6250B功能及操作说明

1.硬體概要LeadedFixture150KOhmLeadedFixture2.規格特性„連接介面(CHANNEL)：2組,PORTA/B„頻率範圍：15KHz—220MHz„頻率準確性：±1PPM,atseries（typical）（串聯諧振頻率的典型值）„晶體激勵功率：100pW—1000uW（≤50MHz）1nW—500uW（50MHz）注意：若使用者設定的功率超出上述的極限範圍，則會出現相應的警告資訊。„PI網路規格：測試頭可以是12.5Ω的測試座，也可爲50Ω的測試座，而測量條棒狀低頻晶體(1MHz以下)，則使用750Ω/150KΩ測試座。Cy,寄生電容„因每種測試座的並聯電容（CS）不同，每次在兩PI網路間切換時，250B軟體將要求輸入測試座的寄生電容（Cy）值。當使用physicalFLmode量測時，Cy值必須注意輸入相應的值注意2.50Leaded150KOhmPI1.48Leaded750OhmPI1.44SMD50OhmPI1.44SMD12.5OhmPI1.48Leaded50OhmPI1.48Leaded12.5OhmPICyVALUEDESCRIPTION3.軟體概要主功能選項工具列統計資料顯示主要資訊量測data與結果4.功能及操作說明4.1File（檔案）最近使用過的檔案New–開新檔案Open–開啟舊檔Save–儲存檔案SaveAs–另存新檔PrintSetup–印表機設定PrintPreview–預覽列印Print–列印Export–資料匯出Send–以電子郵件傳送4.2Edit（編輯）EditCrystalNumber–修改測試編號DisplaySelection–變更統計資料顯示Cut–剪下Copy–複製Paste–貼上統計資料測試資料4.2.1DisplaySelection„變更統計資料顯示選擇統計資料區的顯示列數Yield–製成率%PassCounts–合格數FailCounts–不良數Mean–平均值SD–標準差Cp–製程精密度Cpk–製程能力指標Bin–分桶/分類Min–最小值Max–最大值4.3View（檢視）狀態列–訊息顯示於左側Toolbar–顯示/隱藏工具列StatusBar–顯示/隱藏狀態列InternalTestTypes–允許使用者重新定義量測參數的名稱Graph–圖型顯示SaveWindowLocation–儲存目前作業視窗大小/位置RestoreWindowLocation–還原作業視窗大小/位置FactoryWindowLocation–使用出廠預設之視窗大小/位置4.3.1Graph„250B提供三個圖形欄位，可將所選定之參數以圖形方式表現，做為統計應用。123步驟1.選定圖形欄位(相對位置如下)步驟2.選擇參數[注意]只有測試區內含括之參數可被選擇4.4Run（執行）„所有測試模式及網路分析之入口選項選擇連續量測→連續模式選擇單次量測→手動模式打勾,序號自動增加NetworkAnalyzer–執行網路分析儀Measure–單次量測模式ContinuousMeasure–連續量測模式FindFrequency–搜尋頻率4.4.1NetworkAnalyzer（網路分析儀）„適用於晶振頻率掃瞄、工程分析，以及校正作業。步驟1.選擇FrequencySweep功能步驟2.選擇RFIn/Out–Phase模式，並將RightAxisOff該選項打勾。[注意]:若要觀察阻抗，則選擇|z|–Phase模式步驟3.按下Change功能鍵，進行掃瞄設定„頻率掃瞄設定實例（25MHz）執行掃瞄Sweep自動調整圖形比例(執行掃瞄後按此鍵,使圖形易於觀測)AutoscaleRFIn/Out設定平均測量次數(次數越多,掃瞄越精準,相對也較費時)Averages設定掃瞄點數(點數越多,圖形越精密,相對也較費時)Points設定掃瞄的寬度Span設定掃瞄的中心頻率,Hz為單位Center掃瞄開始/結束之頻率(取決於Center及Span之設定)Start/Stop設定功率，一般可使用0dBm基準功率表示。Power顯示/操作面板當每次按下Sweep進行掃瞄結束後，再按下AutoscaleRFIn/Out使圖形優化。„頻率掃瞄結果（振盪波形）|z|模式X軸:頻率HzY軸:阻抗OhmsRFIn/Out模式X軸:頻率HzY軸:分貝dB諧振頻率(dB最大值)諧振頻率(阻抗最小值)4.4.2FindFrequency(搜尋頻率)„250B提供此一功能，可快速搜尋基本頻/倍頻諧振頻率以及副波。2步驟4.按下Start鍵,開始搜尋頻率[建議設定]¾Start=1MHz=1,000,000Hz¾StepSize=10KHz=10,000Hz41步驟1.輸入Power,功率值步驟2.輸入Start,搜尋開始之頻率3步驟3.輸入StepSize,搜尋過程中之步進大小(步進值越小,搜尋越精準,相對也較耗時)„搜尋頻率結果再次測試結束鍵搜尋結果~Fundamental(基本頻)Fr=24,992,737Hz可得知測試晶體為25MHz基本波設計4.5Port（介面）„Port功能表用於選擇啟動介面，共有兩種類型的測試座能夠連接到250B。交替選擇兩介面允許使用者不必拿掉或連接測試座而改變測試介面。介面校準完成後，使用者不需要每次重新校準來切換兩介面。