阵列感应资料处理培训

MIT5530阵列感应测井仪培训技术中心2009.5.24一.MIT5530仪器结构及技术指标二.MIT5530仪器原始曲线质量控制三.MIT5530测井不合格原始曲线四.MIT5530仪器影响因素及处理流程五.MIT5530资料处理质量控制12345阵列感应（MIT5530）仪器67①－电源③－带通滤波④－前置放大⑤－线圈系⑥－压力平衡⑦－发射驱动②－数据采集处理与控制阵列感应（MIT5530）配套100KBPS遥测处理软件刻度装置1.1MIT5530阵列感应仪器总体组成MIT5530线圈系由八个双侧布置的线圈子阵列组成，共用一个发射线圈；对每一子阵列由一个发射线圈和两个接收线圈组成，两个接收线圈由主接收和屏蔽线圈组成。8个子阵列共测量28个原始测量信号，28个信号经过井眼校正、真分辨率聚焦和分辨率匹配后得到5种探测深度、3种组分辨率共15条曲线。MIT5530阵列感应仪器线圈系结构1.2MIT5530阵列感应线圈系结构MIT5530子阵列：每一子MIT5530子阵列由一个发射线圈和两个接收线圈组成，两个接收线圈分别为主接收线圈和屏蔽线圈。1.2MIT5530阵列感应线圈系结构线圈名称25.256KHz（L）52.512KHz（M）105.024KHz（H）R1（6）√R2（9）√R3（12）√√R4（15）√√R5（21）√√R6（27）√√R7（39）√√R8（72）√√MIT5530原始测量信号1.3MIT5530阵列感应测量信号在感应测井中，仪器的响应特性用几何因子来描述，包括一维特性和二维特性。一维特性用纵向微分几何因子、径向微分几何因子、径向积分几何因子描述；二维特性用二维几何因子描述。传统双感应测井中主要使用一维特性，阵列感应测井是二维信号合成处理。1.3MIT阵列感应响应特性MIT一维径向微分响应特性径向微分响应函数（径向微分几何因子），随子阵列线圈间距增加，最大峰值沿径向方向移动，短阵列具有浅的探测深度，井眼影响大；长阵列具有深的探测深度，井眼影响小。012345-0.50.00.51.01.52.02.53.03.54.04.5RGF(1/m)ρ(m)子阵列1子阵列2子阵列3子阵列4子阵列5子阵列6子阵列7子阵列8MIT一维径向积分响应特性径向积分响应函数（径向积分几何因子），不同子阵列具有不同的探测深度，具有不同的井眼影响。012345-0.10.00.10.20.30.40.50.60.70.80.91.0IRGFR(m)子阵列1子阵列2子阵列3子阵列4子阵列5子阵列6子阵列7子阵列8一维纵向微分响应特性纵向微分响应函数（纵向几何因子），8个纵向几何因子最大峰值关于发射点左右分布，左边是5个，右边是3个。短阵列具有较高的分辨率信息，随着线圈距的增加纵向高分辨率逐渐降低。-5-4-3-2-1012345-0.50.00.51.01.52.02.53.03.54.0VGF(1/m)z(m)子阵列1子阵列2子阵列3子阵列4子阵列5子阵列6子阵列7子阵列8二维响应特性二维响应特性反映空间各点对测量信号的贡献大小井眼附近有正负峰值，不同程度受到井眼影响；不同径向深度，响应函数具有不同的纵向分辨率，随着径向深度增加，纵向分辨率下降，即高分辨率信息来自井眼附近；不同的纵向位置，响应函数变化很大，在主接收线圈位置，函数具有最大的正值，在屏蔽线圈位置，函数具有最大的负值；短线圈间距子阵列具有高的分辨率，长线圈间距子阵列具有低的分辨率。MIT子线圈几何因子（6、9、12、15）MIT子线圈几何因子（21、27、39、72）1.4MIT5530阵列感应技术指标指标名称指标数据最高温度：155℃最大压力：100MPa数据传输：100kbps仪器外径：95mm（电子仪：90mm）仪器长度：9.8m测井速度：1000m/h井眼范围：150～250mm测量范围：0.1～1000m测量精度：±0.75ms/m或2%纵向分辨率：30cm、60cm、120cm探测深度：25cm、50cm、75cm、150cm、225cm1.5MIT5530阵列感应仪器适应范围MIT55305530短阵列测量误差较大MIT55305530最佳工作范围：Rt在0.2-100Ω·m，Rt/Rm应在白色区域内。