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通用量具方法教材第一章量规/仪器管理之重要性•1-1各企业的生产部门对自己所制造出来的产品之尺寸测量或性能试验之确定。•1-2各种产品在开发/研究或造过程中之各种测验与检查之可靠性。•1-3无论生产量之多寡或零件之大小都需使用。•1-4制品之品质保证与信赖度提高。•1-5产品之成本考量。•1-6公司之财产。•1-7避免双方买卖的纠纷(交易证明用)•1-8量测标准对现代社会之影响。第二章仪器设备之管理•1.量规仪器的概念凡直接或间接从事量测,分析.校正.检验.测试等作业的设备统称.•2.量规仪器的分类2-1产品特性分类1.量规(样板)类:如样圈、螺纹样板等.2.机械量测仪器类:如游标尺、孔径规、及量表等.3.电量量测仪器类:如电流表、电压表等.4.电子量测仪器类:如信号产生器、高频率表等.5.度量衡器具类:如尺、秤类、量器等.6.其他检测试验设备:如拉力试验机、硬度机、投影机等.•2-2用途分类–1.分析仪器:如显微镜、分光仪等.–2.测试仪器:如硬度试验机、压缩试验机等.–3.制备装置:如车床、研磨器等.–4.量测仪器:如测微计、游标尺等.–5.侦测装置:如压力计、流量计等.•2-3以性质分类1.标准件:如块规、砝码等.2.仪器:游标卡尺、天平、扭力计等.•3.影响量测精度之因素1.量测时之环境影响:如温度、湿度、光线明暗等.2.量测时量器本身之影响:灵敏度发生故障,精度面受损伤,内部生锈、装置不良等.3.量测人员技术之影响:如保养不良、量测压力不当待测件夹持方式不对,观察姿态不正确,及读数错误等.4.选用不当量器之影响:检校不同之量器或工作,应用不同精度之量器,一般依被检校者之精度选用适当量器,量测器之精度必须是被量测器精度之十倍.5.被量测件本身之影响:量测面有油污秽质,受热受压变形,精度面受损等.6.其他偶然性之影响:如突然日光射入量器,或发生极大振动或由人体之辐射热影响等.•4.量规之使用与保养欲完成精确之量测工作,对量具要深加注意,以作合理之使用与良好之保养.倘因使用不当,则必增加误差;保养不良,则必损伤精度,不但减少其使用寿命,甚至还可能影响产品品质.使用前后注意事项分述如下:4-1.使用前注意事项1.工作物表面不得有毛发、油污及渣屑等杂物.2.量规应清洁擦干净,量面无腐蚀与碰击等痕迹.3.要有定期(有效)校验标识,必要时在使用前查验一次.4.量规应整齐分别排列于适当的地方,不可重叠放置,并应作适当保养,保持清洁.•4-2使用时注意事项1。量规与工作物均宜放正,不可偏斜,并避免手触及测量面。2。测量压力应适当,使用一般量具时,仅需半磅至二磅之压力即可相当于铅笔写字时之压力。3。工件夹持方式要适当。4。切不可在机器开动时应用量规量测。5。切不可将量规强行推入工件中或夹于虎钳上使用。6。不可任意敲击或乱丢放。7。特定量规之使用有一定方法及步骤,应遵照使用。•4-3使用后注意事项1。使用后应擦拭干净,注意量面有无碰伤痕。2。量规如需每日使用,或短期存放,应擦拭清洁,涂上轻防锈油分别存于保护盒内。3。如不需经常使用或较长期储存,应先清洁再涂上防锈油,放于干燥处储存。4。保管人员应定期检视保养收存储情况。5。实施定期校验及记录。•4-4一般注意事项1。不可将量规当作敲击工具,并防止跌落,以免损坏。2。不可用粗布硬质擦拭量规之量面,以免损其精度。3。量规之量面及刻度须保持良好。4。量规之装配、拆卸、调整及修理等工作,不可擅自施行,应请量规管理单位办理。第三章通用量具的使用方法第一节卡尺1.常用卡尺的概述通用卡尺是用来测量外尺寸,盲孔,阶梯形孔及凹槽等相关尺寸的量具.2.按结构形式分为:游标卡尺电子数显卡尺带表卡尺深度游标卡尺电子数显深度卡尺.•3.各常用卡尺基本结构简图3.1我们常用的几种卡尺有:游标卡尺带表卡尺数显卡尺深度卡尺游标卡尺的结构四用带表卡尺结构刀口内量爪紧固螺钉尺身主标尺深度测量杆深度测量面尺框外量爪滚轮推手指示表电子数显卡尺结构外量爪尺框深度测量面深度测量杆主标尺尺身紧固螺钉刀口内量爪4.卡尺的操作步骤•4.1归零位移动尺框使两外测量面接触,此时指针应与表盘上方的零刻度线重合,如未重合,松开表圈下方的紧固螺钉,转动表圈使之对齐,然后拧紧紧固螺钉.•4.2测量:可进行外径,内径,台阶,深度四种尺寸测量.•4.2.1测量时卡尺及工作件均宜放正,不可偏斜,使用时卡尺测量面要与工件的被测量垂直或平行.