统计过程控制教育训练{之制程能力分析}

1统计过程控制(之制程能力分析)制作:昆穎電子品保部日期：2006-08-08Reporter:郭淮平2课程内容•SPC的定義•SPC的兩大誤區SPC≠SQCSPC≠管制圖•什么是制程能力•制程能力指數的定義•制程能力指數的計算方法•CPK與PPK的區別•什么是Cmk•Ca﹑Cp﹑Cpk與Pp﹑Ppk之等級判定•CaseStudy3•SPC英文全稱StatisticalProcessControl,•中文稱謂統計過程管制或統計制程管制﹔•其定義就是應用統計技朮對過程中的各個階段收集的數據進行分析，並調整制程，從而達到改進與保証質量的目的。SPC的定義4SPC的兩個誤區1.SPC≠SQC2.SPC≠管制圖51.SPC≠SQCPROCESS原料測量結果針對產品所做的仍只是在做SQC針對過程的重要控制參數所做的才是SPC62.SPC≠管制圖•SPC包括各種統計方法，來管制制程。•管制圖是一種品管統計方法，是在SPC中運用最廣泛的一種，可用來計算制程能力。7•能生產均一品質產品的制程固有能力。•制程被管制時，表示制程中生產的產品品質變動是什么程度的量。•一切品質特性都具有它的目標值（TargetValue),品質與目標值的偏差越小越優秀。什么叫制程能力？8制程能力指數的定義•Ca-准確度•Cp-精確度•Cpu-上區間制程能力指數•Cpl-下區間制程能力指數•Cpk-制程能力指數•Cmk-機械能力指數•Pp-制程性能精確度•Ppu-上區間制程性能指數•Ppl-下區間制程性能指數•Ppk-制程性能指數9aC製程能力指標2ˆ)()2/(dRTXCa雙邊規格制程准确度—反映制程中心与规格中心偏离的状况。制程能力指數的計算方法Remark:μ：规格中心Usl(Su)规格上限Lsl(Sl)规格下限T：公差Usl-Lsl當Ca為負數時，表示准確度與規格中心比較偏左﹔反之則偏右﹔若Ca=0時，表示與規格中心相重合，此時准確度最佳﹔但通常情況亦有在Ca前加絕對值，則代表不考慮偏移方向，只計算偏移量。當規格中心不對稱時，Ca計算方法為：Ca=(X-(Usl+Lsl)/2)/T/210pC製程能力指標內變差只考慮到固定變差或組單邊規格下規格界限單邊規格上規格界限雙邊規格2ˆ)(ˆ3)(ˆ3)(ˆ6dRLSLXCXUSLCLSLUSLCppp=S/C411常數表2312pkC製程能力指標2ˆˆ3ˆ3),min(dRSxCxSCCCClplupuplpupk好比：兩人團隊跑步，團隊成績等于兩人中最差成績的那一位CPK=CP（1-Ca）13及組間變差都考慮進去內變差製程績效所表達的是組1)(ˆˆ3ˆ3),min(12nxxSxPxSPPPPniilplupuplpupk制程性能指标（Ppk）14CPK與PPK之區別•CPK指的是制程能力指數﹐亦稱為短期制程能力指數﹔PPK指的是制程性能指數﹐亦稱為長期制程能力指數。•CPK反映的是固定變異或組內變異﹔PPK反映的是組內變異與組間變異。•CPK適用的場合是有依一定規律一定數量分組的數據進行的制程能力的統計分析﹔PPK適用的場合是無法進行分組的數據的制程性能分析。15kssxkxnxxsnxxkikiiniii122112ˆ1ˆ1)(valuesampleofnumbervaluesasmpletheofsummkC機器能力指數什么是CMK16mumlCandCvaluestwotheofsmallestˆ3ˆˆ3ˆˆ6ˆ6mklmlumulumCSCSCSSTCmkC機器能力指數17何時應用Cmk指數•新機器驗收時•機器大修後•新產品試製時•產品不合格追查原因時•在機械廠應和模具結合在一起考慮1822Ca﹑Cp﹑Cpk與Pp﹑Ppk之等級判定19CaseStudy•Q1:Cpk與如下哪些因子有關﹖•Q2﹕何種情景下Cpk與Ppk會差距很大﹖反之呢﹖•Q3﹕Ca與Cp有何內在相關性﹖Remark:μ：规格中心Usl(Su)规格上限Lsl(Sl)规格下限T：公差Usl-Lsl20結束語