八种不同来源二氧化硅的红外光谱特征研究

304Vol．30No．420118BULLETINOFTHECHINESECERAMICSOCIETYAugust2011430070。。、。TQ314A1001-1625201104-0934-04InvestigationonFT-IRSpectroscopyforEightDifferentSourcesofSiO2CHENHe-shengSUNZhen-yaSHAOJing-changCenterforMaterialsResearchandAnalysisWuhanUniversityofTechnologyWuhan430070ChinaAbstractEightdifferentsourcesofSiO2wasdistinguishedbyFouriertransforminfraredspectroscopyinthepaper．Althoughtheyaresimilarininfraredspectrumtherearedifferencesinthecharacteristicpeaksofinfraredspectrumcausedbydifferenceofformingmechanismorcompositemethod．AccordingtothethecharacteristicpeaksofinfraredspectrumdifferentsourcesofSiO2canbeeasilyidentified．TheresultswillprovidescientificprooffortheexploitationstudyandapplicationofSiO2．KeywordsSiO2differentso[e-mail]1SiO2、、、、、。、、。、、、1。“”。。FT-IR、、、。、。493522．1Nexus。KBrKBrDTGSKBr4cm-1644000～400cm-1。2．2、、、、、、、。33．1111086cm-1、1168cm-1Si-O-Si798cm-1、779cm-1、695cm-1、515cm-1462cm-1Si-O2。3．22、、21083cm-1、1167cm-1Si-O-Si795cm-1、779cm-1、692cm-1461cm-1Si-O515cm-1。。1Fig．1FT-IRofquartz2Fig．2FT-IRofquartzsand3．3331085cm-1、1170cm-1Si-O-Si798cm-1、779cm-1、695cm-1、519cm-1462cm-1Si-O。3．4441087cm-1、1166cm-1Si-O-Si798cm-1、781cm-1、694cm-1、512cm-1464cm-1Si-O。3．55%～10%SiO2·nH2O。551095cm-1Si-O-Si93630794cm-1470cm-1Si-O1640cm-1H-OH3411cm-1-OH3。3Fig．3FT-IRofquartzcrystal4Fig．4FT-IRofcarnelian3．6X、、。SiO2·nH2O。6461095cm-1Si-O-Si798cm-1、466cm-1Si-O3450cm-1-OH1638cm-1H-O-H955cm-1Si-OH。4。5Fig．5FT-IRofopal6Fig．6FT-IRofwhitecarbonblack3．7KBr7。75SiO2·xH2O。1093cm-1Si-O-Si799cm-1、467cm-1Si-O3449cm-1-OH1637cm-1H-O-H958cm-1Si-OH550℃8Si-OHSi-O-Si。2961cm-1、2930cm-1、2857cm-15-7。3．88、110℃4hKBr493791113cm-1Si-O-Si800cm-1、473cm-1Si-O3455cm-1-OH1635cm-1H-O-H972cm-1Si-OH700℃10Si-OHSi-O-Si。2923cm-1、2852cm-15-79。7Fig．7FT-IRofunburnednanometersilicapowder8550℃Fig．8FT-IRofnanometersilicapowderburnedat550℃9110℃4hFig．9FT-IRofsilicalatexofdringfor4hat110℃10700℃Fig．10FT-IRofsilicalatexburnedat700℃41090cm-1Si-O-Si800cm-1Si-O470cm-1Si-O。、。1．、J．2011119-23．2．M．1982NO．2．10．3．M．1982NO．2．36．4．J．201018513-16．5．SiO2J．20063561176-1179．6．J．2010293681-685．7．SiO2J．2005333281-286．8．P03109915．7．2004-10-13．9．J．200638614-16．