耳机质量允收标准

保密等级：对内公开MT-WI-QXXX/Rev01-1/11-文件一经打印，只做参考。耳机质量允收标准拟制：李沱审核：XXX批准：XXX日期：2015年11月20日上海移柯通信技术有限公司ShanghaiMobileTekCommunicationLtd.Allrightsreserved版权所有侵权必究保密等级：对内公开MT-WI-QXXX/Rev01-2/11-文件一经打印，只做参考。修订记录更新版本修改内容修改人审核日期Rev01初稿2015.11.20保密等级：对内公开MT-WI-QXXX/Rev01-3/11-文件一经打印，只做参考。目录1目的................................................42范围................................................43术语和定义........................................4-54相关职责............................................55工作流程.........................................5-116相关文件...........................................117记录...............................................11保密等级：对内公开MT-WI-QXXX/Rev01-4/11-文件一经打印，只做参考。1目的规范了耳机外观、电声性能一般性检验方法和接收标准以及可靠性试验标准，用于统一和规范耳机的质量验收。2范围:适用于耳机的入厂检验、部品认定、不良品判定等。3术语和定义3.1缺陷定义轻微缺陷（Min）:常见的可以被限度允收的非功能/性能缺陷，可以立刻发现及纠正（如：外观的表面脏污、毛丝）；严重缺陷（Maj）：超出允收限度的非功能/性能缺陷、批次不良，可发现但需成本改善（如：尺寸超标，装配性不良）；致命缺陷（Cri）：功能/性能不良，超出客户要求规格及标准、不容易被发现的，一但发生会引起客户不满且造成重大负面影响（如：显示不良，间隙超标，检测系统失效）。3.2物料认证新规格的物料在启动量产前应完成物料认定。认定所需样品由供应商提供，验项目及数量参照本章第5.1条要求。无条件试验的项目和OEM产品，由供应商提供试验报告。3.3逐批检验参照GB2828.1-2003，检查水平IL见本章第5.1条，合格质量水平要求如下严重缺陷：AQL=0.4轻微缺陷：AQL=1.0检验项目、要求、测试方法参照本章第5.1条要求。3.4表面定义A级面：耳塞、插头、耳机线,数据线。保密等级：对内公开MT-WI-QXXX/Rev01-5/11-文件一经打印，只做参考。B级面：耳控、咪壳。C级面：夹子。模痕：塑胶表面本身的熔接痕或痕迹（转动才可看到），宽度≤0.1。浅划痕：表面的明显线条痕迹，但未产生划掉底漆现象或划掉底漆的宽度0.1。深度划痕：表面的明显线条痕迹，产生划掉底漆现象或划掉底漆的宽度0.1。压陷：因为撞击出现的壳体局部下陷但不掉漆现象。表面颗粒：壳体油漆表面附着细小颗粒杂物。异色点：油漆表面出现不同颜色的油漆色点。异物：壳体油漆表面的与油漆颜色相同的细毛屑。毛边：沿分型线或合模面溢出的多余材料4相关职责4.1光源：D65，符合ISO10526：1999（E）标准要求4.2照度：垂直照度1000±200Lux4.3检视角：检视面与光源光线成45±15°，眼睛视线与检视面成90±15°。4.4检验工具：目检：人眼与被测物距离35±5cm，垂直于被测面。镜检：使用20-50倍可调显微镜。