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第3章CMOS反相器的分析与设计第3章CMOS反相器的分析与设计3.1CMOS反相器的结构和基本特性3.2CMOS反相器的直流特性3.3CMOS反相器的瞬态特性3.4CMOS反相器的设计23.1CMOS反相器的结构和基本特性NMOS管的衬底接地,PMOS管的衬底接VDD。输入端——栅极输出端——?极如何判断分析器中NMOS和PMOS器件的源漏区?是否有衬偏效应?34CMOSInverterVDDGNDInputOutput特点:Vin作为PMOS和NMOS的共栅极;Vout作为共漏极;VDD作为PMOS的源极和体端;GND作为NMOS的源极和体端VDDVVinouttVVinout反相器的逻辑符号3.1CMOS反相器的结构和基本特性若输入为“1”(Vin=VDD):VGSN=VDD,VGSP=0VNMOS导通,PMOS截止输出“0”(Vout=0V)outinVV53.1CMOS反相器的结构和基本特性若输入为“0”(Vin=0V):VGSN=0V,VGSP=-VDDNMOS截止,PMOS导通输出“1”(Vout=VDD)outinVV63.1CMOS反相器的结构和基本特性无比电路数字电路中作为开关使用(导通电阻、截止电阻)NMOS——下拉开关,PMOS——上拉开关73.2CMOS反相器的直流特性3.2.1直流电压传输特性3.2.2直流转移特性3.2.3直流噪声容限83.2.1CMOS反相器的直流电压传输特性输出电平与输入电平之间的关系:直流电压传输特性(VTC)NMOS与PMOS可以同时导通:并始终有如下关系:DNDPII,,GSNinDSNoutGSPinDDDSPoutDDVVVVVVVVVV93.2.1CMOS反相器的直流电压传输特性Vin=VTN的垂直线:NMOS截止/导通Vin=VDD+VTP的垂直线:PMOS导通/截止Vin-VTN=Vout的斜线:NMOS饱和区/线性区Vin-VTP=Vout的斜线:PMOS线性区/饱和区103.2.1CMOS反相器的直流电压传输特性(1)0≤Vin≤VTN,NMOS截止,PMOS线性Vin在一定范围变化(0~VTN),Vout始终保持VDD。220DNDPPinTPDDinTPoutoutDDIIKVVVVVVVV113.2.1CMOS反相器的直流电压传输特性(2)VTNVinVout+VTP,NMOS饱和,PMOS线性Vout随Vin的增加而非线性地下降,Kr=KN/KP为比例因子。2221222NinTNPinTPDDinTPoutoutinTPinTPDDrinTNKVVKVVVVVVVVVVVVKVV123.2.1CMOS反相器的直流电压传输特性(3)Vout+VTP≤Vin≤Vout+VTN,NMOS饱和,PMOS饱和221NinTNPinTPDDrTNDDTPitrKVVKVVVKVVVVK133.2.1CMOS反相器的直流电压传输特性(3)Vout+VTP≤Vin≤Vout+VTN,NMOS饱和,PMOS饱和Vit:逻辑阈值电平(转换电平),VTC垂直下降如果VTN=-VTP,KN=KP,则Vit=VDD/2,Vout/Vin趋向于无穷大。14221NinTNPinTPDDrTNDDTPitrKVVKVVVKVVVVK3.2.1CMOS反相器的直流电压传输特性(4)Vout+VTNVinVDD+VTP,NMOS线性,PMOS饱和Vout随Vin的增加而非线性地下降。22212221NinTNinTNoutPinTPDDoutinTNinTNinTPDDrKVVVVVKVVVVVVVVVVVK153.2.1CMOS反相器的直流电压传输特性(5)VDD≥Vin≥VDD+VTP,NMOS线性,PMOS截止Vin在一定范围变化(VDD+VTP~VDD),Vout始终保持0。2200DPDNNinTNinTNoutoutIIKVVVVVV163.2.1CMOS反相器的直流电压传输特性Vin=VTN的垂直线:NMOS截止/导通Vin=VDD+VTP的垂直线:PMOS导通/截止Vin-VTN=Vout的斜线:NMOS饱和区/线性区Vin-VTP=Vout的斜线:PMOS线性区/饱和区17183区的高度为两个阈值之和VoltageTransferCharacteristic(VTC)VDDVVinoutVout+VTP=VinVout+VTN=Vin3.2.1CMOS反相器的直流电压传输特性理想VTC曲线:(1)为输出高电平区,(2)、(3)、(4)为转变区,(5)为输出低电平区。其中(3)表现为垂线段。实际VTC曲线:(3)不再是垂线段;偏移。193.2.1CMOS反相器的直流电压传输特性VTC的偏移:20221NinTNPinTPDDrTNDDTPitrKVVKVVVKVVVVK3.2.2CMOS反相器的直流转移特性直流转移特性:直流导通电流Ion随Vin的变化而发生的变化VTC的输出高/低电平区:Ion=0VTC的转变区:Ion≠0Vin=Vit时,Ion达到最大值:22peakNitTNPitTPDDIKVVKVVV213.2.3CMOS反相器的直流噪声容限直流噪声容限:允许的输入电平变化范围由单位增益点确定噪声容限:在VTC的(2)区和(4)区,分别可以找到增益为1的位置;分别作为输入低电平的最大值VILmax和输入高电平的最小值VIHmin;maxmaxmin0NLILILNHDDIHVVVVVV223.2.3CMOS反相器的直流噪声容限如果Kr=1,VTN=-VTP=VTmaxmin318451843184ILDDTIHDDTNLNHDDTVVVVVVVVVV采用对称设计的CMOS反相器有相同的输入高电平和输入低电平的噪声容限。