MIT5530阵列感应仪器适用最佳井眼条件：钻头直径在6”（150cm）-12”(300cm)，当井眼尺寸大于12”时，合成的误差可能较大。MIT55305530所有阵列测量误差较大阵列感应与双感应相比,具有以下优点：测量信息多纵向分辨率高（阵列感应能够提供0.3m,0.6m和1.2m3种纵向分辨率曲线；常规双感应：中感应:0.8m深感应:1.2m）分辨率统一径向探测深度大（中感应:0.75m深感应:1.6m）测量精度高，能够详细描述侵入剖面准确确定地层真电阻率1.6MIT5530阵列感应仪器优点一.MIT5530仪器结构及技术指标二.MIT5530仪器原始曲线质量控制三.MIT5530测井不合格原始曲线四.MIT5530仪器影响因素及处理流程五.MIT5530资料处理质量控制监控曲线QC判定测井曲线合理性判定QC曲线判定：MIT5530仪器质量监控曲线QC数值变化范围应小于10％。且QC曲线无突变。否则需重新加电测井。原始曲线合理性判定：MIT5530原始曲线在典型地层情况下应符合理论响应。其典型地层主要有：均质地层响应，有井眼无侵入厚层，高侵厚层，低侵厚层情况下理论响应。在判断原始曲线关系时，应选择典型厚层进行曲线关系分析，如果与理论图版相符，即仪器工作状态正常。0.010.11101000.010.1110100地层电导率（S/m）视电导率（S/m）.A6HRA9HRA12HRA15HRA12MRA15MRA21MRA27MRA39MRA21LRA27LRA39LRA72LRA72MR对同线圈距的不同频率测量信号，频率越高受趋肤效应影响越大；对相同的地层电导率，线圈距越长受趋肤效应影响越大；mspfLMIT5530均质地层响应有井眼无侵入地层响应（σm=2s/m,8inch,σt=0.2s/m)0.1001.0001005.001007.001009.00深度响应电导率(s/m)6H9H12H12M15H15M21M21L27M27L39M39L72M72L有井眼高侵地层响应（σm=2s/m,8inch,σt=0.2,σsh=0.2,σxo=0.1,ri=1.0m)0.1001.0001003.001013.00深度响应电导率(s/m)6H9H12H12M15H15M21M21L27M27L39M39L72M72L低侵地层响应（σm=2s/m,8inch,σt=0.05s/m,σsh=0.05s/m，σxo=0.2s/m，ri=0.5)0.0100.1001.0001001.001011.00深度响应电导率(s/m)6H9H12H12M15H15M21M21L27M27L39M39L72M72L一.MIT5530仪器结构及技术指标二.MIT5530仪器原始曲线质量控制三.MIT5530测井不合格原始曲线四.MIT5530仪器影响因素及处理流程五.MIT5530资料处理质量控制MIT5530常见问题：原始曲线缺失字符未安装间隔器仪器预热不足刻度文件加载错误测井遇卡硬件故障名称说明名称说明A6HR6号线圈测量高频实部信号A6HX6号线圈测量高频虚部信号A9HR9号线圈测量高频实部信号A9HX9号线圈测量高频虚部信号A12HR12号线圈测量高频实部信号A12HX12号线圈测量高频虚部信号A12MR12号线圈测量中频实部信号A12MX12号线圈测量中频虚部信号A15HR15号线圈测量高频实部信号A15HX15号线圈测量高频虚部信号A15MR15号线圈测量中频实部信号A15MX15号线圈测量中频虚部信号A21MR21号线圈测量中频实部信号A21MX21号线圈测量