DCDC电源模块测试及老化系统的开发和应用

DC/DC电源模块测试及老化系统的开发和应用作者：毛振敏，项佩瑜作者单位：航天科技集团一院检测中心,北京,100029刊名：电子元器件应用英文刊名：ELECTRONICCOMPONENT&DEVICEAPPLICATIONS年，卷(期)：2003，5(2)被引用次数：0次相似文献(10条)1.会议论文MattMcGreer自然气候老化测试及应用2001本文描述了自然气候条件对材料老化的影响以及对预测材料不同应用方向等方面的影响.通过对不同地点、不同老化方法的比较,重点介绍了目前国际上使用的老化方法-直接曝晒、黑板箱曝晒、间接曝晒、自然加速老化等多种标准方法的特点,使用的局限性以及对材料老化结果的影响,并详细介绍了适用于自然老化地点的选择,主要影响因素等等.文章在分析多种老化方法的同时,指出了各种方法的适用性,这对材料老化方面的研究有很大的参考价值和指导意义.2.学位论文张京规模化生产中的测试老化监控系统的设计与实现2008随着我国自主数控系统及相关产品的产业化发展，国产数控系统的性能已经达到了世界一流水平，但是国产数控系统在规模化生产中的产品质量问题却成为制约自主数控系统继续发展的瓶颈。对一个好的数控系统，不但要求高性能指标，而且还要求高稳定性。为了保证大批量出厂的数控产品高可靠性工作，就必须对数控产品在出厂前进行完善的测试。高温老化测试就是其中的一项重要测试。通过高温老化测试可以使元器件的缺陷和焊接、装配等生产过程中存在的隐患提前暴露，保证出厂的数控系统能经得起时间的考验。br　　鉴于以上原因，设计开发了一套由计算机控制的测试老化过程自动监控系统。该系统的设计，在功能实现上，采用模块化的设计思想；通过可靠的硬件架构和完善的监控软件实现对温湿度实时采集和自动控制；并通过视频监控系统和工作状态监控系统对数控系统工作状态和环境状况进行实时监控。br　　本文介绍了高温动态老化自动监控系统研制的目的和意义，确定了测试老化监控系统的研制目标，对测试老化监控系统的总体结构进行了设计。br　　本文的重点内容是：温湿度控制系统的设计与实现；视频监控系统的实现；详细说明了数控产品工作状态监控系统的设计思想和具体实现方法。br　　最后简要介绍了测试老化监控系统的功能测试和验证。3.期刊论文颜景莲.王玲.梁星才汽车用高分子材料的老化测试技术进展-工程塑料应用2004,32(11)介绍影响汽车材料老化的主要因素,概述了国内外关于汽车材料、零部件、整车等的老化测试技术最新进展,包括自然老化和人工加速老化.另外,针对汽车内饰件和外饰件使用环境不同,给出了相关的试验标准.4.学位论文冯斌一个数据库老化测试工具的设计与实现2007现有的数据库性能测试方法，没有关注数据库内部数据量对数据库性能的影响。针对这一不足，本文探索了数据库老化测试方法，利用该方法可获得数据库内部数据量对性能的影响程度。本文首先介绍了数据库性能测试的基本概念、相关标准和常用工具；然后介绍了数据库老化测试工具的总体设计，给出了老化测试工具的组织结构，描述了老化测试工具主要模块的功能；接着详细介绍了老化功能的设计和实现，在明确老化操作目标的基础上，探讨了老化数据的生成方法，还描述了老化曲线的模拟方法；随后详细叙述了测试功能的实现方法，对控制模块、测试模块、代理模块和终端模拟模块分别作了具体介绍；最后结合对TPC-C的标准数据库和一个现有的人事履历数据库进行老化测试的过程，说明了老化测试工具的应用方法。本文提出的数据库老化测试方法，是对现有的数据库测试方法的扩展。利用本文介绍的老化测试工具得到的测试结果，对数据库应用系统的设计有一定的参考价值。5.会议论文肖颖.周庆平.余珺集成电路老化测试插座的结构形式2008集成电路(IC)老化测试插座(以下简称老化测试插座)主要应用于集成电路产品的检测、老化、筛选等场合,其最大的用户是集成电路器件制造厂.本文对集成电路老化测试插座的结构形式做一简单的介绍.6.会议论文肖颖.周庆平.余珺集成电路老化测试插座的结构形式2008集成电路(IC)老化测试插座(以下简称老化测试插座)主要应用于集成电路产品的检测、老化、筛选等场合，其最大的用户是集成电路器件制造厂。本文对集成电路老化测试插座的结构形式做一简单的介绍。7.会议论文王小波SOJ32型集成电路老化测试插座的设计2004老化测试是集成电路生产制造过程中的重要环节,测试插座是这一环节中必不可少的重要元件,它为集成电路应用可靠性的验证提供了重要保证.文章主要介绍了SOJ32型集成电路老化测试插座的结构设计、材料选择以及产品的测试结果,并对产品的主要性能参数进行了理论计算.8.