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NB/T47013.2—××××(JB/T4730.2)I目次前言·····························································································································II1范围··························································································································12规范性引用文件···········································································································13术语和定义·················································································································14一般要求····················································································································25检测工艺及其选择········································································································66承压设备熔化焊焊接接头射线检测结果评定和质量分级·····················································197承压设备管子及压力管道熔化焊环向焊接接头射线检测结果评定和质量分级··························248检测记录和报告·········································································································27附录A(规范性附录)工业射线胶片系统的特性指标··························································29附录B(资料性附录)黑度计(光学密度计)定期核查方法·················································30附录C(资料性附录)暗室安全照明时间确定···································································31附录D(资料性附录)典型透照方式示意图······································································33附录E(资料性附录)环向对接焊缝透照次数确定方法·······················································38附录F(规范性附录)焦点尺寸计算方法·········································································45附录G(规范性附录)几何不清晰度(Ug)计算方法··························································46附录H(资料性附录)滤光板························································································47附录I(规范性附录)定位标记的放置原则······································································48附录J(资料性附录)底片硫代硫酸盐离子浓度测量方法···················································52附录K(规范性附录)对比试块的型式和规格···································································53附录L(资料性附录)管子-管板角焊缝射线照相技术要求·················································55UnRegisteredNB/T47013.2—××××(JB/T4730.2)II前言本标准NB/T47013(JB/T4730)《承压设备无损检测》分为13个部分:——第1部分:通用要求;——第2部分:射线检测;——第3部分:超声检测;——第4部分:磁粉检测;——第5部分:渗透检测;——第6部分:涡流检测;——第7部分:目视检测;——第8部分:泄漏检测;——第9部分:声发射检测;——第10部分:衍射时差法超声检测;——第11部分:X射线数字成像检测;——第12部分:漏磁检测;——第13部分:脉冲涡流检测。本部分为NB/T47013(JB/T4730)的第2部分:射线检测。本部分按GB/T1.1—2009《标准化工作导则第1部分:标准的结构和编写》给出的规则起草。本部分代替JB/T4730.2—2005《承压设备无损检测第2部分:射线检测》中的内容,与JB/T4730.2—2005相比,主要技术变化如下:——扩大了标准的适用范围,增加插入式管座角接接头对接焊缝、安放式管座角接接头对接焊缝和管子-管板角焊缝的X射线及γ射线检测技术和质量分级要求,并取消了钢的分类;——修改和增加了部分规范性引用文件;——增加了射线检测专用术语和定义的内容;——增加Tm170和Yb169射线源应用的规定;——修改了工业射线胶片系统分类,将胶片分为C1、C2、C3、C4、C5和C6六类。