材料分析方法-第3版(-周玉)-出版社配套PPT课件-第1章-机械工业出版社

1材料分析方法第3版获2002年全国普通高等学校优秀教材一等奖主编哈尔滨工业大学周玉参编漆璿范雄宋晓平孟庆昌饶建存魏大庆主审刘文西崔约贤2本教材主要内容绪论第一篇材料X射线衍射分析第一章X射线物理学基础第二章X射线衍射方向第三章X射线衍射强度第四章多晶体分析方法第五章物相分析及点阵参数精确测定第六章宏观残余应力的测定第七章多晶体织构的测定3本教材主要内容第二篇材料电子显微分析第八章电子光学基础第九章透射电子显微镜第十章电子衍射第十一章晶体薄膜衍衬成像分析第十二章高分辨透射电子显微术第十三章扫描电子显微镜第十四章电子背散射衍射分析技术第十五章电子探针显微分析第十六章其他显微分析方法4绪论本课程的特点：以分析仪器和实验技术为基础本课程的内容主要包括：X射线衍射仪、电子显微镜等分析仪器的结构与工作原理、及与此相关的材料微观组织结构和微区成分的分析方法原理及其应用本课程的意义在于：通过材料微观组织结构和微区成分分析，揭示材料组织结构与性能的关系，即组织是性能的内在根据，性能是组织的对外表现；确定材料加工工艺和组织结构的关系，以实现微观组织结构控制本课程的基本要求：了解常用的现代分析仪器的基本结构和工作原理；掌握常用的实验分析方法；能正确选用合适的分析方法解决实际工作中的问题5第一篇材料X射线衍射分析1895年德国物理学家伦琴发现了X射线，随后医学界将其用于诊断和医疗，后来又用于金属材料和机械零件的探伤1912年德国物理学家劳埃发现了X射线在晶体中的衍射现象，为物质结构研究提供了一种崭新的方法，后来发展成为X射线衍射学1912年英国物理学家布拉格提出了晶面“反射”X射线的概念，推导出至今被广泛应用的布拉格方程1914年莫塞来发现特征X射线波长和原子序数有定量的对应关系，这一原理应用于材料成分检测X射线衍射分析研究内容很广，主要包括相分析、精细结构研究和晶体取向测定等6第一篇材料X射线衍射分析第一章X射线物理学基础第二章X射线衍射方向第三章X射线衍射强度第四章多晶体分析方法第五章物相分析及点阵参数精确测定第六章宏观残余应力的测定第七章多晶体织构的测定7第一章X射线物理学基础本章主要内容第一节X射线的性质第二节X射线的产生及X射线谱第三节X射线与物质的相互作用8第一节X射线的性质X射线是一种波长很短的电磁波X射线的波长范围为0.01~10nm，用于衍射分析的X射线波长为0.05~0.25nmX射线一种横波，由交替变化的电场和磁场组成X射线具有波粒二相性，因其波长较短，其粒子性较为突出，即可以把X射线看成是一束具有一定能量的光量子流，E=h=hc/(1-2)式中，h是普朗克常数；c是光速；是X射线的频率，是X射线的波长图1-1电磁波谱9第一节X射线的性质X射线穿过不同介质时，折射系数接近1，几乎不产生折射现象X射线肉眼不可见，但具有能使荧光物质发光、能使照相底板感光、能使一些气体产生电离的现象X射线的穿透能力大，能穿透对可见光不透明的材料，特别是波长在0.1nm以下的硬X射线X射线照射到晶体物质时，将产生散射、干涉和衍射等现象，与光线的绕射现象类似X射线具有破坏杀死生物组织细胞的作用10图1-2所示的X射线管是产生X射线的装置主要由阴极(W灯丝)和用(Cu,Cr,Fe,Mo)等纯金属制成的阳极(靶)组成阴极通电加热，在阴、阳极之间加以直流高压(约数万伏)阴极发射的大量电子高速飞向阳极，与阳极碰撞产生X射线图1-2X射线管结构示意图第二节X射线的产生及X射线谱连续X射线和特征X射线11一、连续X射线谱强度随波长连续变化的谱线称连续X射线谱，见图1-3图1-3管电压、管电流和阳极靶原子序数对连续谱的影响a)管电压的影响b)管电流的影响c)阳极靶原子序数的影响第二节X射线的产生及X射线谱12一、连续X射线谱由图1-3可见，连续X射线谱的特点是，X射线的波长存在最小值SWL，其强度在m处有最大值当管电压U升高时，各波长X射线的强度均提高，短波限SWL和强度最大值对应的波长m减小当管电流i增大时，各波长X射线的强度均提高，但SWL和m保持不变随阳极靶材的原子序数Z增大，连续X射线谱的强度提高，但SWL和m保持不变第二节X射线的产生及X射线谱13一、连续X射线谱连续谱强度分布曲线下的面积即为连续X射线谱的总强度，其取决于X射线管U、i、Z三个因素I连=K1iZU2(1-4)式中，K1是常数。