开关电源可靠度试验测试规范

WI4201-02A可靠度測試規範ReliabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page1發行日期ReleaseDate90.11.12可靠度測試項目目錄NOEvaluationTestItems評價項目1TemperatureDistribution溫度分布2ComponentTemperatureRise元件溫度上昇3PartsDerating元件餘裕度4ThermalRunaway熱暴走5HighTemperatureShortCircuit高溫短路6LifeofElectrolyticCapacitor電解電容算出壽命7NoiseImmunity雜訊免疫能力8ElectroStaticDischarge靜電氣9LightningSurge雷擊10InputON/OFFAtHighTemperature高溫輸入ON/OFF11LowTemperatureOperation低溫動作確認12DynamicSourceEffect動態輸入變動13FanAbnormalOperationFANFAN異常動作14Vibration振動15Shock衝擊16AbnormalRipple異常漣波確認17HighTemperatureTest高溫測試18LowTemperatureTest低溫測試19Temperature/humidityTest溫溼度循環測試20StrifeTest壓力測試21PLDTest輸入瞬斷測試常溫、常濕：定義濕溫度５℃～３５℃，相對溼度４５﹪～８５﹪ＲＨWI4201-02A可靠度測試規範ReliabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page2發行日期ReleaseDate90.11.121.Temperaturedistribution溫度分布：1.1目的：確保待測物之可靠度；確認各元件均在溫度規格範圍內使用及有無元件異常溫度上升。1.2適用：所有機種適用。1.3測試條件：a.輸入電壓：規格範圍之最小、最大值。(AC115V/230V→AC90V/265V)b.負載：100%(最小0%、最大,100%)。c.輸出電壓：額定。d.周圍溫度：常溫。e.接線圖：1.4測試方法:a.輸入電壓加入後，穩定狀況下，測元件表面及銲接點之溫度分佈。b.參考「溫度Derating率」。c.量測之溫度與溫度Derating率比較，確認有無異常發熱元件，參考「溫度Derating率」。INPUTSOURCE待測物負載短路用治具溫度記錄器WI4201-02A可靠度測試規範ReliabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page3發行日期ReleaseDate90.11.121.5溫度Derating率NO元件名稱溫度判定標準備註１電阻電阻最高耐溫之８０﹪２電容電容最高耐溫減５℃３半導體1.SchottyDiode取Tj之９０﹪2.其它半導體（電晶體MOSFET取Tj之８０﹪）熱暴走高溫短路測試Ta:55℃Load:100﹪Ta:65℃Load:70﹪Input:85V/265V時（Tj*80﹪）+5℃為判定基礎４基板1.FR-4:115℃2.CEM-3:110℃3.CEM-1:100℃4.XPC-FR:100℃5.判定：PCB最大耐溫減１０℃與基板板厚無關５變壓器（含電感）絕緣區分：A種Ｅ種Ｂ種標準溫度：105℃120℃130℃熱偶式：90℃105℃110℃Abnormal:150℃165℃175℃WI4201-02A可靠度測試規範ReliabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page４發行日期ReleaseDate90.11.122Componenttemperaturerise元件溫度上升：2.1目的：確保待測物之可靠度，確認各元件均在溫度規格內使用。2.2適用：所有機種適用。2.3測試條件：a.輸入電壓：規格範圍之最小、額定、最大。b.負載：規格範圍之最大。c.輸出電壓：額定。d.周圍溫度：常溫。e.接線圖：2.4測試方法：a.依測試條件設定，當溫度達到熱平衡後，以熱電偶測定元件溫度，基板上之元件銲點需測量溫度。b.參考溫度Derating計算出最大溫升規格值△t.(i.e.DeratingCurve在100%Load100%下最高至50℃，則以附表ＡDerating率之溫度減去50得100%之LOAD下之△t.；60℃時，Derating率為70%，則減去60得到70%之△t.)實際負載在100%時依減50℃之△t.為規格值。c.元件之選擇以R-1溫度分佈測得之發熱較多元件做測定。d.元件實際溫升不能超過計算得出之△t.。INPUTSOURCE待測物溫度記錄器負載WI4201-02A可靠度測試規範ReliabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page５發行日期ReleaseDate90.11.123.Partsderating元件餘裕度：3.1目的：確保待測物之可靠度，確認元件實際使用時能在絕對最大額定下之Derating率範圍內。3.2適用：所有機種適用。3.3測試條件：a.測試待測物在下列條件下一次測和二次測主迴路波形（電流波形和電壓波形）１．定額輸入和輸出２．低壓起動３．短路開機４．開機後短路５．滿載關機（不做記錄）b.各迴路波形和元件耐壓請參考「元件Derating」c.