QC七大手法与7S培训讲义

:2Preparedby:TedWang7S1.何谓7S?它的作用是什么?整理、整顿、清洁、清扫、素养、节约、安全因为它的第一个字母为S,故称为7S.它的作用有:(1)提高企业形象(2)提高员工归宿感(3)减少浪费★整理:不再使用的----------清理掉不常使用的-----------贮存.备用!:3Preparedby:TedWang7S经常用到的----------保留于现场养每天用到的----------随手中取处★整顿：场地进行规划;物品摆放整齐;容易混淆、容易遗忘的物品进行标识;★清扫：清扫现场场地（地面、墙板、天花板等上的物品）彻底清理、润滑机器工具;节能防污、（水、气、油、噪音等）;修理破损物品;:4Preparedby:TedWang7S★清洁：养成坚持习惯，并执行监督检查措施。分责任区、分责任人定期或不寂静期检查★素养：讲文明礼貌、积极敬业、遵纪守规等！★节约：可以回收的，可以利用的，分类定期进行处理★安全：生产中机器使的安全，生产过程的安全。:5Preparedby:TedWangQC七大手法管理人員五大使命----品質,交期,成本,服務,安全•管理1.品質異常2.交期異常3.產量異常4.設備異常5.人員異常6…………:6Preparedby:TedWangQC七大手法管理的基本原則1.尊重人性----把工作人員的想法與意見有效發揮2.依PDCA的管理循環徹底執行----不停的轉動PDCA循環3.徹底實施標準化----做好管理的第一步.4.活用統計手法----統計方法收集數據,加以統計分析:7Preparedby:TedWangQC七大手法工作及生活中難免碰到問題，一旦發生問題如不立即解決，小問題也可能變成大問題。然而，解決問題是要用方法的，而品質管理（QC）手法就是能協助我們迅速且正確解決問題的利器之一。一般問題解決的程序約可分為蒐集→整理→歸納分析→判斷決策等階段，每一階段都有不同的QC手法可供搭配使用。如果能夠充分了解QC手法且運用得宜，就能蒐集到正確有效的資訊，並作出精準的判斷。:8Preparedby:TedWangQC七大手法QC統計手法1.QC七大手法----特性要因圖,散佈圖,柏拉圖,直方圖,推移圖,查檢表,層別法.2.新QC七大手法----關聯圖法,KJ法,系統圖法,PDPC法,箭線圖法,矩陣圖法,矩陣數據解析法3.統計方法----推定與檢定,抽樣計畫,管制圖,實驗計畫法,相關與回歸.4.其他---抽樣技術,官感檢查,可靠度:9Preparedby:TedWangQC七大手法1.蒐集：須根據事實或數據說明。工具包括：查檢表（CheckList）,散佈圖（ScatterDiagram）、層別法（Stratification）。2.整理：釐清問題所在以作為判斷重大問題的依據。工具包括：柏拉圖（ParetoDiagram）、直方圖（Histogram）。3.歸納分析：主要針對原因與問題的關係，探討其相互關係與潛在的真因。工具包括：特性要因圖（CharacteristicDiagram）。4.判斷決策：針對問題所發生的原因，採取有效對策，加以處置。工具包括：特性要因圖、統計圖中的管制圖（ControlChart）。:10Preparedby:TedWang一.特性要因圖(魚骨圖)品質是製造出來的----製造的物品具有各項品質特性,依材料,設備,方法,人而形成不同的品質特性.若製程的品質特性出現問題的話,製造的品質也會產生了問題.特性與要因為了解決問題,將品質特性(結果)與原因之關係明確化.而在品質管制上造成的因素稱為要因.所以利用圖將品質特性的要因表現出來即稱為特性要因圖.因很像一隻吃完魚肉,只剩骨頭的魚所以又稱魚骨圖.:11Preparedby:TedWang一.特性要因圖(魚骨圖)繪製方法----1.決定特性:尺寸,不良率,不良現象,…..2.列舉要因:a.應用5W1H,4M方法發掘要因(what/where/when/who/why/how/人,機,物,法)b.有影響特性的要因全部列舉出來c.要分析至可採行對策,或蒐集數據的要因d.應用腦力激盪(禁止批評,歡迎自由聯想,構想越多越好,歡迎撘便車.):12Preparedby:TedWang一.特性要因圖(魚骨圖)3.整理特性要因的形狀----將列舉的要因加以分類整理後,畫出大骨,中骨,小骨.4.調查要因的影響度----解析過去累積數據及取管制圖,直方圖,散佈圖加以分析,確認列舉要因是否對特性真的有影響5.決定特性要因圖—列舉要因中,該追加的追加,該減少的減少.一切以數據為根據.6.其他---繪製日期,繪製者,其他參考事項……..:13Preparedby:TedWang一.