中频虚部信号A21LR21号线圈测量低频实部信号A21LX21号线圈测量低频虚部信号A27MR27号线圈测量中频实部信号A27MX27号线圈测量中频虚部信号A27LR27号线圈测量低频实部信号A27LX27号线圈测量低频虚部信号A39MR39号线圈测量中频实部信号A39MX39号线圈测量中频虚部信号A39LR39号线圈测量低频实部信号A39LX39号线圈测量低频虚部信号A72MR72号线圈测量中频实部信号A72MX72号线圈测量中频虚部信号A72LR72号线圈测量低频实部信号A72LX72号线圈测量低频虚部信号3.1MIT5530阵列感应曲线命名规范3.2MIT5530阵列感应不同扶正器方案测试3.2MIT5530阵列感应不同扶正器对短阵列影响一.MIT5530仪器结构及技术指标二.MIT5530仪器原始曲线质量控制三.MIT5530测井不合格原始曲线四.MIT5530仪器影响因素及处理流程五.MIT5530资料处理质量控制MIT5530测井影响因素:温度影响井眼影响趋肤效应围岩影响原因:温度的变化会导致三线圈系的距离发生微变，产生直耦（无用信号）变化。解决措施：获取线圈系温度变化图版，进行温度校正。4.1温度影响1#仪器1#线圈系所有道升温变化总图(实部：第3次加温)-100-80-60-40-200202030405060708090100110120130温度(℃)值(mS)27MR_up72LR_up27LR_up21MR_up21LR_up72MR_up15MR_up39MR_up12HR_up39LR_up12MR_up15HR_up09HR_up06HR_up4.2趋肤效应影响0.010.11101000.010.1110100地层电导率（S/m）视电导率（S/m）.A6HRA9HRA12HRA15HRA12MRA15MRA21MRA27MRA39MRA21LRA27LRA39LRA72LRA72MR对同线圈距的不同频率测量信号，频率越高受趋肤效应影响越大；对相同的地层电导率，线圈距越长受趋肤效应影响越大；mspfL井眼信号是下面因素的函数:泥浆电导率Rm井眼大小和形状井中偏心距地层电导率解决措施：井眼校正偏心度dh—井眼直径RFMudRM4.3井眼影响MIT5530测量信号会收到上下围岩的影响。解决措施：真分辨率聚焦及分辨率匹配4.4围岩影响深度=0.25m,分辨率=0.3m深度=0.50m,分辨率=0.6m深度=0.75m,分辨率=1.2m深度=1.5m,分辨率=1.5m深度=2.25,分辨率=1.8mMIT5530资料处理流程预处理：对阵列感应原始数据进行数据单位和采样间隔转换等操作，保证输入数据统一规范。4.5MIT5530预处理井眼校正阵列感应成像测井的测量会不同程度的受到环境井眼的影响，而且近接收子阵列与远接收子阵列受井眼影响程度不同，在描述径向地层电阻率时，近接收子阵列受到的影响较大，所以在合成处理之前，应当对各接收子阵列的测量值进行适当校正，消除井眼环境的影响，反映出地层的真实情况.校正方法：利用正演方法，模拟计算在不同泥浆电阻率，不同井眼半径和地层电阻率情况下的地层响应库以及对应的无井眼情况的地层响应库。将实际测量地层信号与计算的地层响应库进行匹配，获得相应的无井眼情况地层响应4.6MIT5530井眼校正合成处理阵列感应测井仪器的测井信号经过井眼校正得到八组线圈系的28条虚实信号，合成处理的目的就是将这些信号合成为测井分析家所需的信号。MIT5530的阵列感应合成处理分两步来完成信号合成工作。首先是满足物理条件的真分辨率合成，不同探测深度合成出相应分辨率的曲线。其次是分辨率匹配，实现不同探测深度具有同样的分辨率的测井曲线。测量信号的探测深度与分辨率之间是矛盾的，探测深度深必定分辨率低，探测深度浅则分辨率高。4.7MIT5530合成处理真分辨率聚焦按照理论上原始信号的贡献大小，计算合适的合成滤波库。用