材料分析-题库-含答案

材料分析试题库选择题：一、1.M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征X射线称（B）A.Kα；B.Kβ；C.Kγ；D.Lα。2.当X射线发生装置是Cu靶，滤波片应选（C）A．Cu；B.Fe；C.Ni；D.Mo。3.当电子把所有能量都转换为X射线时，该X射线波长称（A）A.短波限λ0；B.激发限λk；C.吸收限；D.特征X射线4.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（D）A.光电子；B.二次荧光；C.俄歇电子；D.（A+C）二、1.最常用的X射线衍射方法是（B）。A.劳厄法；B.粉末法；C.周转晶体法；D.德拜法。2.射线衍射方法中，试样为单晶体的是（D）A、劳埃法B、周转晶体法C、平面底片照相法D、A和B3.晶体属于立方晶系，一晶面截x轴于a/2、y轴于b/3、z轴于c/4，则该晶面的指标为（B）A、(364)B、(234)C、(213)D、(468)4.立方晶系中，指数相同的晶面和晶向（B）A、相互平行B、相互垂直C、成一定角度范围D、无必然联系5.晶面指数（111）与晶向指数（111）的关系是（C）。A.垂直；B.平行；C.不一定。6.在正方晶系中，晶面指数{100}包括几个晶面（B）。A.6；B.4；C.2D.1；。7.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是（B）A.X射线透射学；B.X射线衍射学；C.X射线光谱学；D.其它三、1、对于简单点阵结构的晶体，系统消光的条件是（A）A、不存在系统消光B、h+k为奇数C、h+k+l为奇数D、h、k、l为异性数2、立方晶系{100}晶面的多重性因子为（D）A、2B、3C、4D、63、洛伦兹因子中，第一几何因子反映的是（A）A、晶粒大小对衍射强度的影响B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线位置对衍射强度的影响D、试样形状对衍射强度的影响4、洛伦兹因子中，第二几何因子反映的是（B）A、晶粒大小对衍射强度的影响B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线位置对衍射强度的影响D、试样形状对衍射强度的影响5、洛伦兹因子中，第三几何因子反映的是（C）A、晶粒大小对衍射强度的影响B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线位置对衍射强度的影响D、试样形状对衍射强度的影响6、对于底心斜方晶体，产生系统消光的晶面有（C）A、112B、113C、101D、1117、对于面心立方晶体，产生系统消光的晶面有（C）A、200B、220C、112D、1118、热振动对x-ray衍射的影响中不正确的是（E）A、温度升高引起晶胞膨胀B、使衍射线强度减小C、产生热漫散射D、改变布拉格角E、热振动在高衍射角所降低的衍射强度较低角下小9、将等同晶面个数对衍射强度的影响因子称为（C）A、结构因子B、角因子C、多重性因子D、吸收因子四、1、衍射仪的测角仪在工作时，如试样表面转到与入射线成30度角时，计数管与入射线成多少度角?（B）A.30度；B.60度；C.90度。2、不利于提高德拜相机的分辨率的是（D）。A.采用大的相机半径；B.采用X射线较长的波长；C.选用大的衍射角；D.选用面间距较大的衍射面。3、德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是（C）A、正装法B、反装法C、偏装法D、以上均可4、样品台和测角仪机械连动时，计数器与试样的转速关系是（B）A、1﹕1B、2﹕1C、1﹕2D、没有确定比例5、关于相机分辨率的影响因素叙述错误的是（C）A、相机半径越大，分辨率越高B、θ角越大，分辨率越高C、X射线波长越小，分辨率越高D、晶面间距越大，分辨率越低6、粉末照相法所用的试样形状为（C）A、块状B、分散C、圆柱形D、任意形状7、低角的弧线接近中心孔，高角线靠近端部的底片安装方法为（A）A、正装法B、反装法C、偏装法D、任意安装都可8、以气体电离为基础制造的计数器是（D）A、正比计数器B、盖革计数器C、闪烁计数器D、A和B9、利用X射线激发某种物质会产生可见的荧光，而且荧光的多少与X射线强度成正比的特性而制造的计数器为（C）A、正比计数器B、盖革计数器C、闪烁计数器D、锂漂移硅检测器五、1、测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用方法是（C）。