GBT 5095.2509-2020 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分：信

ICS31.220.10L23中华人民共和国国家标准GB/T5095.2509—2020/IEC60512-25-9:2008电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-9部分:信号完整性试验试验25i:外来串扰Electromechanicalcomponentsforelectronicequipment—Basictestingproceduresandmeasuringmethods—Part25-9:Signalintegritytests—Test25i:Aliencrosstalk(IEC60512-25-9:2008,Connectorsforelectronicequipment—Testsandmeasurements—Part25-9:Signalintegritytests—Test25i:Aliencrosstalk,IDT)2020-04-28发布2020-11-01实施国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会发布目次前言Ⅲ…………………………………………………………………………………………………………1范围和目的1………………………………………………………………………………………………2规范性引用文件1…………………………………………………………………………………………3术语和定义1………………………………………………………………………………………………4概述2………………………………………………………………………………………………………4.1程序2…………………………………………………………………………………………………4.2试验条件3……………………………………………………………………………………………5总体试验配置3……………………………………………………………………………………………5.1总则3…………………………………………………………………………………………………5.2终端4…………………………………………………………………………………………………5.3试验连接器线对4……………………………………………………………………………………6自一个连接器至另一连接器的外来串扰试验程序5……………………………………………………6.1校准5…………………………………………………………………………………………………6.2测量(噪声)最低标准6………………………………………………………………………………6.3外来串扰测量6………………………………………………………………………………………7外来串扰显著性确定程序7………………………………………………………………………………8相关详细规范应规定的细则7……………………………………………………………………………9功率和计算、报告和试验记录文件7………………………………………………………………………附录A(资料性附录)获取外来串扰性能数据的流程图8………………………………………………附录B(资料性附录)外来串扰试验采用的同轴开关实例9……………………………………………参考文献13……………………………………………………………………………………………………ⅠGB/T5095.2509—2020/IEC60512-25-9:2008前言GB/T5095《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法》按试验方法分为若干部分。GB/T5095的第25部分为信号完整性试验,已经发布或计划发布的部分如下:———第25-1部分:试验25a:串扰比;———第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗);———第25-3部分:试验25c:上升时间衰减;———第25-4部分:试验25d:传输时延;———第25-5部分:试验25e:回波损耗;———第25-6部分:试验25f:眼图和抖动;———第25-7部分:试验25g:阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR);———第25-9部分:信号完整性试验试验25i:外来串扰。本部分为GB/T5095的第25-9部分。本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。本部分使用翻译法等同采用IEC60512-25-9:2008《电子设备用连接器试验和测量第25-9部分:信号完整性试验试验25i:外来串扰》。与本部分中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下:———GB/T4210—2015电工术语电子设备用机电元件[IEC60050-581:2008,IDT];———GB/T18015(所有部分)数字通信用对绞或星绞多芯对称电缆[IEC61156(所有部分)];———GB/T15157.7—2002频率低于3MHz的印制板连接器第7部分:有质量评定的具有通用插合特性的8位固定和自由连接器详细规范[IEC60603-7:1996,IDT]。本部分做了下列编辑性修改:———标准名称由《电子设备用连接器试验和测量第25-9部分:信号完整性试验试验25i:外来串扰》修改为《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-9部分:信号完整性试验试验25i:外来串扰》。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。本部分由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会(SAC/TC166)归口。本部分起草单位:四川华丰企业集团有限公司、中国电子技术标准化研究院。本部分主要起草人:庞斌、朱茗、肖淼、刘俊、汪其龙。