可以從Port功能表中點擊Portdisplaybox來選定介面。4.6Miscellaneous（其他）ClearMeasurements–清除測量資料AllowEditing–允許編輯EditSetup–編輯摘要設定DeleteMeasurement–刪除測量資料MoveTestType–移動測試型態ConfigureGraph–圖形更改InternalStandard–採用內部基準頻率ExternalStandard–採用外部基準頻率(10MHz)BeepOnPass–測量為良品時,發出蜂鳴聲BeepOnFail–測量為不良品時,發出蜂鳴聲BeepOff–關閉蜂鳴器BeepAlways–不論測量為良品或不良品,都發出蜂鳴聲OutputRawMeasurements–原始資料輸出4.6.1AllowEditing„AllowEditing功能可允許使用者編輯或鎖定部份系統功能，例如：摘要資訊、校準、以及測試對話窗。正常狀態下，該功能預設為允許使用者編輯狀態。鎖定時，所有可編輯的白色區域均變成灰色(如下圖)，裏面的內容不能修改。當取消AllowEditing時，系統立即要求輸入密碼。該功能等效於按下Unlock圖示按鈕。4.6.2EditSetup„選擇EditSetup功能將調出SetupDescription對話窗，並在對話窗裏輸入摘要資訊（誰修改的文件，及改變的內容是什麽），軟體將自動記錄修改的資料。這個選項能被用來監控某個測試檔的變化。該功能等效於按下圖示按鈕EditSetup。建立:（人）修改:（人）修改的內容4.6.3MoveTestType„MoveTestType選項允許使用者改變主畫面下的測量順序或列印順序，通過下拉式視窗從可供選擇的測試類型中選擇某一參數。對話窗底部的按鈕可直接移動測試類型的排列。4.6.4ConfigureGraph„ConfigureGraph選項允許使用者自訂圖形。包含圖形、字型、顏色、線條等式樣，藉以優化圖形。„圖形輸出步驟1.首先選擇欲輸出圖形之欄位[ConfigureGraph→1…,2…,3…]步驟2.出現自訂圖形對話方塊後，點選Export(輸出)步驟3.出現輸出對話方塊後，¾選擇BMP¾選擇File後,按下Browse決定存檔路徑¾Pixels(像素)–使用者自訂圖形大小¾Export–將圖形輸出到指定的存檔路徑„自訂圖形實例4.7Help（幫助/說明）„Help功能表提供250B網路分析儀的各種資訊。包含版本資訊及系統軟體版本。DLL文件包含了250B卡板上的一個線路庫，軟體驅動器，PLD晶片，及一個包含校準資訊的NVRAM。這些內容主要用於故障處理。校準資料中，則指示出了系統介面及卡板上次校準的時間，它同時也顯示了內部時鐘的校準以及校準資料。5.參數設定細項說明„FL晶片量測晶片CrystalBlank陶瓷振盪器量測陶瓷振盪器CeramicResonator5MHz以下頻率低頻帶/高Q值起振時間較慢的對象HighQ/HighTimeConstant頻率分散大FR與FL差距較大,或是頻率分散範圍大於300ppm以上者Wide5MHz以上頻率標準方式Normal運用對象說明SweepTypeWide（寬帶掃瞄）寬帶掃描比常態掃描有更寬的掃描範圍，而且寬帶掃描的範圍可由使用者設定。寬帶掃描需設定測量次數用以計算平均數，並設定開始掃描頻率、停止掃描頻率（ppm），以及每步搜尋的長度（用ppm表示）。平均測量次數越多，掃描幅度越大，掃描的步長越小，則掃描的精度越高，但卻需要耗費更多的掃描時間。Start–掃瞄開始之頻率Stop–掃瞄結束之頻率SearchStep–頻率搜尋之步長Average–平均測量次數HighQ（高Q值晶體掃瞄）高Q值晶體有瞬變的趨勢，在作頻率掃描時這種暫態瞬變可能截斷測量。高Q值掃描需要數次測量來取平均數，以參考頻率爲中心，開始掃描頻率和停止掃描頻率用ppm表示，掃描步長用ppm表示，延時時間用秒表示。取平均次數越多，掃描幅度越大，搜尋步長越小，延時時間越長，均能提高掃描的精度，但是卻增加了執行掃描的時間。Delay–延時時間„DFLDFL,二個不同電容負載間的頻率偏差量計算二個不同電容負載之間的負載頻率偏差量，一般以ppm單位來表示。計算式:FL@CL1–FL@CL2[注意]CL設定時，必須要將負載(pF)小的設為CL1，負載大的設為CL2否則量測結果會全數呈現負值，而判定NG。掃描範圍內最大副波之阻抗值SPUR掃描範圍內最大副波之頻率(加負載)SPFL掃描範圍內最大副波之頻率(無負載)SPFR掃描範圍內最大副波與主波的阻抗比SPRR掃描範圍內最大副波與主波的增益值,dBSPDB定義參數Steps（掃瞄分割點數）大約以20~100ppm做為平均分割量，再參照掃瞄範圍來決定分割點數。分割點數越大，則掃描的精度越高，但卻需要耗費更多的掃描時間。SPDB：SPRR：RRRR主波副波Ω+Ω+252520RRRRog副波主波l„SPDB/SPRR/SPFR/SPFL/SPURΩ+Ω+−252520RRRRog主波副波l練習:試找出FR/RR/SPFR/SPUR/SPRR主波SP1SP2SP36.69SPRR24996250HzFR23.106ΩRR25132500HzSPFR154.699ΩSPUR