A.外标法；B.内标法；C.直接比较法；D.K值法。2、X射线物相定性分析时，若已知材料的物相可以查（C）进行核对。A.哈氏无机数值索引；B.芬克无机数值索引；C.戴维无机字母索引；D.A或B。3、PDF卡片中，数据最可靠的用（B）表示A、iB、★C、○D、C4、PDF卡片中，数据可靠程度最低的用（C）表示A、iB、★C、○D、C5、将所需物相的纯物质另外单独标定，然后与多项混合物中待测相的相应衍射线强度相比较而进行的定量分析方法称为（A）A、外标法B、内标法C、直接比较法D、K值法6、在待测试样中掺入一定含量的标准物质，把试样中待测相的某根衍射线条强度与掺入试样中含量已知的标准物质的某根衍射线条相比较，从而获得待测相含量的定量分析方法称为（B）A、外标法B、内标法C、直接比较法D、K值法九、1、透射电子显微镜中可以消除的像差是（B）。A．球差；B.像散；C.色差。2、由于电磁透镜中心区域和边缘区域对电子折射能力不同而造成的像差称为（A）A、球差B、像散C、色差D、背散3、由于透镜磁场非旋转对称而引起的像差称为（B）A、球差B、像散C、色差D、背散4、由于入射电子波长的非单一性造成的像差称为（C）A、球差B、像散C、色差D、背散5、制造出世界上第一台透射电子显微镜的是（B）A、德布罗意B、鲁斯卡C、德拜D、布拉格十、1、透射电镜中电子枪的作用是（A）A、电子源B、会聚电子束C、形成第一副高分辨率电子显微图像D、进一步放大物镜像2、透射电镜中聚光镜的作用是（B）A、电子源B、会聚电子束C、形成第一副高分辨率电子显微图像D、进一步放大物镜像3、透射电镜中物镜的作用是（C）A、电子源B、会聚电子束C、形成第一副高分辨率电子显微图像D、进一步放大物镜像4、透射电镜中电中间镜的作用是（D）A、电子源B、会聚电子束C、形成第一副高分辨率电子显微图像D、进一步放大物镜像5、能提高透射电镜成像衬度的光阑是（B）A、第二聚光镜光阑B、物镜光阑C、选区光阑D、索拉光阑6、物镜光阑安放在（C）A、物镜的物平面B、物镜的像平面C、物镜的背焦面D、物镜的前焦面7、选区光阑在TEM镜筒中的位置是（B）A、物镜的物平面B、物镜的像平面C、物镜的背焦面D、物镜的前焦面8、电子衍射成像时是将（A）A、中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合B、中间镜的物平面与与物镜的像平面重合C、关闭中间镜D、关闭物镜9、透射电镜成形貌像时是将（B）A、中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合B、中间镜的物平面与与物镜的像平面重合C、关闭中间镜D、关闭物镜10、为了减小物镜的球差，往往在物镜的背焦面上安放一个（B）A、第二聚光镜光阑B、物镜光阑C、选区光阑D、索拉光阑11、若H-800电镜的最高分辨率是0.5nm，那么这台电镜的有效放大倍数是（C）。A.1000；B.10000；C.40000；D.600000。十二、1、单晶体电子衍射花样是（A）。A.规则的平行四边形斑点；B.同心圆环；C.晕环；D.不规则斑点。2、薄片状晶体的倒易点形状是（C）。A.尺寸很小的倒易点；B.尺寸很大的球；C.有一定长度的倒易杆；D.倒易圆盘。3、当偏离矢量S0时，倒易点是在厄瓦尔德球的（A）。A.球面外；B.球面上；C.球面内；D.B+C。4、能帮助消除180º不唯一性的复杂衍射花样是（A）。A.高阶劳厄斑；B.超结构斑点；C.二次衍射斑；D.孪晶斑点。5、菊池线可以帮助（D）。A.估计样品的厚度；B.确定180º不唯一性；C.鉴别有序固溶体；D.精确测定晶体取向。6、如果单晶体衍射花样是正六边形，那么晶体结构是（D）。A.六方结构；B.立方结构；C.四方结构；D.A或B。