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基于S3C44B0的半导体分立器件测试系统的开发作者:乔爱民学位授予单位:东南大学参考文献(47条)1.陈洪半导体工业的未来2002(04)2.分立器件钱途光明3.查看详情4.查看详情5.查看详情6.查看详情7.查看详情8.查看详情9.长电科技长电科技股份有限公司产品介绍10.北京华峰测控技术有限公司查看详情11.刘妙佰人科技带着新品上市场12.田泽嵌入式系统开发与应用200513.何立民嵌入式系统的定义与发展历史[期刊论文]-单片机与嵌入式系统应用2004(1)14.王田苗嵌入式系统设计与实例开发200315.SteveHeathEmbeddedsystemsdesign199716.ArnoldBerger嵌入式系统设计:anintroductiontoprocesses,toolsandtechniquesanintroductiontoprocesses,toolsandtechniques200217.周立功ARM微控制器基础与实战200318.马忠梅.徐英慧AT91系列ARM核微控制器结构与开发200319.张连明.霍迎辉嵌入式系统的设计与开发[期刊论文]-现代电子技术2003(18)20.吕京建.肖海桥面向二十一世纪的嵌入式系统综述21.陈章龙.唐志强.涂时亮嵌入式技术与系统200422.晶体管及其种类与参数23.张东卫基于嵌入式的半导体分立器件测试系统的开发200324.潘淳基于CPLD模拟系统总线的半导体分立器件测试系统的开发200325.ARM简介26.洪毅峰基于ARM的嵌入式USB主机系统设计[学位论文]硕士200527.邢远秀嵌入式加油机刷卡系统的研究与开发[学位论文]硕士200528.王海波基于S3C44B0X的便携式列车管压力测试仪研究[学位论文]硕士200529.张俊峰基于ARM芯片的机车制动监测系统研究[学位论文]硕士200430.刘永锋基于嵌入式技术远程环保监测装置的研究与开发[学位论文]硕士200431.杜红彬基于ARM嵌入式系统的智能流量显示与积算仪[学位论文]博士后200432.李剑32位ARM嵌入式处理器的调试技术2001(12)33.深圳英蓓特信息技术有限公司EmbestIDE用户手册200334.S3C4510User'SManual35.S3C4480User'SManual36.AMD公司Am29LV160DTManual37.ANALOGDEVICE公司AD7545Manual38.BURR-BROWN公司ADS7805Manual39.田泽嵌入式系统开发与应用试验教程200540.新智工作室VB6.0中文版教程200041.韦源.于平VisualBasic程序设计基础200142.仵浩.齐燕杰.宋文超VisualBasic串口通信工程开发实例导航200343.胥静嵌入式系统设计与开发实例详解200544.张万忠.孙晋可编程控制器入门与应用实例:三菱FX2N系ytJ200545.邹金慧可编程控制器及其原理200246.徐世许可编程序控制器原理·应用·网络200147.MITSUBISHI公司FXlS、FXlN、FX2N、FX2NC编程手册2001相似文献(6条)1.学位论文刘伟平基于嵌入式技术的半导体分立器件测试系统的开发2003随着国家信息化步伐的加快以及用信息技术改造和提升传统产业的推动,中国的分立半导体器件封装测试行业也有了飞快的发展,对中小型分立器件测试系统提出了很大的需求.目前国内市场上的主流测试系统都为进口设备,价格昂贵,所以在价格与性能之间寻找合适的切入点,开发新型的分立器件测试系统具有很大的科研和经济意义.论文结合嵌入式系统应用开发技术的发展,在江苏长电科技股份有限公司新型分立器件测试系统的开发中做了一些工作.一同拟订了层次化测试系统的组成结构,设计并调试了基于总线方式的测试主机的部分功能电路板,初步实现了预定功能;同时,对在嵌入式Linux上应用开发的一些方面进行了探索,包括通过实现JFFS文件系统使用FLASH以及Linux上的中断硬件驱动程序的开发,取得了一些阶段性的成果,推进了整个项目的正常进行,为完成测试系统的开发任务做了基础性的软硬件设计工作.该文首先初步介绍了开发新型测试主机系统的必要性和基本设计方案的组成,方案决定结合嵌入式系统开发技术的发展,使用高性能的32位微控制器MotorolaColdfireMCF5272,在嵌入式操作系统的支撑环境下,构建层次化分布式的分立器件测试系统.其次,介绍了嵌入式系统的发展以及使用嵌入式Linux的优越性.随后,该文介绍了在测试系统中嵌入式软硬件的组成结构,着重介绍了嵌入式Linux的开发调试模式以及在嵌入式Linux上进行应用程序开发的一些关键技术.最后,介绍了整个分立器件测试系统的组成结构,包括测试主机内部的各功能电路板的组成及设计,测试主机上的控制程序以上位PC上软件的组成结构.2.期刊论文乔爱民.王艳春.戴敏.史金飞半导体分立器件测试系统研制-工业控制计算机2008,21(2)半导体分立器件测试系统是提升半导体分立器件测试和封装企业自动化水平的一种重要的检测设备.