接線圖：INPUTSOURCE待測物SCOPE負載WI4201-02A可靠度測試規範ReliabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page６發行日期ReleaseDate90.11.123.4元件DeratingNO元件名稱溫度判定標準備註１電阻80﹪電阻最高耐壓之90﹪Surge取耐壓之95﹪２電容電容最高耐壓之85﹪（AC輸入電容取耐壓之95﹪）Ripple電流取100﹪鉭質電容取耐壓之80﹪３二極體（Diode）VRMVRSMISFMSurgeSCR80﹪95﹪90﹪90﹪TRIAC80﹪95﹪90﹪90﹪Bridge-Diode80﹪95﹪90﹪90﹪Diode80﹪95﹪90﹪90﹪ScottyDiode90﹪95﹪90﹪90﹪ZenerDiode90﹪90﹪LED80﹪95﹪90﹪90﹪４電晶體MOSFETVDSS/VCE:取規格之95﹪VGSS/VBE:取規格之95﹪ID/IC:取規格之95﹪IB:取規格之95﹪５Fuse取額定電流之70﹪Surge:65﹪Surge：I2tWI4201-02A可靠度測試規範ReliabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page7發行日期ReleaseDate90.11.124.Thermalrunaway熱暴走：4.1目的：確認過負載、出力短路下，保護之餘裕度。4.2適用：所有機種適用。4.3測試條件：a.輸入電壓：規格之輸入電壓範圍最小、最大值，（例85V/265V）。b.負載：100%及70%(例55℃為100﹪，65℃為70﹪)。c.周圍溫度：最高動作溫度┼5℃，輸出DeratingCurve100%下溫度上限┼5℃。d.輸出電壓：額定。e.接線圖：4.1.4.4測試方法：a.參照部品溫度上昇結果確定待測部品，以熱電偶量測。b.電源輸入後，連續觀測繪出溫度上昇值，確認飽和點。c.若有FAN裝置於待測物，需實際模擬安裝於系統之情形進行測試。INPUTSOURCE待測物溫度記錄器負載電流電壓恒溫槽WI4201-02A可靠度測試規範ReliabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page8發行日期ReleaseDate90.11.125.Hightemperatureshotycircuit高溫短路：5.1目的：確認輸出短路放置後，待測物之可靠度。5.2適用：除未加短路保護機種外所有機種適用。5.3測試條件：a.輸入電壓：規格範圍之最大輸入電壓。(實測取最大，例265V)b.輸出電壓：額定值。c.周圍溫度：動作溫度上限┼5℃(例65℃)。d.接線圖：4.1.5.4測試方法：a.待測物在設定測試條件下，輸出短路2小時以上。b.記錄溫度上昇之情形，參照溫度Derating，不能超過規定溫度。c.解除短路狀態後確認輸出仍正常，部品不能有損壞。INPUTSOURCE待測物示波器負載WI4201-02A可靠度測試規範ReliabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page9發行日期ReleaseDate90.11.126.Lifeofelectrolyticcapacitor電解電容算出壽命：6.1目的：推定待測物之壽命，並確認其可靠度。6.2適用：所有機種適用。6.3測試條件：a.輸入電壓：額定值。b.輸出電壓：額定值。c.負載：額定。d.周圍溫度：40℃。e.接線圖：6.4測試方法：a.額定之輸出、輸入時，在規定之周圍溫度下，依下式計算：L1=LS．2L1:實際之有效壽命LS:部品使用溫度範圍上限下之有效壽命T1:部品之使用溫度範圍上限T2:實際使用溫度。b.算出之壽命時間應≧規格所示。T1–T210INPUTSOURCE待測物示波器實效值負載WI4201-02A可靠度測試規範ReliabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page10發行日期ReleaseDate90.11.127.NoiseImmuuity雜訊免疫力：7.1目的：確保待測產品之可靠度，確認輸入對加入脈衝之耐受程度。7.2適用：所有機種。7.3測試條件：a.規格上有規定者，依規格實施。b.周圍溫度：常溫、常濕。c.輸入電壓：115Vd.輸出電壓：額定。e.負載電流：100%。f.脈衝規格：規格書所列值*110%(50ΩTermination)[如規格為±2.2KV則脈衝以±2.2KV*110%=±2.2KV施加]脈波寬為。100nS,500nS,1000nS，時間五分鐘。g.接線圖：7.4測試方法：a.依條件施加脈衝於輸入─輸入間，輸入─Ground間，應無動作異常(含突入電流限制回路、異常振盪等)保護回路誤動作及元件損壞發生，測試時，輸出電壓之安定度應在總和變動規格範圍內。INPUTSOURCE待測物示波器電阻負載WI4201-02A可靠度測試規範ReliabilityTestSpecification編號No.WI7308修訂日期AmendmentDate版本VersionV.01頁次Page11發行日期ReleaseDate90.11.128.Electrostaticdischarge靜電破壞：8.1目的：確保待測產品之可靠度，確認產品對靜電氣之耐受程度。8.2適用：規格書上規定之機種。8.3測試條件：a.周圍環境：常溫、常濕。b.輸入電壓：額定(實測AC115V)c.輸出電壓：額定d.負載：額定100%e.施加電壓：規格書之數值X110%[ChargeCapacitor500pF-SeriesResistor100Ω]，時間≧10sec.f.接線圖：4.1.8.4測試方法：a.待測物Ground部位，依條件施加脈衝電壓分接觸外殼及隔離放電實施；不能有保護回路誤動作，元件破損之