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浅谈DDR3杨先生2016.11.23DDR发展史存储的概念:只读存储器ROM(readonlymemory)EROM:可编程的ROM;EPROM:可擦除可编程ROM;EEPROM:电可擦除可编程ROM;NANDFLASH/NORFLASH:FlashMemory闪存;随机存储器RAM(randomaccessmemory)SRAM:StaticRAM/静态存储器DRAM:DynamicRAM/动态存储器SDRAM:同步动态随机存储器RAMROM访问速度快、掉电后数据会丢失、读写时间相等,且与地址无关掉电后数据不会丢、存取速度低、只读数据、非易失性SRAMDRAMSDRAMEROMEPROMEEPROMFLASH利用双稳态触发器来保存信息、只要不掉电信息不会丢失的、速度非常快利用MOS管的栅电容存储电荷来储存信息,因此通过不停的给电容充电来维持信息、速度比SRAM慢,不过还是比任何ROM都要快单一的系统时钟同步所有的地址数据和控制信号,提高系统表现、简化设计、提供高速数据传输可编程的、一次性可编程的、通过紫外光的照射擦出原先的程序可编程的、通过电子擦出、价格高、写入时间很长、写入很慢、即插即用结合了ROM和RAM的长处;具备(EEPROM的性能,还不会断电丢失数据同时可以快速读取数据.擦写方便、非易失性、可读可写访问速度快、功耗低、体积小利用浮置栅上的电容存储电荷来保存信息,因为浮置栅不会漏电,所以断电后信息仍然可以保存。NANDFLASHNORFLASH写入和擦除的速度比NOR快、高存储密度、执行擦除操作十分简单写入和擦除速度慢、传输效率很高、读速度比NAND稍快一些SDRAM:SynchronousDynamicRandomAccessMemory,同步动态随机存储器,同步是指内存工作需要同步时钟,内部的命令的发送与数据的传输都以它为基准;动态是指存储阵列需要不断的刷新来保证数据不丢失;随机是指数据不是线性依次存储,而是自由指定地址进行数据读写。DDRSDRAM(DualDateRateSDRAM)简称DDR,也就是“双倍速率SDRAM“的意思。DDR可以说是SD-RAM的升级版本,DDR在时钟信号上升沿与下降沿各传输一次数据,这使得DDR的数据传输速度为传统SDRAM的两倍。由于仅多采用了下降沿信号,因此并不会造成能耗增加。至于定址与控制信号则与传统SDRAM相同,仅在时钟上升沿传输。DDR2/DDRII(DoubleDataRate2)SDRAM是由JEDEC(电子设备工程联合委员会)进行开发的新生代内存技术标准,它与上一代DDR内存技术标准最大的不同就是,虽然同是采用了在时钟的上升/下降延同时进行数据传输的基本方式,但DDR2内存却拥有两倍于上一代DDR内存预读取能力(即:4bit数据读预取)。DDR3相比起DDR2有更低的工作电压,从DDR2的1.8V降落到1.5V,性能更好更为省电;DDR2的4bit预读升级为8bit预读。DDR3目前最高能够1600Mhz的速度,由于目前最为快速的DDR2内存速度已经提升到800Mhz/1066Mhz的速度,因而首批DDR3内存模组将会从1333Mhz的起跳。DDR区别比较DDR3工作模式MR0:BL(4/8)、突发传输类型(顺序/交错)、CAS延迟、写恢复时间WRMR1:DLL使能、TDQS使能、输出使能、ALMR2:自刷新温度范围、自动刷新使能、CAS写潜伏CWL、AL、RTT调整、输出阻抗调整MR3:多用途寄存器MR,用于控制器读取DDR3颗粒的一些信息。DDR2:1、增加数据预读取2、延迟增加但是增加PostCAS技术、ODT、OCD。3、DDR2内存采用的是支持1.8V电压的SSTL18标准4、FBGA封装DDR31、8bit预取设计,而DDR2为4bit预取2、DDR3内存采用的是支持1.5V电压的SSTL15标准3、增加reset、zq校准功能DQM4、突发长度(BurstLength,BL=8/4)5、寻址时序(Timing)6、参考电压分成两个:命令与地址信号的VREFCA和数据总线的VREFDQ7、点对点连接(Point-to-Point,P2P)。DDR:1、DDR是一个时钟周期内传输两次次数据,提升速率2、DDR运用了更先进的同步电路,使指定地址、数据的输送和输出主要步骤既独立执行,又保持与CPU完全同步;3、DDR使用了DLL(DelayLockedLoop,延时锁定回路提供一个数据滤波信号)技术,当数据有效时,存储控制器可使用这个数据滤波信号来精确定位数据,每16次输出一次,并重新同步来自不同存储器模块的数据。4、DDR内存采用的是支持2.5V电压的SSTL2标准DDR3测试方法以及测试内容测试方法1、校准示波器:对示波器进行预加热(泰克示波器)菜单“Utilittes”中“instrumentcalibration”选项,点击“runspc”进行SPC(signalpathcompensation)校准2、探头校准:校准差分探头与单端探头的相位差。