卡尺：数显，分辨率0.01mm。菲林片：测量毛丝、软划伤、点等缺陷。4.5检验时间：整个物料外观检验时间不超过10s。4.6视力要求：视力水平或矫正后的视力不低于1.2，无色盲、散光。4.7环境温度：20±5℃4.8环境湿度：45%-75%RH保密等级：对内公开MT-WI-QXXX/Rev01-6/11-文件一经打印，只做参考。5工作流程5.1外观接收标准序号项目缺陷内容不允许允许缺陷数量1）A级料件：耳塞、插头、耳机线,数据线轻微划痕明显可以看到，长度≥3较明显，长度31不明显（必须借光转动才可见）长度≥3不明显（必须借光转动才可见）长度32深度划痕长度≥2或宽度≥0.2长度2且宽度0.21压陷直径≥0.2直径0.21表面颗粒、异色点（喷涂）直径≥0.2直径0.21异物（喷涂）长度≥2或宽度≥0.2长度2且宽度0.21毛边不允许//2）B级料件：耳控轻微划痕长度≥5长度52深度划痕长度≥3或宽度≥0.3长度3且宽度0.31压陷直径≥0.3直径0.32表面颗粒、异色点（喷涂）直径≥0.3直径0.31异物（喷涂）长度≥3或宽度≥0.3长度3且宽度0.31毛边长度3长度≤3（但不刮手）（多点相加，允许不超过2点）/3）夹子C级料件：轻微划痕/允许/有深度的划痕长度≥3宽度≥0.3长度3宽度0.32（同一个面只能有一个）碰伤直径≥0.3直径0.32（在不同触点）表面颗粒、异色点（喷涂）直径0.3直径≤0.32（同一个面只能有一个）4）LOGO标识印刷字体与联想LOGO字体相符与联想LOGO字体不相符/印刷质量缺损大于字母高度的1∕4,不可辨别。缺损小于字母高度的1∕4,可辨别。/保密等级：对内公开MT-WI-QXXX/Rev01-7/11-文件一经打印，只做参考。常规检验项目序号项目检验方法及工具缺陷描述缺陷类型IL1）包装目视包装箱严重破损、凹陷、受潮、变形MIⅡ包装箱无制造商名称、产品型号、联想编号、生产日期MI包装未附带出货检验报告，或报告内容不符合规格要求MI2）结构尺寸卡尺外形尺寸超出规格书要求MAn=53）外观检查目视、卡尺参照本章第6条MIⅡ4）配机测试A、将耳机插入手机后，手机能正常识别；B、配合相应的手机，通话音量最大时，用耳机与固定电话通话，耳机的受话音量应正常。通话双方的声音应清晰无明显背景噪音、无掉话、不失真(用手轻微晃动耳机线，无异常的通话音或通话噪音），耳机的接听与挂断功能正常。C、插入耳机后，MP3声音应正常转入耳机。音质应清晰、在高音或重低音时不能有破音等异常声音。音量调整应有效而且正常。D、若手机有FM收音机功能，应将耳机插入手机，调到一个最清晰的频率收听广播节目。音质应清晰、音量应正常。MAⅡ5.2可靠性试验摇摆试验测试要求及方法：测试部位：耳机耳塞、分叉口、线控/按钮、咪壳的导线引出1）对要进行测试部分引出的母体（耳塞、分叉口、线控/按钮、咪壳）固定，使引保密等级：对内公开MT-WI-QXXX/Rev01-8/11-文件一经打印，只做参考。出线铅垂直朝下，按以下要求加负载，使之以摆动角度±60°、20次（来回）/分钟连续摆动；2）对不同部位的测试要求如下：A、B处：负载100g，试验3000次（普通型号）/1000次（针对低端型号）。C、D、E处：负载300g,试验5000次（普通型号）/3000次（针对低端型号）。3）试验完后对线体进行导通性测试，不应出现开路、电性能不良。拉力试验测试要求及方法：1）将耳机线体一端固定住，另外一端按以下要求施加砝码，保持1分钟。砝码要求如下：测试线体1位置，砝码重为2.0KG测试线体2位置，砝码重为3.0KG2）试验完后对线体进行导通性测试，不应出现开路、电性能不良。