粉末衍射图指标化原理和应用指南

粉末衍射图指标化原理和应用指南作者：董成作者单位：中国科学院物理研究所超导国家重点实验室,北京100190本文读者也读过(2条)1.沈春玉XRD法测定超稳分子筛晶胞参数[会议论文]-2.任永利.米镇涛时间分辨原位同步X射线衍射技术在分子筛研究中的应用[期刊论文]-化学通报2004,67(9)本文链接：