7、有一倒易矢量为cbag22，与它对应的正空间晶面是（C）。A.（210）；B.（220）；C.（221）；D.（110）；。十三、1、将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像，这是（C）。A.明场像；B.暗场像；C.中心暗场像；D.弱束暗场像。2、当t=5s/2时，衍射强度为（D）。A.Ig=0；B.Ig0；C.Ig0；D.Ig=Imax。3、已知一位错线在选择操作反射g1=（110）和g2=（111）时，位错不可见，那么它的布氏矢量是（B）。A.b=（0-10）；B.b=（1-10）；C.b=（0-11）；D.b=（010）。4、当第二相粒子与基体呈共格关系时，此时的成像衬度是（C）。A.质厚衬度；B.衍衬衬度；C.应变场衬度；D.相位衬度。5、当第二相粒子与基体呈共格关系时，此时所看到的粒子大小（B）。A.小于真实粒子大小；B.是应变场大小；C.与真实粒子一样大小；D.远远大于真实粒子。6、中心暗场像的成像操作方法是（C）。A．以物镜光栏套住透射斑；B．以物镜光栏套住衍射斑；C．将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。十四、1、仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是（B）。A.背散射电子；B.二次电子；C.吸收电子；D.透射电子。2、在扫描电子显微镜中，下列二次电子像衬度最亮的区域是（B）。A.和电子束垂直的表面；B.和电子束成30º的表面；C.和电子束成45º的表面；D.和电子束成60º的表面。3、可以探测表面1nm层厚的样品成分信息的物理信号是（D）。A.背散射电子；B.吸收电子；C.特征X射线；D.俄歇电子。十五、1、扫描电子显微镜配备的成分分析附件中最常见的仪器是（B）。A.波谱仪；B.能谱仪；C.俄歇电子谱仪；D.特征电子能量损失谱。2、波谱仪与能谱仪相比，能谱仪最大的优点是（A）。A.快速高效；B.精度高；C.没有机械传动部件；D.价格便宜。3、要分析基体中碳含量，一般应选用（A）电子探针仪，A.波谱仪型B、能谱仪型填空：一、1.当X射线管电压超过临界电压就可以产生连续X射线和标识X射线。2.当X射线管电压低于临界电压仅产生连续X射线；当X射线管电压超过临界电压就可以产生连续X射线和特征X射线。3.特征X射线的产生过程中，若K层产生空位，由L层和M层电子向K层跃迁产生的K系特征辐射按顺序称Kα射线和Kβ射线。4.X射线的本质既具有波动性也具有粒子性，具有波粒二象性。5.短波长的X射线称硬X射线，常用于金属部件的无损探伤；长波长的X射线称软X射线，常用于医学透视上。6.连续谱短波限只与管电压有关。7.特征X射线谱的频率或波长只取决于阳极靶物质的原子能级结构。二、1.本质上说，X射线的衍射是由大量原子参与的一种散射现象。2.布拉格方程在实验上的两种用途是结构分析和X射线光谱学。3.粉末法中晶体为多晶体，不变化，变化。4.平面底片照相法可以分为透射和背射两种方法。5.平面底片照相方法适用于研究晶粒大小、择优取向以及点阵常数精确测定方面。三、1、原子序数Z越小，非相干散射越强。2、结构因子与晶胞的形状和大小无关。3、热振动给X射线的衍射带来许多影响有：温度升高引起晶胞膨胀、衍射线强度减小、产生向各个方向散射的非相干散射。4、衍射强度公式不适用于存在织构组织。5、结构因子=0时，没有衍射我们称系统消光或结构消光。对于有序固溶体，原本消光的地方会出现弱衍射。6、影响衍射强度的因素除结构因子外还有角因子，多重性因子，吸收因子，温度因子。四、1.在Δθ一定的情况下，θ→90度，Δsinθ→0；所以精确测定点阵常数应选择高角度衍射线。2.德拜照相法中的底片安装方法有:正装法,反装法和偏装法三种。3.在粉末多晶衍射的照相法中包括德拜-谢乐法、聚焦照相法和针孔法。4.德拜相机有两种，直径分别是57.3mm和114.6mm。测量θ角时，底片上每毫米对应2º和1º。5.衍射仪的核心是测角仪圆，它由辐射源、试样台和探测器共同组成。6.可以用作X射线探测器的有正比计数器、盖革计数器和闪烁计数器等。7.影响衍射仪实验结果的参数有狭缝光阑、时间常数和扫