指數(Cpk)ＵＳＬ－ＸＸ－ＬＳＬ•Cpk=Min{----------------，----------------}3σ3σ或Cpk=(１－｜Ca｜)Cp•Cpk愈大品質愈好,表示製程綜合能力愈好,不良率愈低•確切了解要調查的品質特性與調查範圍並收集數據•確定製程是處於穩健的狀態•計算製程能力指數•判斷製程能力是否足夠,如不足時,則加以改善b.製程能力調查之步驟:c.製程能力評價方法1.製程準確度Ca分級基準等級處置方法|Ca|=12.5%A級繼續維持現狀.12.5%|Ca|=25%B級盡可能改進為A級.25%|Ca|=50%C級應立即檢討改善.50%|Ca|D級應立即採取緊急措施,全面檢討,必要時停止生產.2.製程精密度Cp分級基準等級處置方法1.33=CpA級繼續維持現狀.1.00=Cp1.33B級盡可能改進為A級.0.83=Cp1.00C級應立即檢討改善.Cp0.83D級應立即採取緊急措施,全面檢討,必要時停止生產.3.製程能力指數Cpk分級基準等級處置方法1.33=CpkA級製程能力足夠1.0=Cpk1.33B級能力尚可,應再努力Cpk1.0C級應加以改善d.製程能力實例DELLWirelessFunctiontestingCTQSPCMonitor