X射线管仅产生连续谱时的效率=I连/iU=K1ZU可见，X射线管的管电压越高、阳极靶原子序数越大，X射线管的效率越高。因K1约(1.1~1.4)10-9，即使采用钨阳极(Z=74)、管电压100kV，1%，效率很低。电子击靶时大部分能量消耗使靶发热第二节X射线的产生及X射线谱14一、连续X射线谱为什么连续X射线谱存在短波限SWL？用量子理论可以解释连续谱和短波限，若管电压为U，则电子到达阳极靶的动能为eU，当电子在一次碰撞中将全部能量转化为一个光量子，可获得最大能量hmax，其波长即为SWL，eU=hmax=hc/SWLSWL=K/U(1-5)式中，K=1.24nmkV。而绝大部分电子到达阳极靶经多次碰撞消耗其能量，因每次能量消耗不同而产生大于SWL的不同波长的X射线，构成连续谱第二节X射线的产生及X射线谱15第二节X射线的产生及X射线谱二、特征(标识)X射线谱当X射线管压高于靶材相应的某一特征值UK时，在某些特定波长位置上，将出现一系列强度很高、波长范围很窄的线状光谱，称为特征谱或标识谱，见图1-4；其波长与阳极靶材的原子序数有确定关系，见式(1-6)，故可作为靶材的标志和特征，(1-6)式中，K2和是常数。表明阳极靶材的原子序数越大，同一线系的特征谱波长越短图1-4特征X射线谱)(21ZK16二、特征(标识)X射线谱特征X射线的产生可以用图1-5示意说明，冲向阳极的电子若具有足够能量，将内层电子击出而成为自由电子，此时原子处于高能的不稳定状态，必然自发地向稳态过渡。若L层电子跃迁到K层填补空位，原子由K激发态转为L激发态，能量差以X射线的形式释放，这就是特征X射线，称为K射线图1-5特征X射线产生示意图第二节X射线的产生及X射线谱17二、特征(标识)X射线谱由于L层内还有能量差别很小的亚能级，不同亚能级的电子跃迁将辐射K1和K2射线。若M层电子向K层空位补充，则辐射波长更短的K射线。特征X射线的频率可由下式计算h=W2W1=(-En2)(-En1)(1-8)式中，W2、W1分别为电子跃迁前后原子激发态能量，En2和En1是所在壳层上的电子能量。根据经典原子模型，原子内电子分布在一系列的壳层上，最内层(K层)能量最低，按L、M、N、顺序递增第二节X射线的产生及X射线谱18第二节X射线的产生及X射线谱二、特征(标识)X射线谱在莫塞莱定律(1-6)式中，其中R称为里德伯常数，R=1.0974107m-1；n1和n2是电子跃迁前后壳层的主量子数，如K层n=1，L层n=2，M层n=3等，…在K激发态下，L层电子向K层跃迁的几率远大于M层跃迁的几率，所以K谱线的强度是K的5倍；K1和K2谱线的关系为K1K2，IK12IK1。几种元素的特征波长和K系谱线的激发电压见表1-1212221223204211118nnRnnchmeK19二、特征(标识)X射线谱靶材ZK系列特征谱波长/0.1nmK吸收限K/0.1nmUK/kVU适宜/kVK1K2KKCr242.289702.293612.291002.084872.070205.4320~25Fe261.936041.939981.937361.756611.743466.4025~30Co271.788971.792851.790261.720791.608156.9330Ni281.657911.661751.659191.500141.488077.4730~35Cu291.540561.544391.541841.392221.280598.0435~40Mo420.709300.713590.717300.632290.6197817.4450~55表1-1几种阳极靶材及其特征谱参数注：K=(2K1+K2)/3第二节X射线的产生及X射线谱20二、特征(标识)X射线谱由表1-1中的数据可见，欲获得波长更短的特征X射线，需要选用原子序数更大的物质作为阳极。