•4.3读数方法:•4.3.1游标卡尺和带表卡尺的读数,整数部分从主尺(主刻度)上读取,小数部分之读数从副尺(次刻度)上读取.•4.3.2数显卡尺直接在数字显示器中读取.5.卡尺的保养项目A.是否在有效期內.B.齒輪傳動是否順暢C.量尺內(深度槽)是否清潔D.刻度盤指針是否歸零E.是否妥善保存.F.电子卡尺不能喷防锈油,关掉电源可用酒精擦拭.第二节高度规•1.高度规的概述高度规是用来专门测量高度或划线的量具.2.高度规的简图(如下图)2.1上计数器与下计数器的区别2.1.1上计数器通常是测量基准是在下面,测量时划线刀刃是从低到高,刻度盘的指针是顺时针旋转.2.1.2下计数器通常是测量基准是在一高度,测量时划线刀刃是从高到低,刻度盘的指针是逆时针旋转.高度规简图上计数器下计数器刻度盘滑动手柄划线刀刃归零键底座紧固螺钉•3.高度规的操作步骤3.1调零松开固定螺钉,转动手柄,使高度规划线刀刃向下运动,至贴紧划线平台,调节表盘使指针与零位对齐,再按上下表盘归零键归零.3.2划线或测量3.2.1调节转动手柄,使划线刀刃前端高于被测量工件,然后降下高度,使划线前端紧贴在被测工件上端,不能用大力转动手柄.力道要与归零时的力一样.3.2.2划线转动手柄使划线前端达到规定的尺寸高度,调节固定螺钉,用手推动高度规底座在工件位置划线.3.3读数整数从上下计数器中读取.小数从刻度盘中读取.高度规的读数上计数器下计数器刻度盘滑动轮第三节千分尺•1.千分尺概述是由尺架,测微螺杆,微分筒等部分组成的量具.主要用于外尺的比较测量.2.千分的简图测砧测微螺杆锁紧装置固定套管微分筒测力装置尺架数字显示器归零键数显千分尺结构简图•3.操作步骤3.1归零旋转微分筒使测砧平面与测微螺杆平面重合,此时固定套管的刻度与微分筒的零刻度对齐.如有校准规的,有用软布擦净校准规的测量面,再校对零位.3.1.1若千分尺读数与校对规所标数值不一致时,须松开调整螺钉,转动固定套管,直至千分尺的读数与校对规所标数值一致,锁紧调整螺钉.3.2测量将被测工件正放在外径千人分尺导杆内,内径千分尺则反之,千分尺的两测量面与被测工件的测量紧贴及平行,顺时针旋转微分筒至两测量接近测量物时,再旋转测力装置使两测量面接触测量面,当听到”喀嚓”声3次时停止旋转.•3.3读数3.3.1千分尺读数的整数部分,从固定套管的主刻度中读取,主刻度有两排刻度.上一排是每一小格是1MM.下一排是每一小格是0.5MM.3.3.2千分尺读数的小数部分,从微分筒的刻度中读取,每一小格是0.01MM.转一圈是0.5MM.3.3.3数显千分尺可以从数字显示器中直接读取.第四章色差理论•一名词定义1.色温:是物体在加热时,所发出的色光测量.色温常用绝对温度或开尔文度表示,低的色温如红色是2400°K,高的色温如蓝色是9300°K,中性色温如灰色是6500°K.2.明度:是颜色的深浅程度.3.A光源:以白炽灯为代表的CIE标准光源.4.C光源:是模拟平均晶光的钨丝灯为代表的标准光源.•5.D光源:是以日光灯为代表的CIE标准光源.•6.F光源:以萤光灯为代表的CIE标准光源.•7色调:是物体的基本色,如红色/绿色/紫色等,可用圆柱形色空间角度位置或在色轮上的位置确色相•色度仪:是模拟人眼对红,绿,蓝光响应的光学测量仪器..CIE是国际光学照明委员会的简称。以下是CIE色空间座标图明度饱和度色调红绿黄蓝二.色差仪的测量模式•1。CIELAB是基于一种颜色不能同时既是绿又是红,也不能同时既是蓝又是黄这个理论而建立。当一种颜色用CIEL*a*b*时,L*表示明度值;a*表示红/绿值及b*表示黄/蓝值。•2。CIELCH颜色模型采用了同CIEL*a*b*一样的颜色空间,但它采用L表示明度值;C表示饱和度值及H表示色调角度值的柱形坐标。三。容差公式•1。CIELAB容差公式△L*=L*样品-L*标准(明度差异)△a*=a*样品-a*标准(红/绿差异)△b*=b*样品-b*标准(黄/蓝差异)2.CIELCH容差公式△L*=L*样品-L*标准(明度差异)△C*=△C*样品-△C*标准(饱和差异)△H*=[(△Eab)2-(△L*)2-(△C*)2]1/2(色调差异)•3.△Eab容差公式△Eab容差公式以一个数值代表总色差.△Eab=[(△L)2+(△a*)2+(△b*)2]1/2△Eab容差值越小代表色差越少,说明样品与标准的色差越接近.相反地△Eab容差越大,差异越大.HTTP://
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