GBT 5095.2506-2020 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-6部分：试

ICS31.220.10L23中华人民共和国国家标准GB/T5095.2506—2020/IEC60512-25-6:2004电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-6部分:试验25f:眼图和抖动Electromechanicalcomponentsforelectronicequipment—Basictestingproceduresandmeasuringmethods—Part25-6:Test25f:Eyepatternandjitter(IEC60512-25-6:2004,Connectorsforelectronicequipment—Testsandmeasurements—Part25-6:Test25f:Eyepatternandjitter,IDT)2020-04-28发布2020-11-01实施国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会发布目次前言Ⅰ…………………………………………………………………………………………………………1总则1………………………………………………………………………………………………………1.1范围和目的1…………………………………………………………………………………………1.2术语和定义1…………………………………………………………………………………………2试验设施1…………………………………………………………………………………………………2.1设备1…………………………………………………………………………………………………2.2装置1…………………………………………………………………………………………………3试验样品2…………………………………………………………………………………………………3.1说明2…………………………………………………………………………………………………4试验程序2…………………………………………………………………………………………………4.1总则2…………………………………………………………………………………………………4.2眼图2…………………………………………………………………………………………………4.3抖动3…………………………………………………………………………………………………5相关标准应规定的细则3…………………………………………………………………………………6试验记录文件4……………………………………………………………………………………………附录A(规范性附录)样品终端示意图5…………………………………………………………………附录B(资料性附录)眼图诠释———实用指南7…………………………………………………………GB/T5095.2506—2020/IEC60512-25-6:2004前言GB/T5095《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法》按试验方法分为若干部分。GB/T5095的第25部分为信号完整性试验,已经发布或计划发布的部分如下:———第25-1部分:试验25a:串扰比;———第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗);———第25-3部分:试验25c:上升时间衰减;———第25-4部分:试验25d:传输时延;———第25-5部分:试验25e:回波损耗;———第25-6部分:试验25f:眼图和抖动;———第25-7部分:试验25g:阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR);———第25-9部分:信号完整性试验试验25i:外来串扰。本部分为GB/T5095的第25-6部分。本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。本部分使用翻译法等同采用IEC60512-25-6:2004《电子设备用连接器试验和测量第25-6部分:试验25f:眼图和抖动》。本部分做了下列编辑性修改:———标准名称由《电子设备用连接器试验和测量第25-6部分:试验25f:眼图和抖动》修改为《电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-6部分:试验25f:眼图和抖动》。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。本部分由全国电子设备用机电元件标准化技术委员会(SAC/TC166)归口。本部分起草单位:四川华丰企业集团有限公司、中国电子技术标准化研究院。本部分主要起草人:庞斌、朱茗、肖淼、刘俊、汪其龙。ⅠGB/T5095.2506—2020/IEC60512-25-6:2004电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第25-6部分:试验25f:眼图和抖动1总则1.1范围和目的GB/T5095的本部分适用于电连接器、电缆组件或IECTC48范围内的互连系统。本部分描述了测量时域内眼图响应和抖动的方法。1.2术语和定义下列术语和定义适用于本文件。1.2.1眼图eyepattern同步伪随机数字数据的示波器显示(信号幅度-时间),表明的累计输出波形的叠加。1.2.2抖动jitter信号跨越规定的基准电压电平时的最初和最后时间差。1.2.3位(比特)周期bitperiod时钟信号的连续相同边缘之间(上升至上升或下降至下降)的时间间隔。此为时钟频率的倒数。1.2.4偏斜skew两个信号通道之间的传输延迟差。1.2.5测量系统上升时间measurementsystemrisetime安装就位无样品,并具有滤波(或归一化)作用的装置测量的上升时间。通常,测量的是10%~90%电平的上升时间。2试验设施2.1设备2.1.1具有时钟输出、能产生规定上升和下降时间及数据图形信号的高速图形发生器。2.1.2具有外部时钟输入、能无限余辉显示的信号分析仪。