表中UK是K系特征谱的临界激发电压，阳极靶材原子序数越大，所需临界激发电压越高。特征谱的强度随管电压U和管电流i增大而提高I标=K3i(U–Un)m(1-10)式中，K3为常数；Un为特征谱的临界激发电压，对于K系，Un=UK；m为常数(K系m=1.5，L系m=2)为了提高特征谱的强度，应采用较高的管电压，当U/Uk=4时，I特/I连最大，所以X射线管适宜的电压为，U=(3~5)UK第二节X射线的产生及X射线谱21第三节X射线与物质的相互作用一、衰减规律和吸收系数如图1-6，强度为I0的X射线照射厚度为t的均匀物质上，穿过深度为x处的dx厚度时的强度衰减量dIx/Ix与dx成正比，(1-11)式中，l是常数，称线吸收系数(1-12)I/I0称为透射系数，l是X射线通过单位厚度(即单位体积)物质的强度衰减量，图1-7表示强度随透入深度的指数衰减关系xIIlxxdd图1-6X射线通过物质后的衰减tlIIe022第三节X射线与物质的相互作用一、衰减规律和吸收系数单位体积内物质量随其密度而异，因此对于一确定的物质l并不是常量，为表达物质本质的吸收特性，采用质量吸收系数m=l/(是吸收物质的密度)，代入式(1-12)可得(1-14)m为单位面积厚度为t的体积中物质的质量。因此，m的物理意义是X射线通过单位面积单位质量物质的强度衰减量它避开了密度的影响，可以作为反映物质本身对X射线吸收性质的物理量图1-7X射线强度随透入深度的变化mtmmeIeII0023第三节X射线与物质的相互作用一、衰减规律和吸收系数复杂物质的质量吸收系数对于多元素组成的复杂物质，如固溶体、化合物和混合物等，其质量吸收系数仅取决于各组元的质量系数mi及各组元的质量分数wi，即(1-15)连续谱的质量吸收系数连续X射线穿过物质时，其质量吸收系数相当于一个有效波长有效值(有效=1.35SWL)所对应的mniimimw124一、衰减规律和吸收系数质量吸收系数与波长和原子序数Z的关系质量吸收系数取决于X射线的波长和吸收物质的原子序数Z，其关系的经验式如下mK43Z3(1-16)式中，K4为常数。上式表明，物质的原子序数越大，对X射线的吸收能力越强；对于一定的吸收体，X射线波越短，穿透能力越强，吸收系数下降。但随波长减小，m并非单调下降，见图1-8第三节X射线与物质的相互作用25一、衰减规律和吸收系数质量吸收系数与波长和原子序数Z的关系如图1-8所示，吸收系数在某些波长位置突然升高，所对应的波长称为吸收限每种物质都有其特定的一系列吸收限，吸收限是吸收元素的特征量，将这种带有特征吸收限的吸收系数曲线称该物质的吸收谱为什么会存在吸收限？图1-8质量吸收系数与波长的关系曲线第三节X射线与物质的相互作用26第三节X射线与物质的相互作用二、X射线的真吸收光电效应当入射X射线光量子能量等于或略大于吸收体原子某壳层电子的结合能时，电子易获得能量从内层逸出，成为自由电子，称为光电子，这种光子击出电子的现象称为光电效应。将消耗大量入射能量，导致吸收系数突增光电效应引起的入射能量消耗为真吸收，真吸收还包括热效应光电效应、荧光效应和俄歇效应过程示意图27第三节X射线与物质的相互作用二、X射线的真吸收荧光效应因光电效应处于相应的激发态的原子，将随之发生如前所述的外层电子向内层跃迁的过程，同时辐射出特征X射线，称X射线激发产生的特征辐射