SPC精简版XXXX

12015/5/13Issue:05/11ISO/TS16949:2009TrainingCourse统计制程管制培训讲义StatisticalProcessControl主讲：黄勇22015/5/13Issue:05/11ISO/TS16949:2009TrainingCourse课程大纲一、SPC及其起源与背景1、什么是SPC2、SPC的起源3、SPC的发展历程4、SPC的作用与特点二、基本的统计概念1、主要的统计学名词2、正态颁布的基本知识3、中心极限定理4、主要的统计参数三、持续改进及SPC概述1、制程控制系统2、变差的普通原因及特殊原因3、局部措施和对系统采取措施4、过程控制和过程能力5、过程改进循环及过程控制6、控制图四、管制图的种类五、管制图的选择方法六、计数型数据管制图1、p图2、np图3、c图4、u图七、计量型数据管制图1、与过程相关的管制图2、使用控制图的准备3、Xbar-R图4、Xbar-s图5、Xmed-R图6、X-Rm图八、过程能力分析及管制图的判读32015/5/13Issue:05/11ISO/TS16949:2009TrainingCourse一、SPC的起源与背景1、什么是SPC◆SPC--StatisticalProcessControl（统计过程控制）◆含义--利用统计技术对过程中的各个阶段进行监控，从而达到保证产品质量的目的。◆统计技术----数理统计方法。42015/5/13Issue:05/11ISO/TS16949:2009TrainingCourse一、SPC的起源与背景2、SPC起源◆工业革命以后，随着生产力的进一步发展，大规模生产的形成，如何控制大批量产品质量成为一个突出问题，单纯依靠事后检验的质量控制方法已不能适应当时经济发展的要求，必须改进质量管理方式。于是，英、美等国开始着手研究用统计方法代替事后检验的质量控制方法。◆1924年，美国的休哈特博士提出将3Sigma原理运用于生产过程当中，并发表了著名的“控制图法”，对过程变量进行控制，为统计质量管理奠定了理论和方法基础。52015/5/13Issue:05/11ISO/TS16949:2009TrainingCourse一、SPC的起源与背景3、SPC的发展历程推动品质的活动约每10年就出现一种关键的品质管理方法1950-1960SPC1960-1970QCC、SPC+brainstorming（头脑风暴)1970-1980TQM、QCC、SPC1980-1990ISO9000、TQM、QCC、SPC1990-2000SIXSIGMA、ISO9000、TQM、QCC、SPC62015/5/13Issue:05/11ISO/TS16949:2009TrainingCourse一、SPC的起源与背景4、SPC的作用与特点◆作用：-确保制程持续稳定、可预测。-提高产品质量、生产能力、降低成本。-为制程分析提供依据。-区分变差的特殊原因和普通原因，作为采取局部措施或对系统采取措施的指南。◆特点：-SPC是全系统的，全过程的，要求全员参加，人人有责。这点与TQM的精神完全一致。-SPC强调用科学方法（主要是统计技术，尤其是控制图理论来保证全过程的预防）。-SPC不仅用于生产过程，而且可用于服务过程的一切管理过程。72015/5/13Issue:05/11ISO/TS16949:2009TrainingCourse二、基本的统计概念1、主要的统计学名词-1名称解释平均值（Xbar）一组测量值的均值，群体平均值用μ表示极差（Range）一个子组、样本或总体中最大与最小值之差σ（Sigma）用于代表标准差的希腊字母。标准差（StandardDeviation)过程输出的分布宽度或从过程中统计抽样值（例如：子组均值）的分布宽度的量度，用希腊字母σ或字母s（用于样本标准差）表示。样本标准差也可用σP表示分布宽度（Spread）一个分布中从最小值到最大值之间的间距中位数xmed将一组测量值从小到大排列后，中间的值即为中位数。如果数据的个数为偶数，一般将中间两个数的平均值作为中位数。单值（Individual）一个单个的单位产品或一个特性的一次测量，通常用符号X表示。82015/5/13Issue:05/11ISO/TS16949:2009TrainingCourse二、基本的统计概念1、主要的统计学名词-2名称解释中心线（CentralLine）控制图上的一条线，代表所给数据平均值。过程均值（ProcessAverage）一个特定过程特性的测量值分布的位置即为过程均值，通常用X来表示。链（Run）控制图上一系列连续上升或下降，或在中心线之上或之下的点。它是分析是否存在造成变差的特殊原因的依据。变差（Variation）过程的单个输出之间不可避免的差别；变差的原因可分为两类：普通原因和特殊原因。特殊原因（SpecialCause）一种间断性的，不可预计的，不稳定的变差根源。有时被称为可查明原因，它存在的信号是：存在超过控制限的点或存在在控制限之内的链或其它非随机性的图形。92015/5/13Issue:05/11ISO/TS16949:2009TrainingCourse二、基本的统计概念1、主要的统计学名词-3名称解释普通原因（CommonCause）造成变差的一个原因，它影响被研究过程输出的所有单值；在控制图分析中，它表现为随机过程变差的一部分。过程能力（ProcessCapability)是指按标准偏差为单位来描述的过程均值和规格界限的距离，用Z来表示。移动极差（MovingRange)两个或多个连续样本值中最大值和最小值之差。