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芯片设计实现介绍北京中电华大电子设计有限责任公司微电子技术20世纪最伟大的技术信息产业最重要的技术进步最快的技术基尔比(JackKilby)的第一个安置在半导体锗片上的电路取得了成功-“相移振荡器”,世界上第一块集成电路在TI诞生,基尔比据此获得诺比尔物理奖。芯片是现代社会生活消费类产品的基石集成电路和集成电路设计概念集成电路:把组成电路的元件、器件以及相互间的连线放在单个芯片上,整个电路就在这个芯片上,把这个芯片放到腔体中进行封装,电路与外部的连接靠引脚完成。集成电路设计:根据电路功能和性能的要求,在正确选择系统配置、电路形式、器件结构、工艺方案和设计规则的情况下,尽量减小芯片面积,降低设计成本,缩短设计周期,以保证全局优化,设计出满足要求的集成电路。集成电路设计输出:最终输出是掩膜版图GDS数据,通过制版和工艺流片可以得到所需的集成电路。设计与加工之间的接口是版图数据。微电子技术飞速发展与摩尔定律自从芯片诞生以来,芯片的发展基本上遵循了英特尔公司创始人之一的GordonE.Moore1965年预言的摩尔定律。该定律说:当价格不变时,集成电路上可容纳的晶体管数目,约每隔18个月便会增加一倍,性能也将提升一倍。换言之,每一元所能买到的电脑性能,将每隔18个月翻两倍以上。芯片设计是集成电路产业链中的关键环节,是连接市场需求和芯片加工的重要桥梁,是表现芯片创意、知识产权与专利的重要载体。设计的本质是创新,芯片加工工艺存在着物理限制的可能,而芯片设计则可以在不同层次的加工舞台上发挥无尽的创造活力,从这个意义上说,忽略设计,就忽略了明天,掌握了设计,就掌握了未来集成电路设计过程和方法集成电路的设计过程:设计创意+仿真验证是功能要求行为设计(VHDL)行为仿真综合、优化——网表时序仿真布局布线——版图后仿真否是否否是Signoff电子设计自动化CAD辅助设计支持规模越来越大、复杂度越来越高的芯片开发第一代IC设计CAD工具出现于20世纪60年代末70年代初,但只能用于芯片的版图设计及版图设计规则的检查。第二代CAD系统随着工作站的推出,出现于80年代。其不仅具有图形处理能力,而且还具有原理图输入和模拟能力。如今CAD工具已进入了第三代,称之为EDA系统。其主要标志是工具支持全流程系统级到版图设计。芯片分层分级设计系统级算法级寄存器传输级(RTL)门级电路(开关)级物理级系统级行为、性能描述CPU、存储器、控制器子系统、电路板算法级I/O算法硬件模块、数据结构部件间物理连接RTL级状态表ALU、寄存器、MUX宏单元门级布尔方程门、触发器单元版图电路级微分方程晶体管、电阻、电容晶体管版图物理级全芯片版图芯片设计规模和加工工艺节点设计规模:一般以等效逻辑门来计算,一个二输入与非门算1个门,一个触发器等效6个门,现在SoC都在100万门-1000万门级别。工艺节点:一般以MOS晶体管沟通长度的特征值来表征工艺节点,如0.18um、0.13um、90nm、65nm、40nm、28nm,为了降低成本,缩小芯片面积,还会有0.162um、0.11um、55nm等半工艺节点,它是通过光学的处理方法把版图数据X、Y方向各缩小10%,达到面积缩小20%。SMIC0.18um工艺MOS器件沟道长度MOS器件沟道长度为0.18um,是标准的0.18um工艺,版图设计为0.18um,最后在硅片器件也是0.18um。HGEF1300.13um工艺MOS器件沟道长度MOS器件沟道长度为0.15um,是非标准的0.13um工艺,版图设计为0.15um,最后在硅片器件也是0.15um。后端工艺采用90nm工艺,最后等效看相当于0.13um的水平TSMC65nm工艺MOS器件沟道长度MOS器件沟道长度为0.65,是标准的0.65nm工艺,版图设计为60nm,经过光学处理最后在硅片器件是65nm。SMIC55nm工艺MOS器件沟道长度MOS器件沟道长度为55nm,是半工艺节点,版图设计为60nm,经过光学处理最后在硅片器件是55nm。