通常为一具有采样头的数字采样示波器(DSO)。优选具有模板功能的数字采样示波器。注:要确保不超过示波器输入端口允许的最大输入额定值,防止造成代价高昂的损失并保证可靠的测量。即使信号偏移在示波器的允许最大信号电平范围内也可能产生不稳定的眼图响应。2.2装置2.2.1试验装置应备有合适的信号和接地模式。如要求,还应备有合适的相邻信号线路的终端。样品1GB/T5095.2506—2020/IEC60512-25-6:2004终端示意图见附录A。2.2.2测量差分响应时,要确保试验装置和试验电缆的延迟相匹配,以尽量减少偏斜失真。建议试验电缆和装置的偏斜失真小于位周期的5%。3试验样品3.1说明用于本试验规程的试验样品应按如下所列。3.1.1可分离连接器连接器插合对。3.1.2电缆组件组装好的连接器和电缆,及其插配连接器。3.1.3插座插座与试验器件,或插座和插头转接器。4试验程序4.1总则4.1.1应有足够的时间来预热和稳定设备(按制造厂的说明书)。4.1.2若样品的单端特性阻抗不是50Ω,差分特性阻抗不是100Ω,则应采用阻抗匹配器,要求的值应采用图A.1或图A.2中的公式来计算。采用的标准电阻的值应最接近根据这些公式计算出的值。4.1.3调节数据发生器达到合适的信号特性,这些特性包括上升时间、幅度、数据速率和编码方案。注:上升时间的调节应在信号源采用硬件滤波器而不是在分析仪上采用软件滤波。4.1.4用数据发生器时钟信号触发示波器,要确保时钟信号不超过时钟输入端口的额定工作范围。4.1.5可能情况下,测量无样品装置和试验线缆的眼图和/或抖动。调整示波器控制眼图的显示。选择设定的时基应能使一个单位间隔(位周期)至少占有水平显示的50%。选择的垂直灵敏度应能使信号幅度占有垂直显示的50%~100%(参见附录B示例)。4.2眼图4.2.1方法A,模板试验4.2.1.1将示波器设定为无限余辉显示模式,并设定数据采集在达到所需数量的波形后停止。4.2.1.2插入样品并开始数据采集,以生成一初始眼图。4.2.1.3在获得初始眼图数据后,显示或形成需要的模板。要确保眼图和模板相互间的定位并显示在水平轴的中心。模板的放置(左至右)应使其最适合眼图(参见图B.3和图B.4示例)。4.2.1.4如适用,可用DSO的功能统计落在模板内数据点的数量(称为“模板命中”)。4.2.1.5开始数据采集以生成一个新的眼图。4.2.1.6在数据采集完成后,记录模板命中的数量。若DSO没有自动记数功能(“命中计数器”),则计算和记录模板命中的数量。4.2.1.7如相关标准要求,制作示波器显示的复制件。2GB/T5095.2506—2020/IEC60512-25-6:20044.2.2方法B,眼开度试验4.2.2.1将示波器设定为无限余辉显示模式,并设定数据采集在达到所需数量的波形后停止。4.2.2.2插入样品并开始数据采集,以生成眼图。4.2.2.3获得眼图后,在对应位周期50%的时间(V在50%t)处测量和记录眼高。在对应信号幅度50%的电压电平(t在50%V)处测量和记录眼宽。4.2.2.4如相关标准要求,制作示波器显示的复制件。4.3抖动4.3.1方法C,伪随机二进制序列(PRBS)试验(多种模式)4.3.1.1按4.2显示眼图。4.3.1.2扫迹围绕水平轴中部,以便能在显示器上看到整个眼图幅度。4.3.1.3数字采样示波器,自动方法:4.3.1.3.1如果示波器具有自动统计测量能力,建议使用该示波器功能来测量眼交叉点的抖动。4.3.1.3.2当采用手动测量极点时,确保尽可能靠近垂直极点,但最大间隔为20mV(参见图B.5)。4.3.1.4数字采样示波器,手动方法:4.3.1.4.1若自动测量功能不适用时,则定位两个垂直光标,在眼交叉转折处每边各一个(参见图B.6)。4.3.1.4.2根据光标位置变数增量(其间距离)读取抖动值。4.3.2方法D,脉冲试验(单一模式)4.3.2.1将发生器设定为数字代码(DC)平衡试验模式。这应是在规定频率下的一个方波或伪随机二进制序列模式。4.3.2.2将示波器设定为无限余辉显示模式,并调节垂直位置使波形在显示屏上垂直居中,其半波幅处在屏幕中心。4.3.2.3调节发生器产生规定的试验图形。该图形可选择模拟一长空载序列和应用中采用的特定数据模式。通常它为一逻辑“1”后跟20个或更多逻辑“0”的图形。对于单端测量,测量逻辑“1”和逻辑“0”电平,并且调节发生器(如必要),以保证波形的半波幅仍处于屏幕中心。对于差分测量,测量两个通道的逻辑“1”和逻辑“0”电平。调节发生器以尽量减少通道之间的电压或时间偏移。若通道间出现任何电压偏移,则应根据4.3.2.4中脉冲宽度的半波幅测量点增加或减去(按适用)偏移量。4.3.2.4使用光标或示波器测量功能,测量跨接半波幅点(屏幕中心)的脉冲宽度(参见图B.7)。4.3.2.5用位时间(1除以发生器的时钟频率)减去4.3.2.4中测得的半波幅脉冲宽度,得出抖动。5相关标准应规定的细则相关标准中应规定下列细则:5.1信号上升时间、幅度和时钟频率。5.2数据模式:例如伪随机二进制序列(PRBS)的(223-1)或脉冲模式的1+(20×0)。5.3单端或差分。5.4终端值(和误差)。5.5信号/接地模式,包括本试验信号和接地连接导线的数量和位置。5.6单端不同于50Ω或差分不同于100Ω的样品环境阻抗。5.7是否需要示波器显示的复制件。3GB/T5095.2506—2020/IEC60512-25-6:20045.8评定眼图的方法A或B(模板或眼开度)。5.8.1相对于眼图或时钟的模板定义和位置(如要求)。5.8.2生成眼图要获取的波形或样品数量。5.9方法C(PRBS)。5.9.1如采用自动(柱状图)方法,应规定抖动框的高度(垂直柱状图的极限值)。5.9.2生成眼图要获取的波形或样品数量。5.10DSO的采样率。6试验记录文件记录文件应包括第5章中规定的细则和例外,以及下列细节:6.1试验名称。6.2试验设备,及其上次和下次校准日期。6.3试验程序和方法。6.4装置说明。6.5方法A中的模板命中数量(见4.2.1)或方法B的眼开度(见4.2.2)。6.6波形图(如要求)。6.7抖动值(要求该试验时)。6.8观测值。6.9操作人员姓名和试验日期。4GB/T5095.2506—2020/IEC6051