102015/5/13Issue:05/11ISO/TS16949:2009TrainingCourse三、持续改进及SPC概述1、制程控制系统◆有反馈的过程控制系统模型识别不断变化的需求量和期望顾客统计方法我们工作的方式/资源的融合产品或服务输入过程的呼声输出过程/系统人►设备►材料►方法►环境►112015/5/13Issue:05/11ISO/TS16949:2009TrainingCourse三、持续改进及SPC概述2、变差的普通原因和特殊原因-1◆普通原因：是指过程在受控的状态下，出现的具有稳定的且可重复的分布过程的变差的原因。普通原因表现为一个稳系统的偶然原因。只有过程变差的普通原因存在且不改变时，过程的输出才可以预测。◆特殊原因：（通常也叫可查明原因）是指造成不是始终作用于过程的变差的原因，即当它们出现时将造成（整个）过程的分布改变。只用特殊原因被查出且采取措施，否则它们将继续不可预测的影响过程的输出。122015/5/13Issue:05/11ISO/TS16949:2009TrainingCourse三、持续改进及SPC概述2、变差的普通原因和特殊原因-2◆如果仅存在变差的普通原因，随着时间的推移，过程的输出形成一个稳定的分布并可预测。◆如果存在变差的特殊原因，随着时间的推移，过程的输出不稳定。范围范围目标值线预测预测目标值线时间时间132015/5/13Issue:05/11ISO/TS16949:2009TrainingCourse三、持续改进及SPC概述3、局部措施和对系统采取措施◆局部措施通常用来消除变差的特殊原因通常由与过程直接相关的人员实施通常可纠正大约15%的过程问题。◆对系统采取措施通常用来消除变差的普通原因几乎总是要求管理措施，以便纠正大约可纠正85%的过程问题。142015/5/13Issue:05/11ISO/TS16949:2009TrainingCourse三、持续改进及SPC概述4、过程控制及过程能力-1◆过程控制范围不受控（存在特殊原因)受控（消除了特殊原因)时间152015/5/13Issue:05/11ISO/TS16949:2009TrainingCourse三、持续改进及SPC概述4、过程控制及过程能力-2◆过程能力范围受控但没有能力符合规范（普通原因造成的变差太大)受控且有能力符合规范（普通原因造成的变差已减少）时间规范下限规范上限162015/5/13Issue:05/11ISO/TS16949:2009TrainingCourse四、管制图的种类计量型数据X-R均值和极差图计数型数据Pchart不良率管制图X-δ均值和标准差图nPchart不良数管制图Xmed-R中位值极差图Cchart缺点数管制图X-MR单值移动极差图Uchart单位缺点数管制图172015/5/13Issue:05/11ISO/TS16949:2009TrainingCourse五、管制图的选择方法确定要制定控制图的特性是计量型数据吗？关心的是不合格品率？关心的是不合格数吗？使用np或p图使用p图样本容量是否桓定？使用c或u图性质上是否是均匀或不能按子组取样—例如：化学槽液、批量油漆等？子组均值是否能很方便地计算？使用中位数图使用单值图X-MR是使用u图否是是是是是是否否否否否子组容量是否大于或等于9？使用X—R图使用X—R图使用X—s图是是是否否是否能方便地计算每个子组的S值？样本容量是否恒定？182015/5/13Issue:05/11ISO/TS16949:2009TrainingCourse六、计数型数据管制图1、P图/不良率管制图-1◆P图是用来测量在一批检验项目中不合格品（缺陷）项目的百分数。◆步骤：1收集数据，选择子组容量、频率和数量：-子组容量：需足够大（最好能恒定)，并有包含几个不合格品。-分组频率：根据实际情况，兼容量大和信息反馈快的要求。-子组数量：收集的时间需足够长，使得可以找到所有可能影响到过程变差源，一般为25组2计算每个子组的不良率（P)：P=np/n3选择控制图的座标刻度并将不良率绘到图上。4计算管制界限：-计算过程不良率（Pbar):Pbar=（n1p1+n2p2+…+nkpk）/（n1+n2+…+nk)192015/5/13Issue:05/11ISO/TS16949:2009TrainingCourse六、计数型数据管制图1、P图/不良率管制图-2-计算控制上、下限（Pbar):nPPPLCLnPPPUCLPP)1(3)1(3注：1从上述公式看出，凡是各组容量不一样，控制限随之变化。2在实际运用中，当各组容量不超过其平均容量25%时，可用平均样本容量n代替n来计算控制限USL；LSL。方法如下：A、确定可能超出其平均值±25%的样本容量范围。B、分别找出样本容量超出该范围的所有子组和没有超出该范围的子组。C、按上式分别计算样本容量为n和n时的点的控制限.202015/5/13Issue:05/11ISO/TS16949:2009TrainingCourse六、计数型数据管制图1、P图/不良率管制图-35划线并标注:过程平均（P）为水平实线，控制限（USL；LSL）为虚线。（初始研究时，这些被认为是试验控制限。）212015/5/13Issue:05/11ISO/TS16949:2009TrainingCourse六、计数型数据管制图1、P图/不良率管制图-4练习：根据以下资料绘制一P控制图spc讲义例.xls222015/5/13Issue:05/11ISO/TS16949:2009TrainingCourse七、计量型数据管制图1、与过程相关的管制图-1过程人员方法材料环境设备123456计量单位：（mm，kgetc)结果举例控制图举例螺丝的外径（mm）从基准面到孔的距离（mm）电阻（Ω）锡炉温度（oC）工程更改处理时间（h）X图R图232015/5/13Issue:05/11ISO/TS16949:2009TrainingCourse七、计量型数据管制图1、与过程相关的管制图-2不准确不精密测量方法必须保证始终产生准确和精密的结果准确精密••••••••••••••••••••••••••••••••••••242015/5/13Issue:05/11ISO/TS16949:2009Training