首先调节单端探头的offset为0.75V,调节单端/差分探头幅值为200mV/div;然后使用差分探头测量与单端探头同时测量DDR的同一DQSP/N数据时钟信号,单端探头与差分探头P脚为测量同一点,使用游标测量出不同通道同一信号的相位差;最后点击菜单“vertical”中“deskew”选项,在deskewtime选项中填入测量出的相位差,再次测量同一信号,使得两个探头的相位差为零。3、在DDR3颗粒端测量写数据、写地址、写控制信号等;在CPU端测量读数据信号。注意:在测试地址信号、控制信号的时候注意探头正负与信号PN相对应测试内容注意DDR3与DDR3L手册参数不同1、供电电压A、绝对电压范围如下:B、工作电压条件2、DC与AC直流特性A、DC电压特性与输入条件B、高低电平判决C、AC上过冲下过冲见DDR3手册P49D、差分输入信号条件(单端测试与差分测试)E、tDVAC是数据超出Vih保持的时间。3、DC与AC交流特性建立保持时间1示波器带宽的限制导致信号斜率的限制,选用13、DC与AC交流特性A、Base值选取地址/命令的建立保持时间的tBase数据的建立保持时间的tBaseIS(totalsetuptime)=IS(base)+ΔISDQIH(totalholdtime)=IS(base)+ΔIHDQ建立保持时间2B、斜率计算时钟斜率的计算:(VIL,diff,max见2.D)地址/命令的建立保持时间的Δt数据的建立保持时间的ΔtC、建立保持时间查表根据时钟与地址命令斜率的计算,得出建立保持时间的补偿值读写判断根据前导码(可能不准确,常用方法)根据边沿对齐(常用方法)根据控制信号线(示波器探头不够用)根据经验---幅值大小(可能不准确)DDR3需要注意的问题PCB原则1、信号走线分布在邻近地平面走线层,避免信号走线穿过电源或地分割区域,必须保证DDR信号走线都有完整的GND参考平面。布线时避免改变走线参考层面;相邻走线层走线尽力垂直交叉,避免平行走线2、所有信号线尽量短,并在走线路径上少打过孔,保证走线阻抗的连续性。3、端接VTT的电阻如果使用阻排,同一阻排上的信号必须属于同一DDR信号线组,尤其避免DQS与地址/控制线分布在同一阻排上。4、相邻信号走线间距满足3W原则5、DDR周边的线应尽量远离此区域6、每一组DQS、DQ、DM走同一层,且参考相同的GND层7、DQS、DM、CK控制4W原则8、负载stub尽可能短。建议clock走线stub150mils,CTRL走线stub200mils,ADD/CMD走线stub260mils9、为了避免串扰,数据信号组与地址/命令/控制信号组之间的走线间距至少20mil,建议它们在不同的信号层走线。10、所有信号的走线长度控制在2inch(5cm)最好。。11、所有DDR的差分时钟线CK与CK#必须在同一层布线,误差+-20mil(+-10mil最好),最好在内层布线以抑制EMI。如果系统有多个DDR器件的话,要用阻值100~200ohm(分叉点小于1000mil)的电阻进行差分端接。12、地址线/命令/控制信号线与时钟信号走线的误差为+-400mil,组内走线误差为+-50mil13、数据信号组的走线长度与时钟信号线的误差为+-500mil,组内同一信道的信号线走线误差为+-50mil(+-25mil)最好电源滤波建议每个电源管脚放置一个100nf的陶瓷滤波电容,并紧靠电源管脚摆放;整个DDR3功能单元供电电源至少有一个10uf的对地滤波电容VREF布线建议如下:1、根据SSTL-15协议要求,VREF参考电压为0.49~0.51DVDDIF,VREF分压电阻必须使用1%精度电阻,为了降噪,VREF走线宽度不得小于20mil。2、控制器与DDR3颗粒的VREF参考电平就近用分压电路得到3、每个Vrefpin要加去耦电容且走线尽量宽,与其它信号线间隔20-25mil4、如果有条件进行包地处理。VTT(DDR_VTT)布线建议如下:1、在总线末端放置终端电阻,在电阻末端布VTT电源线。2、VTT走线(最好用局部电源铜皮)要做够宽,保证载流能力。3、VTT电源芯片尽量靠近终端电阻,减小回路消耗。4、每四个信号间方式1个或2个0.1uF去耦电容,减小对VTT的干扰。5、VTT电源走线(或铜皮)处应放置10~22uF的大电容,且保证2个以上。6、采用LDO供电(整个DDR电源都要用LDO供电)7、VTT表面走线宽度至少150mil,推荐250mil注意:1、VTT与VREF走线/平面在同一层,必须具有150mil的距离,推荐它们在不同层2、上电时序:VTT开始上电必须在VDDQ之后,避免器件latch-up,推荐VTT和VREF同时上电。
本文标题:浅谈DDR3
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