特性要因圖(魚骨圖)Connector短路作業者治具錫爐新人經驗不足疏忽溫度速度太慢太高太低開口形狀作成者:王自強日期:2003/11/03材料方法太快檢驗方向無規定pitch太密加工不良距離太近過爐方向Connector短路特性要因圖:14Preparedby:TedWang二.散佈圖身高與體重高重?矮輕?404550556065707580150160170180190身高(cm)體重(kg)No.身高體重No.身高體重No.身高體重116556111615521175622172681217662221626231595213166482315848418274141757624162525158631516867251787461625816178752615952717672171595027152458175661815962281596291655619176782915859101636820158543018277:15Preparedby:TedWang二.散佈圖調查兩種數量之間的關係品質特性與品質特性的關係品質特性與要因之間要因與要因之間例:A.材料熱處理時,某一成分的量與硬度關係B.錫鉛中,錫鉛比例與溫度之關係C.電鍍處理時,電鍍時間與電鍍厚度之關係D.錫膏厚度與印刷壓力之關係.:16Preparedby:TedWang二.散佈圖繪製方法1.收集數據:收集50~100相對應之數據.至少30組.2.決定橫軸與縱軸一般以橫軸代表要因,縱軸代表品質特性.若是要因與要因或品質特性與品質特性.則可任意決定.刻度大小,則兩者變異弧度大致相同大小即可以.3.點繪數據將收集之數據繪於相對位置上.4.判讀散佈圖把握正確資訊,採取必要的措施.:17Preparedby:TedWang二.散佈圖散佈圖的看法—1.正相關:x增加時y也跟著增加.欲管制y時只需管制x.2.負相關x增加時y反而跟著減少.只需管制x,y即可獲得管制.3.無相關x與y完全沒有相關.:18Preparedby:TedWang三.柏拉圖柏拉圖柏拉圖分析是以80:20原理進行重點分析的圖表，不良／缺點項目依數量之大小排列，橫座標為不良／缺點項目，縱座標為不良／缺點數量或累積百分比，分析出重點不良／缺點項目做為改善之目標:19Preparedby:TedWang三.柏拉圖繪製方法1.決定分類項目：以產品或製程訂定檢查項目或不良原因。2.收集數據：以某一期間收集特定問題的檢查記錄。3.依數量之大小排序整理數據，如下表不良／缺點不良／缺點數量累積數量累積百分比％代號名稱1ＡQ1Q1Q1／T2ＢQ2Q1＋Q2(Q1＋Q2)／T3ＣQ3Q1＋Q2＋Q3(Q1＋Q2＋Q3)／T．．．．．．．．．．．．．．．ｋＫQkQ1＋Q2＋,......Qk100總計Ｔ:20Preparedby:TedWang三.柏拉圖4.繪製不良分析圖(柏拉圖):a.橫軸依不良個數大小順序取不良項目.b.縱軸取不良數及不良率.c.依不良數之大小順序由左而右繪出條型圖表示之.d.累積不良率則使用曲線圖表示之.5.計入必要項目:即數據的期間.數據的數目等.:21Preparedby:TedWang三.柏拉圖不良項目個數不良佔有率累計不良率短路8341.5%41.5%空焊5427.0%68.5%撞件2512.5%81.0%破損126.0%87.0%反向84.0%91.0%其他189.0%100.0%Total200100.0%-8354251281841.5%68.5%81.0%87.0%91.0%020406080100120140160180200短路空焊撞件破損反向其他不良項目不良個數0.0%10.0%20.0%30.0%40.0%50.0%60.0%70.0%80.0%90.0%100.0%不良分析圖累積不良率:22Preparedby:TedWang四.直方圖收集數據之目的整批製品的分佈與變異品質規格的平均值與變異確認項目—1.分配的形狀2.分配的中心值3.分配的散佈情形4.與規格的關係:23Preparedby:TedWang四.直方圖直方圖的繪製方法1.收集數據作直方圖,數據至少50個以上.一般對於數據個數多少,稱為樣品大小,用n表示.2.整理數據將數據整理,併找出最大值與最大值.3.決定組數分組的組數並沒有統一的規定，但太多或太少組皆會使直方圖失真.A.分組組數依數據之樣本大小n決定B.最大值減最小值的差(R),用2,5,10等相關數值除之.據之樣本大小ｎ建議分組組數ｋ50～1006～10100～2507～12250以上10～25全距(R)=最大數(Max)-(最小數)Min組數=R/2,5,10:24Preparedby:TedWang四.直方圖4.決定組距組距h可由組數k除以全距R來決定，如下式。組距(h)=全距(R)/組數(k)一般取h值為量測單位之整數倍5.決定組界組界即是每一分組之上下界限值，其決定之方法如下：第一組下界Ｌ1＝MIN｛Xij｝－量測