ⅢGB/T5095.2509—2020/IEC60512-25-9:2008电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-9部分:信号完整性试验试验25i:外来串扰1范围和目的GB/T5095的本部分规定的试验方法是用于评定安装在其安装系统内紧靠着的连接器之间的近端外来串扰(ANEXT)和远端外来串扰(AFEXT)。组合式连接器和多端口面板连接器均可采用本方法进行试验。本方法提供了试验任何两端口之间外来(外源的)串扰的方式,以及评定来自所有其他端口的全部外来串扰。本试验规程广泛地适用于机电元件中所有电连接器,尤其适用于IEC60603-7系列和IEC61076-3-104中所叙述的连接器,以及用于数据传输的其他类型连接器。2规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。IEC60050-581国际电工词汇(IEV)第581章:电子设备用机电元件[InternationalElectro-technicalVocabulary(IEV)—Chapter581:Electromechanicalcomponentsforelectronicequipment]IEC60512-26-100电子设备用连接器试验和测量第26-100部分:符合IEC60603-7连接器的测量装置、试验和标准配置及测量(试验26a~26g)[Connectorsforelectronicequipment—Testsandmeasurement—Part26-100:Measurementsetup,testandreferencearrangementsandmeasurementsforconnectorsaccordingtoIEC60603-7(tests26ato26g)]IEC60603-7-4:2005电子设备用连接器第7-4部分:频率达250MHz数据传输用8通道非屏蔽自由和固定连接器详细规范(Connectorsforelectronicequipment—Part7-4:Detailspecificationfor8-way,unshielded,freeandfixedconnectors,fordatatransmissionswithfrequenciesupto250MHz)IEC60603-7(所有部分)电子设备用连接器第7部分:数据传输用8通道(非)屏蔽自由和固定连接器详细规范(Connectorsforelectronicequipment—Part7:Detailspecificationsfor8-way,(un)shielded,freeandfixedconnectors,fordatatransmissions)IEC61076-3-104:2006电子设备用连接器第3-104部分:频率达1000MHz数据传输用8通道屏蔽自由和固定连接器详细规范(Connectorsforelectronicequipment—Part3-104:Detailspecifica-tionfor8-way,shielded,freeandfixedconnectors,fordatatransmissionswithfrequenciesupto1000MHz)IEC61156数字通信用对绞/星绞多芯对称电缆(Multicoreandsymmetricalpair/quadcablefordigitalcommunications)3术语和定义IEC60050-581界定的以及下列术语和定义适用于本文件。1GB/T5095.2509—2020/IEC60512-25-9:20083.1外来(外源的)串扰alien(exogenous)crosstalk;AXT从干扰导线对进入另一连接器的受干扰线对的信号耦合。3.2外来(外源的)近端串扰(ANEXT)损耗alien(exogenous)near-endcrosstalk(ANEXT)loss在近端测量的从近端干扰导线对进入另一连接器的受干扰线对的信号耦合。3.3外来(外源的)远端串扰(AFEXT)损耗alien(exogenous)far-endcrosstalk(AFEXT)loss在远端测量的从近端干扰导线对进入另一连接器的受干扰线对的信号耦合。3.4外来(外源的)近端串扰功率和(PSANEXT)损耗powersumalien(exogenous)near-endcrosstalk(PSANEXT)loss在近端测量的从一个或多个连接器中的多条近端干扰导线对进入另一连接器的受干扰线对的信号耦合计算结果。3.5外来(外源的)远端串扰功率和(PSAFEXT)损耗powersumalien(exogenous)far-endcrosstalk(PSAFEXT)loss在远端测量的从一个或多个连接器中的多条近端干扰导线对进入另一连接器的受干扰线对的信号耦合计算结果。4概述4.1程序外来串扰是存在于连接器之间的特性,受到连接器自身性能、连接器在其安装系统内的配置以及安装系统本身的影响。安装系统的实例包括面板、安装箱、机架安装面板、多面板机架等。必要情况下,在其他机架安装面板等之内距离很近的连接器应包括在干扰连接器内。所有要安装连接器的安装系统或其子系统都应按详细规范的规定进行连接器的外来串扰试验。制造厂可规定一最坏情况下的安装系统,对任一系统或两者进行试验。该程序也适用于多端口连接器面板,在此情况下,面板上的每个端口应视为是一个独立的连接器。至少,安装系统应装满相对于受干扰连接器的外来串扰有影响的所有连接器。需要试验的连接器数量按5.3和第7章中所述。每个连接器中一般有4个导线对,因此每个端口组合为16对组合,应考虑用简便的方法对这些组合进行试验,如自动切换。此外,平衡-不平衡转换器与受试连接器(CUT)之间的互连方法应具有充分的灵活性,以易于将平衡-不平衡转换器与不同的受试连接器连接。由于装置需要与电缆端接,因此至少要准备两根电缆,每根长度至少为40m,并且为了方便,应考虑准备更多数量的端接电缆。试验时,这些电缆应尽可能分开。应按下述程序进行该试验。连接器的安装系统应设置在测量系统附近,连接器应安装在安装系统内。应选择一连接器作为受干扰连接器,用作该试验的特定样品。选择另一连接器为第一干扰连接器。两个连接器应按第6章中的规定进行端接并与测量系统连接。按第6章的规定,测量这些连接器之间的AN