芯片设计前端流程图市场需求产品需求需求分解产品规格系统设计模块设计编码实现仿真验证设计实现流程SoC芯片结构IOIOIOIOIOIOIOIOIOIOCPULogicModuleALogicModuleBLogicModuleCAnalogModuleAAnalogModuleBAnalogModuleCSOCMemoryModuleAMemoryModuleB基于Verilog硬件描述语言的前端设计硬件描述语言优点用软件描述语言的方式表达硬件,容易理解高效成熟的设计流程支持,缩短芯片开发时间世界通用的标准设计语言,设计重用性好功能验证速度快Verilog编码示例设计文档Verilog编码复杂模块的编码示例芯片仿真验证波形图能够直观看到芯片的功能,供设计者确认和debug使用模拟电路设计模拟电路仿真标准单元版图设计标准单元是已设计好的具有一定逻辑功能的单元电路,这些单元电路已经完成了紧凑的布局布线,经过严格测试,能保证逻辑功能和严格时序芯片设计实现流程图前端(设计)后端(实现)预逻辑综合扫描链插入功能/时序/形式验证逻辑综合优化门级设计检查(GateNetlistReview)版图规划时序驱动布局布线时钟树综合版图后功能/时序/形式验证测试图形生成版图GDSMerge物理验证芯片版图检查(TapeoutReview)芯片版图数据(GDSII)手工版图编辑门级功耗分析预布局布线版图前时序验证SI/IRDrop/EM分析RC寄生参数提取延迟计算版图后功耗分析RTL代码检查(RTLReview)(设计选项)(设计选项)基于标准单元的芯片版图设计概念:从标准单元库中调用事先经过精心设计的逻辑单元,并排列成行,行间留有可调整的布线通道,再按功能要求将各内部单元以及输入/输出单元连接起来,形成所需的专用电路芯片布局:芯片中心是单元区,输入/输出单元和压焊块在芯片四周,基本单元具有等高不等宽的结构,布线通道区没有宽度的限制,利于实现优化布线。标准单元库:标准单元库中的单元是用人工优化设计的,力求达到最小的面积和最好的性能,完成设计规则检查和电学验证不同设计阶段调用不同描述芯片版图布局布局将模块安置在芯片的适当位置,满足一定目标函数。对级别最低的功能块,是指根据连接关系,确定各单元的位置,级别高一些的,是分配较低级别功能块的位置,使芯片面积尽量小。芯片版图布线布线根据电路的连接关系(连接表)在指定区域(面积、形状、层次)百分之百完成连线。布线均匀,优化连线长度、保证布通率。802.11nWiFi无线通信芯片完整版图TSMC65nm1P7M数模混合工艺芯片版图验证与检查DRC:几何设计规则检查ERC:电学规则检查LVS:网表一致性检查POSTSIM:后仿真(提取实际版图参数、电阻、电容,生成带寄生量的器件级网表,进行开关级逻辑模拟或电路模拟,以验证设计出的电路功能的正确性和时序性能等),产生测试向量集成电路制造工艺双极型集成电路制造工艺(TTL、ECL)CMOS集成电路制造工艺(主流工艺)BiCMOS集成电路制造工艺(混合工艺)芯片版图层次我们把设计过程抽象成若干概念性版图层次,这些层次代表线路转换成硅芯片时所必需的掩模图形,在硅片上形成晶体管和互联,实现功能。它们一组相互套合的图形,各层版图相应于不同的工艺步骤,每一层版图用不同的图案来表示,由这些层经过逻辑运算得到加工Mask数据。一个55nm工艺的智能卡芯片有超过40层的mask芯片中晶体管纵向结构图芯片材料-单晶硅锭和晶圆采用旋转拉伸的方式单晶硅锭,单晶硅锭:整体基本呈圆柱形,重约100千克,硅纯度99.9999%。然后经过切片、圆边、研磨、抛光得到晶圆(Wafer)。芯片制造(晶圆加工)芯片中金属互连线金属层:在不同晶体管之间形成复合互连金属层。芯片表面看起来异常平滑,但事实上可能包含20多层复杂的电路,放大之后可以看到极其复杂的电路网络。芯片中的晶体管连线(扫描电镜照片)90纳米工艺晶体管扫描电镜图成人头发直径75-150um,即晶体管有效沟道长度小于头发直径的1/1000.完成加工后的12英寸圆片
本文标题:芯片设计实现介绍
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