胶片类型的选择按照新的分类标准重新进行修订,同时补充了胶片灰雾度测量的相关要求;——修改了黑度计核查时机的内容;——增加了标准密度片的黑度范围和测量点数目的相关规定;——增加了内偏心透照(F<R)时透照次数的计算公式(附录E);——增加了增感屏质量及使用要求、中屏材料及厚度范围、以及Tm170和Yb169两种γ射线增感屏材料及厚度范围,并明确了增感屏制造标准;——增加了孔型像质计应用的内容,并修订了不同材料的像质计适用的工件材料范围及像质计使用和放置原则;——增加了暗室安全照明时间确定的内容;——增加了射线检测工艺规程内容的基本要求和验证的相关规定;UnRegisteredNB/T47013.2—××××(JB/T4730.2)III——修改了特殊条件下射线检测技术等级允许放宽原则;——修改了检测时机要求,明确检测时机应满足相关法规、规范、标准和设计技术文件的要求,同时还应满足合同双方商定的其他技术要求;——增加了焊接接头检测区宽度范围确定的内容;——增加了胶片透照技术和底片观察技术应用的内容;——增加了确定管座角焊缝、椭圆形封头和蝶形封头小r区的焊缝,以及其他曲率连续变化的焊缝一次透照长度的原则;——增加了有效评定区搭接的技术要求;——修改了结构限制特殊情况下小径管的透照原则;——增加了安放式和插入式管座角焊缝采用源在内透照方式时f的放宽原则;——增加了胶片与被检工件之间距离的放置原则;——增加了γ射线源曝光时间限值和限制使用多源曝光的规定,以及球罐全景曝光像质计摆放要求;——增加了滤光板应用的推荐技术要求(附录H);——修改了定位标记和识别标记的放置原则;——增加了胶片暗室处理试剂选用原则、胶片处理延迟时间及其底片处理质量检验的内容;——修改了底片质量要求的内容,增加了底片保存的内容;——修改了不同透照厚度应达到的像质计灵敏度,对应的材料厚度范围有所扩大,并增加了孔型像质计的灵敏度要求;——取消了“专用像质计的型式和规格”的内容;——修改了小径管专用对比试块。本部分由全国锅炉压力容器标准化技术委员会(SAC/TC262)提出并归口。本部分起草单位:中国特种设备检测研究院、江苏省特种设备安全监督检验研究院、中广核工程有限公司、甘肃蓝科石化高新装备股份有限公司、东方电气(广州)重型机器有限公司、广东省特种设备检测研究院、黑龙江省特种设备检验研究院、天津诚信达金属检测技术有限公司、辽宁仪表研究所有限责任公司。本部分主要起草人:强天鹏、沈功田、梁丽红、朱从斌、李军、程怒涛、陈玉宝、訾壮辉、孙忠波、李洪国。本部分所代替标准的历次版本发布情况为:——JB4730—94、JB/T4730.2—2005。UnRegisteredUnRegisteredNB/T47013.2—××××(JB/T4730.2)1承压设备无损检测第2部分:射线检测1范围1.1NB/T47013的本部分规定了承压设备金属熔化焊焊接接头X射线和γ射线检测技术和质量分级要求。1.2本部分适用的金属熔化焊焊接接头的金属包括钢、铜及铜合金、铝及铝合金、钛及钛合金、镍及镍合金。焊接接头的型式包括板及管的对接接头对接焊缝(以下简称“对接焊缝”)、插入式和安放式接管角接接头对接焊缝(以下简称“管座角焊缝”)和管子-管板角焊缝。[本部分适用于承压设备的制造、安装、在用检测中对接焊接接头的射线检测。用于制作焊接接头的金属材料包括碳素钢、低合金钢、不锈钢、铜及铜合金、铝及铝合金和钛及钛合金、镍及镍合金。]1.3承压设备其他支承件和结构件的焊接接头的射线检测,也可参照使用。2规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB11533标准对数视力表GB18871电离辐射防护及辐射源安全基本标准GBZ117工业X射线探伤放射卫生防护标准GBZ132工业γ射线探伤放射防护标准GB/T12604.2无损检测术语射线照相检测GB/T19348.1无损检测工业射线照相胶片第1部分:工业射线照相胶片系统的分类GB/T19348.2无损检测工业射线照相胶片第2部分:用参考值方法控制胶片处理GB/T19802无损检测工业射线照相观片灯最低要求GB/T23901.2无损检测射线照相底片像质第2部分:阶梯孔型像质计像质指数的测定NB/T47013.1承压设备无损检测第1部分:通用要求JB/T5075无损检测射线照相检测用金属增感屏JB/T7902射线照相用线型像质计与2005版对照与2005版对照UnRegisteredNB/T47013.2—××××(JB/T4730.2)23术语和定义GB/T12604.2和NB/T47013.1界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1透照厚度Wpenetratedthickness射线照射方向上材料的公称厚度。多层透照时,透照厚度为通过的各层材料公称厚度之和。3.2工件至胶片距离bobject-to-filmdistance沿射线束中心测定的工件受检部位射线源侧表面与胶片之间的距离。3.3射线源至工件距离fsource-to-objectdistance沿射线束中心测定的射线源与工件受检部位射线源侧表面之间的距离。3.4焦距Ffocaldistance沿射线束中心测定的射线源与胶片之间的距离。3.5射线源尺寸dsourcesize射线源的有效焦点尺寸。3.6圆形缺陷roundflaw长宽比不大于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷。3.7条形缺陷stripyflaw长宽比大于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷。3.8透照厚度比Kratioofmax.and
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