您好,欢迎访问三七文档
当前位置:首页 > 电子/通信 > 综合/其它 > 实验6-结型场效应管共源放大电路实验
实验6JFET-CS放大电路测试报告班级:姓名:实验目的:学习了解场效应晶体管放大电路的基本结构、原理、测试过程。通过实验、仿真,了解JFET主要参数的获取、电路的静态工作点、增益等参数的计算和测试方法。实验设备及器件:笔记本电脑(软件环境:Multisim13.0、WaveForms2015)AD2口袋仪器电容:0.1μF(独石或瓷片等无极性电容)10μF(电解电容)电阻:300Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩFET:2SK30A(或其他JFET,封装为TO-92)面包板、杜邦线实验内容:电路如图6.1所示。0.1100k230SKA++ivov1R2R3R1C2C10300LR10k+5V1k图6.1实验电路1.测量FET的主要参数(Voff、IDSS)鉴于FET参数非常分散,例如2SK30A,其后缀为GR(2SK30AGR)漏极饱和电流IDSS的范围是2.6—6.5mA,截止电压Voff的范围为-0.4⁓-5V(具体手册参数见附件)。因此本实验需要先行测试元件的主要参数,所实际测得的参数用于计算电路静态工作点及增益等,也用于修改仿真软件模型参数,以便获得相对准确的仿真结果。在面包板上搭建图6.2(a)电路(栅源为0偏压,即:VGS=0),测试此时源极电阻的电压,进而得到源极(也是漏极)电流,该电流就是漏极饱和电流IDSS。再通过图6.2(b)电路(静态自给偏压偏置电路)测源极电阻两端电压,从而得到此时的栅源电压及漏极电流,也就是得到一个栅源的负偏压值VGS及漏极电流ID,利用这两个值并通过漏极电流公式计算出Voff。填入表6-1。+5V()aR300230SKA+5VR300230SKA()b100k1R图6.2FET参数测试电路公式:𝑖𝐷=𝐼𝐷𝑆𝑆(1−𝑣𝐺𝑆𝑉𝑜𝑓𝑓)2表6-1实测FET主要参数参数IDSS(测试得出)Voff(计算得出)数值3.3mA-2.527v2.用得到的参数IDSS、Voff修改仿真模型:在仿真软件中结型场效应晶体管的模型是Shichman-Hodges模型,需要根据测得的参数修改Multisim模型中的两个参数:截止电压VT0及跨导系数BETA(β)。修改后的模型用于仿真(注意:跨导系数不是理论教学中的跨导gm)。3.𝑉𝑇0=𝑉𝑜𝑓𝑓=_−2.527V_______𝛽=𝐼𝐷𝑆𝑆𝑉𝑜𝑓𝑓2=5.168∗10^−44.搭建图6.1电路,计算、仿真及测试静态工作点,并填入表6-2:(1)通过理论计算计算IDQ、VGSQ并填入表6-2。{𝑉GSQ=−𝐼DQ𝑅2𝐼DQ=𝐼DSS(1−−𝐼DQ𝑅2𝑉off)2→{𝐼DQ=____________𝑉GSQ=____________(2)使用新建的模型仿真静态工作点并填入表6-2。(3)通过测试源极电阻直流电压,获取静态工作点并填入表6-2。表6-2FET电路的主要静态和动态参数静态IDQ静态VGSQ静态VDSQ交流电压增益Av计算值2.63mA-0.789v1.581v3.326仿真值1.95mA-0.585v2.465v1.094测试值1.98mA-0.595v2.426v1.5905.理论计算增益,并测试、仿真输入输出波形,仿真和测试时选择输入峰值50mV1kHz正弦信号。屏幕拷贝波形于下方,并通过输入、输出信号的峰-峰值之比计算仿真及测试的增益值,将计算、仿真、测试的增益值填入表6-2。6.7.(1)理论计算增益:𝑔𝑚=__3.026𝑚𝑠__________𝐴𝑣=−𝑔𝑚(𝑅3𝑅𝐿)1+𝑔𝑚𝑅2=3.326___________(2)仿真输入、输出波形,并贴于下方:图6.3仿真所得输入、输出波形(屏幕拷贝贴图)仿真增益为:𝐴𝑣=−𝑉𝑜𝑝−𝑝𝑉𝑖𝑝−𝑝=_______________(3)搭建电路并使用AD2实测输入、输出波形,并贴于下方图6.4测试所得输入、输出波形(屏幕拷贝贴图)测试增益为:𝐴𝑣=−𝑉𝑜𝑝−𝑝𝑉𝑖𝑝−𝑝≈_______________8.思考并回答:(1)为什么输入端可以使用较低容量的耦合电容(0.1μF),而输出端使用10μF的耦合电容?输出端的信号得到了放大,大电容的容抗更小,能减少信号在输出端的分压。(2)若将FET的源极与漏极对调,电路的参数(如静态工作点、交流增益等)会如何变化?为什么?不会变化,当不加外部电压和电流时,FET的源极和漏极内部结构是一样的(3)若源极电阻并联一个旁路电容,工作点及交流增益将如何变化?偏置电路不受影响,工作点基本保持不变,但增益会变大(4)若漏极电阻增大到多少时,FET将工作于可变电阻区?(5)如果负载RL减小,本级的增益将会减小、不变、增大?减小,由公式可知,R3和RL电阻并联结果会减小,从而减小增益9.分析计算、仿真、测试误差的来源。实际测量时,由于元器件的数值存在误差,实验过程受外界影响,结果和仿真值存在差距。计算时,解方程会会舍去一定数据,导致误差。10.本部分实验体会。结型管的增益比较小,计算实验过程中更容易出现误差,由于栅极绝缘,导致输入电阻很大。附录一2SK30A参数附录二结型场效应晶体管JFETShichman-Hodges模型仿真时需要通过测试得到夹断电压Voff及饱和电流IDSS。并修改模型参数中的:𝑉𝑇0=𝑉𝑜𝑓𝑓𝛽=𝐼𝐷𝑆𝑆𝑉𝑜𝑓𝑓2
本文标题:实验6-结型场效应管共源放大电路实验
链接地址:https://www.777doc.com/doc-5871412 .html