233.2.3CMOS反相器的直流噪声容限由逻辑阈值确定噪声容限:若Vit=VDD/2,VNHM=VNLM=VDD/2。实际情况,VNHMVNLM,最大直流噪声容限由min{VNHM,VNLM}决定。0NLMititNHMDDitVVVVVV2425例题一个CMOS反相器,Kr=1,设VDD=5V,VTN=0.8V,VTP=-1V,Cox=4.6×10-8F/cm2,μn=500cm2/Vs、μp=200cm2/Vs。由逻辑阈值点确定的最大噪声容限为多少?221NinTNPinTPDDrTNDDTPitrKVVKVVVKVVVVK26反相器的直流噪声容限数字电路中信号在VDD和Gnd之间转换,各种干扰信号,可能使得电路中某些结点的信号电平偏离理想电平(VDD,Gnd),产生所谓的噪声噪声会对电路的可靠性造成影响i(t)InductivecouplingCapacitivecouplingPowerandgroundnoisev(t)VDD27数字电路具有可恢复逻辑特性可恢复逻辑特性不可恢复逻辑特性VDD3.3CMOS反相器的瞬态特性3.3.1负载电容3.3.2输出电压的上升时间和下降时间3.3.3传输延迟时间的计算3.3.4电路的最高工作频率283.3.1CMOS反相器的负载电容三部分:MOS管的漏-衬底pn结电容CDBN和CDBP;下级电路的输入电容Cin;互连线引起的寄生电容Cl。LDBNDBPlinCCCCC293.3.1CMOS反相器的负载电容pn结电容用平均电容代替:如果连线较短,连线寄生电容Cl可以忽略。,,,,DBNDNjAavDNjPavDBPDPjAavDPjPavCACPCCACPC30310.25mmCMOSCapacitances31021011bijpjPbijjAVVCCVVCCW/L=0.36um/0.25um的NMOS(LD,S=0.625um)根据设计规则,计算出栅和漏端的电容如果考虑反偏电压和适当的版图优化,二者基本相等,漏端电容甚至更小些fFCfFLWCCfFWLCCfFCfFWCCCfFWLCCoutDjswswDjbottominOGSGDoxG9.0,45.0)2(,45.076.0,11.0,54.0''3.3.1CMOS反相器的负载电容Cin由下级电路全部NMOS和PMOS的栅电容构成。11()NNLDBNDBPGNiGPiDBNDBPNPioxiiCCCCCCCWWLC栅电容决定于栅面积(W×L)和单位面积栅氧化层电容Cox。323.3.2CMOS反相器输出电压的上升/下降时间定义:输出上升时间(tr):V10%~V90%输出下降时间(tf):V90%~V10%333.3.2CMOS反相器输出电压的上升/下降时间(1)阶跃输入的上升时间PMOS的导通电流是对负载电容充电的电流:Vout≤-VTP时,PMOS饱和:Vout从V10%上升到-VTP的时间:outLDPdVCIdt20outLPTPDDdVCKVVdt10%12TPLPDDTPVVCtKVV343.3.2CMOS反相器输出电压的上升/下降时间(1)阶跃输入的上升时间Vout-VTP时,PMOS线性:Vout从-VTP上升到V90%的时间:总上升时间:22outLPDDTPoutTPdVCKVVVVdt90%290%2ln2()DDTPLPDDTPDDVVVCtKVVVV10%90%290%221ln2()0.11.921ln2()0.1TPDDTPLrPDDTPDDDDTPLTPDDDDTPPDDTPDDDDTPVVVVVCtKVVVVVVCVVVVKVVVVV353.3.2CMOS反相器输出电压的上升/下降时间(2)阶跃输入的下降时间NMOS的导通电流是对负载电容放电的电流:Vout≥VDD-VTN时,NMOS饱和:VoutVDD-VTN时,NMOS线性:outLDNdVCIdt2outLNDDTNdVCKVVdt22outLNDDTNDDTNoutdVCKVVVVVdt363.3.2CMOS反相器输出电压的上升/下降时间(2)阶跃输入的下降时间总的下降时间:若参数对称,则两时间相等。两时间主要由负载电容和导电因子决定。10%90%210%221ln20.11.921ln2()0.1TNDDTNLfNDDTNDDTNTNDDDDTNLNDDTNDDDDTNVVVVVCtKVVVVVVVVVCKVVVVV373.3.2CMOS反相器输出电压的上升/下降时间(3)非阶跃输入情况负载电容的充电或放电电流是NMOS和PMOS电流之差:计算复杂,很难给出解析解。上升/下降时间不仅与反相器的参数有关,还与输入信号的波形有关。outLDPDNdVCIIdt383.3.3CMOS反相器传输延迟时间的计算tPHL,tPLH,2pHLpLHpttt393.3.3CMOS反相器传输延迟时间的计算近似认为tPLH内只有PMOS导通,tPHL内只有NMOS导通:用最大导通电流的一半作为平均电流:对称设计
本文标题:CMOS反相器的分析与设计
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