学位论文吴少芳微波裸芯片测试与老化临时封装技术的研究2009无线通信系统的小型化、智能化要求高性能、高集成度和高可靠性的微波组件或模块。微波组件和模块的广泛应用促进了对微波裸芯片的大量需求。现有的技术条件下微波裸芯片主要是通过常温下的探针测试而获得一定质量保障的裸芯片，但高可靠应用场合需要对裸芯片进行-55℃～150℃温度范围的性能测试和高温老练筛选，因此如何保证所使用的微波裸芯片能够达到用户所需要的质量等级和可靠性水平成为一个急需解决的问题。本文在分析国内外裸芯片的测试筛选技术的基础上，提出了采用微波裸芯片测试和老练筛选临时封装夹具的方法实现对微波裸芯片的测试和老练筛选。通过研制一套临时封装载体，利用该临时封装载体对微波裸芯片进行装载后，实现对微波裸芯片的高低温测试和高温老化筛选。本文研究分析了微波传输线、阻抗匹配设计、热效应影响、微波信号接口与接地、裸芯片与电气互连衬底的电接触、寄生电容电感等对微波裸芯片临时封装载体的影响因素和设计要求，完成了对微波裸芯片电气互连衬底和为电气互连衬底提供机械支撑的夹具部分的设计。选择微带线作为微波信号的传输线，在阻抗匹配的设计方面采用50欧姆特征阻抗，夹具的底座使用导电性能与导热性能优良的铜金属材料，采用金属凸点的连接方式实现裸芯片与衬底的电气互连。选用PPS高温材料注塑获得了符合设计和使用要求的夹具支撑结构；选择聚酰亚胺及罗杰斯RT5880材料及合适工艺获得了电气互连衬底。用WFDxx和WFDxxx两种微波单片集成电路（MMIC）功率放大器裸芯片对夹具以及电气互连衬底进行了验证，实现了常温下的微波裸芯片电特性参数的测试，获得了正常的电参数特性曲线，包括Id-Vd特性曲线、转移特性曲线和gm-Vg特性曲线。在裸芯片的测试中，临时封装载体对裸芯片起到了保护和电气互连的作用，测试和老化筛选过程不会对裸芯片造成影响应用的损伤，验证了本文对微波裸芯片临时封装测试载体设计的合理性，并且具有工程实用性。本文的研究成果对国内微波裸芯片的质量及可靠性的提高有着积极的意义。9.期刊论文MattMcGreer自然气候老化测试及应用-环境技术2001,19(4)描述自然气候条件对材料老化的影响以及对预测材料不同应用方向等方面的影响.通过对不同地点、不同老化方法的比较,重点介绍了目前国际上使用的老化方法-直接曝晒、黑板箱曝晒、间接曝晒、自然加速老化等多种标准方法的特点,使用的局限性以及对材料老化结果的影响,并详细介绍了适用于自然老化地点的选择,主要影响因素等等.文章在分析多种老化方法的同时,指出了各种方法的适用性,这对材料老化方面的研究有很大的参考价值和指导意义.10.学位论文刘林春功率裸芯片的测试与老化筛选技术2008功率裸芯片广泛应用于汽车电子、家电等电子系统的功率模块，确保所使用的裸芯片具有高度的可靠性是提高产品成品率的关键。为了提高功率裸芯片的质量与可靠性，本文主要研究了功率裸芯片的测试与老化筛选技术。针对功率裸芯片测试与老化筛选时具有的大电流、高温度的特点，本文改进了原用于常规裸芯片的临时封装夹具系统，并进行了可靠性验证分析。试验结果发现：1)采用新型衬底的夹具系统接触电阻明显减少，大尺寸多凸点的新型衬底设计与原衬底相比接触电阻平均减少了40％，即大大减少了衬底凸点与芯片电极之间的散热量；2)夹具采用铜质盖板代替塑料盖板，加强了夹具系统的散热能力，其耐受电流能力从不到2.5A提高到3A以上；3)通过分析接触压力对接触电阻的影响并结合接触对裸芯片电极造成的损伤情况，确定了合适的接触压力，使其能在裸芯片与衬底之间实现可靠电连接的前提下达到微损伤的目的。试验结果表明，改进后夹具系统的散热能力、耐电流能力都有了明显的改善，抗冲击能力也得到了提高。在完成夹具系统的改进工作之后，通过研究功率裸芯片的失效机理，确定了功率裸芯片可靠性试验的筛选项目、筛选应力条件，并拟定了筛选程序。在筛选方法中，电功率老化是功率裸芯片可靠性试验最重要的方法，为防止在电功率老化过程中出现应力不足或者过应力失效，通过深入研究结温的测量与控制技术，指出了常用的线性近似法的不足之处，提出了适合功率裸芯片的测结温方法。最后，通过峰值结温法完成了老化筛选功率裸芯片，并通过探针测试对试验结果进行了验证。在准确测量和控制结温的基础上，功率裸芯片的电功率老化筛选有两种实现方案，除本文给出的峰值结温老化筛选法以外，还可以考虑采用满功率连续脉冲老化筛选法，这也是今后进一步研究的课题。本文链接：授权使用：西昌学院(xcxy)，授权号：fea379aa-581c-444b-b7eb-9e9d00ed6e30下载时间：2011年3月5日