介绍了一种基于ARM微处理器S3C44BOX的半导体分立器件测试系统.在分析了测试系统的测试原理和半导体分立器件待测参数后,概括介绍了测试系统的软硬件设计.3.学位论文张东卫基于嵌入式技术的半导体分立器件测试系统的开发2004本论文介绍了基于32位嵌入式处理器MCF5272,在嵌入式操作系统μClinx平台下,进行的半导体分立器件测试系统的软硬件开发工作。首先,介绍了当前嵌入式系统的发展状况、选用32位嵌入式处理器开发半导体分立器件测试系统的优势、以及嵌入式操作系统特别是μClinux的功能特点,总结了在32位处理器开发中应用嵌入式操作系统的优越性。分析了嵌入式系统开发调试过程中常用的两种方式,即串口调试和JTAG仿真器调试,重点介绍了运用串口调试方式在μClinux平台下的软件开发模式。接着,介绍了半导体分立器件测试主机的功能结构。详细介绍了使用可编程逻辑器件,将32位处理器高速总线时序转换成适合测试设备总线宽度、相对低速的总线时序的软硬件实现方法。介绍了测试系统±800V电压的产生原理、实现方法及其电路设计特点等,以及nA级微弱漏电流的测试方法与硬件电路设计特点。最后,介绍了分立器件测试系统下位机功能软件的设计,包括μClinux环境下的串口通信软件设计,上下位机底层控制协议的制订和实现,以及数据存储中出现的字节对齐和字节排序问题的解决。并且介绍了μClinux环境下在Flash存储器上实现文件动态存储的方法,以及测试系统底层控制函数的封装。4.学位论文朱彬晶体管测试机的嵌入式主板及其Web功能的研究和实现2005以晶体管为主的半导体分立器件的需求不断增大,开发新型的半导体分立器件测试系统具有很好的科研和经济意义。本文围绕测试机中核心主板的软硬件再设计过程,就所涉及到的技术问题进行了分析和研究,以便为测试机的进一步开发和完善提供参考。本文分析了嵌入式系统的应用和研究趋势,结合本研究室所开发的晶体管测试机的技术现状,提出了新型晶体管测试机的组成方案,即采用先进的ARM处理器,嵌入式操作系统uClinux,实现测试机系统的本地显示和嵌入式Web服务器功能,以实现基于局域网的分布式测试机系统。分析了实现这一目标所需的关键技术后,在硬件方面,基于ARMS3C4510B嵌入式处理器对核心测控主板进行重新设计,包括扩展LCD接口;结合新的微处理器的特征,利用CPLD技术,对原测试机系统总线信号的产生也进行了改进设计,提高了系统性能。软件方面,从兼容性出发,沿用uClinux嵌入式操作系统,通过适当的修改,完成了移植工作;进行了LCD模块的软件设计,使系统具有简单而实用的本地显示功能;而作为本文的主要目标之一,对嵌入式系统的Web服务器功能进行了研究开发,并取得了初步的成功。论文还对实现以上目标所涉及到的具体技术问题,如开发环境的建立、基于JTAG的调试、目标板程序加载和基于宿主PC机的交叉编译等,进行了必要的论述。同时对uClinux环境下应用程序的开发、运行以及嵌入式Web服务器的实现进行了具体的阐述。5.期刊论文乔爱民.戴敏.史金飞.QIAOAi-min.DAIMin.SHIJin-fei基于ARM的半导体分立器件测试主机系统总线-自动化与仪表2007,22(1)半导体分立器件测试系统是提升半导体分立器件测试和封装企业自动化水平的一种重要的检测设备.介绍一种基于ARM微处理器S3C44BO的半导体分立器件测试系统测试主机系统总线的生成方法.在分析了测试系统的组成、S3C44BO的特点及测试主机系统总线性能要求后,完成了测试主机系统总线的生成.6.学位论文潘淳基于CPLD模拟系统总线的半导体分立器件测试系统开发2004本论文结合嵌入式系统开发与可编程逻辑器件应用技术的发展,在江苏长电科技股份有限公司新型半导体分立器件测试主机的开发中做了重要的软/硬件设计工作,并取得了很好的课题成果:一同拟订了层次化测试系统的组成结构;设计调试CPU板与AD/DA板,实现了模拟系统总线控制方式和半导体器件高精度测试;完成了PC机上测试工艺软件的编程,实现了PC机、测试主机与分选机的控制连接;并提出了新的测试主机控制方案。同时,还对ARM处理器构成嵌入式系统进行了研究,包括硬件设计、操作系统移植与应用软件编程。 首先,初步介绍了课题背景知识,描述了研制新型测试主机的必要性和设计方案的基本思路。接着,介绍了嵌入式系统的开发与可编程逻辑器件应用技术,讨论了将这些技术与测试系统开发相结合的可行性和优越性,着重阐述了基于CPLD模拟系统总线方案的实现过程。在分析了典型的测试电路组成后,说明了高精度AD/DA测试电路硬件设计与调试方法。随后,阐述了上位机软件模块的设计与功能划分,描述了通讯规约。最后,对课题进行了总结,提出了控制方式的两种新思路,并进行了简要的分析说明。本文链接:授权使用:上海海事大学(wflshyxy),授权号:44ae4829-8c66-46fb-bf0a-9ded0043e3a5下载时间:2010年9月10日
本文标题:基于S3C44B0的半导体分立器件测试系统的开发
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