高低温功能验证-20121127

XX公司产品验证报告文件编号：AA-011-010（1.0）名称/产品类型XXX(以平板电脑为例)厂商/版本/验证数量XPCS序号/BIOSPOST画面显示/BIOS版本/BIOS类型■AMI□Award□其它：BIOSName：/BuildDate：/Checksum：/验证环境及配置■室温：34℃■低温：-40/-20℃□高温高湿60℃95%■高温：80/70℃主板型号/版本/软驱/芯片组例:IntelUS15WPSOC(2.3W)光驱/电源例:Channel/冠硕12V5A电源适配器KB/MS例:双飞燕/KB-8/USB键盘双飞燕/OP-220/USB鼠标CPUOnboard/Intel/Z510/1.10GHz/400MHz硬盘XX/SSD16GB/SATA2内存Onboard/DDR2/1GB/533MHzFAN/OS■WinXP□Win2000□Win2003□WinXPE□WinCE□Linux验证问题点高低温环境适应性验证测试高温存储：80℃工作温度：70℃；低温存储：-40℃工作温度：-20℃；存储8H，通电测试12H验证方法实验设备：测试软件：3Dmark01、BurnIntest5.3、Ntest引用标准：GB2423.2-89电工电子产品基本环境试验规程试验B：高温试验方法GB2423.1-89电工电子产品基本环境试验规程试验A：低温试验方法GB-T9813-2000微型计算机通用测试规范XX公司内部标准：《高低温测试规范》《主板测试规范》方法步骤：1、室温下测试待验品功能，应无异常2、按《高低温测试规范》做高低温实验，测试应无异常3、实验后检查外观，及测试平板电脑功能，应无异常序号品牌型号规格1XXXX高低温实验箱XX最高温度范围：-40~130℃温度控制精度范围：±0.5℃XX公司验证验证过程记录结果1、实验温34℃下，测试平板电脑功能无异常：测试平板电脑显示及触摸等功能无异常运行BurnIntest5.3，将波特率设置为115200，com1~com4功能测试无异常;Audio、USB、LAN等接口功能测试无异常Pass2、检查待测平板电脑外观，无异常，将其放入高低温实验箱，按《高低温测试规范》搭配好平台；高低温测试无异常：高温实验：高温80℃下存储8小时后，将实验箱温度降至70℃70℃稳定1H后上电开机，进行开关机测试无异常进系统正常，Audio、Lan、com、USB等功能测试无异常；讯速打开箱门用触摸笔点击屏幕，触摸功能正常，关闭好箱门运行3Dmark0112H无异常，未出现重启、死机等现象运行12H后做开关机测试无异常，将实验箱温度设置为-40℃低温实验：实验箱温度到达-40℃后，存储8小时后，将实验箱温度升至-20℃-20℃稳定1H后上电开机，进行开关机测试无异常进系统正常，Audio、Lan、com、USB等功能测试无异常；讯速打开箱门用触摸笔点击屏幕，触摸功能正常，关闭好箱门运行3Dmark0112H无异常，未出现重启、死机等现象运行12H后做开关机测试无异常Pass3、平板电脑关机后，将实验箱温度升至50℃，稳定3H后降至室温34℃；打开箱门，检查平板电脑外观，未有异常；测试平板电脑显示、触摸，com、Audio、USB、LAN等功能无异常Pass备注针对此次验证得出以下结论：TPC6000-6150T-W高/低温测试Pass高温存储：80℃工作温度：70℃；低温存储：-40℃工作温度：-20℃；存储8H，通电测试12H验证人员/日期审核人员/日期