按键寿命试验测试要求及方法：1）以40～60次/分的速度，大于0.6N以上力按压耳机上的按键，试验5万次/3万次（针对低端机型）；所有的不同工艺的按键都应测试到；2）试验过程中每1万次左右对推拉键进行外观和功能检测一次；3）试验完后推拉按键外观应无显开裂破损及磨损现象，按键功能应正常。插拔寿命试测试要求及方法：1）将耳机插座固定，耳机接针插进、拔出算一次，作插拔试验5000次；2）试验过程中2000次、4000次、5000次左右对耳机插针及主机上耳机插孔进行外观和功能检测一次；3）试验后检查耳机插针的外观和功能，耳机插针不得出现断裂，插针插入插孔时保密等级：对内公开MT-WI-QXXX/Rev01-9/11-文件一经打印，只做参考。不得出现松动（应可以承受住手机本身的重量），用耳机进行通话测试时接触良好并能进行正常语音通话。盐雾试验测试要求及方法：1）耳机悬挂在环境温度为35℃±2℃的盐雾试验箱中，以浓度为5％的氯化钠溶液连续进行喷雾48小时，在试验过程中不得中途开启试验箱盖及中途取出耳机；2）试验完成后将耳机从试验箱中取出，用棉布和离子风枪对其进行表面清洁后常温下放置8小时后，耳机的电镀及金属部分不能有变色、生锈氧化等现象，进行电性能测试正常。跌落试验测试要求及方法：1）耳机于1.5m高带电池自由跌落，跌落到放置在地板上20mm厚的大理石板上；2）耳塞正、背、两侧、竖每个面朝下跌落2次，5个面共跌落10次；3）试验完后耳塞不得出现破损，且外观无异常及各项功能测试正常。高温贮存试验测试要求及方法：1）调节试验箱温度，逐步升高至65℃（±2℃），温度稳定后持续8h；2）试验完成后将耳机从试验箱中取出，取出后在常温下恢复2小时后无变色等现象，进行电性能测试正常。低温贮存试验测试要求及方法：1）调节试验箱温度，逐步升高至-30℃（±2℃），温度稳定后持续8h；2）试验完成后将耳机从试验箱中取出，取出后在常温下恢复2小时后无变色等现象，进行电性能测试正常。恒定湿热试验测试要求及方法：1）启动湿热箱电源使箱内温度达到40℃（±2℃），相对湿度达到93%～95％，温度稳定后持续48h；2）试验完成后将耳机从试验箱中取出，取出后在常温下恢复2小时后外观检查无变色等现象，进行电性能测试正常。温度冲击试验保密等级：对内公开MT-WI-QXXX/Rev01-10/11-文件一经打印，只做参考。测试要求及方法：1）将低温试验箱调到规定的贮存温度-30℃（±2℃），高温试验箱调到规定的高温贮存温度+65℃（±2℃）；耳机放入低温箱中，在规定的贮存温度下持续2h后，在5min内将试验样品移到高温箱内，在规定的贮存温度下保持2h，如此循环三次；2）试验完成后将耳机从试验箱中取出，取出后在常温下恢复2小时后外观检查无变色等现象，进行电性能测试正常。ESD测试测试要求及方法：接触放电电压±6KV，空气放电电压±12KV。连续单次放电方式，每秒放电不超过1次，耳机接入手机状态下对整机进行ESD测试，试验后耳机、MIC电声性能试验前后变化不超过5%。电声性能测试测试方法及要求：使用测试夹具和电声测试仪测试耳机的频响、灵敏度、失真度、f0，咪头的工作电流、频响、失真度、内置电容容量应符合规格书要求。低成本耳机本项不作要求。振动试验测试方法及要求：样品按10Hz-30Hz-10Hz、振幅0.55mm和30Hz-55Hz-30Hz、振幅0.15mm的条件分别连续振动30min，单次扫频时间为3min。试验后应无耳盖、咪壳松脱、开裂现象，电声性能符合规格书要求。听筒寿命试验测试方法及要求：样品听筒在额定功率的白噪声信号连续工作96小时。要求：试验后测试样品听筒声压级灵敏度、f0在规格书范围内，纯音检听无杂音。试验项目要求测试项目样品组样品数物料认定周期试验是否随整机试验外观ALL18√电声性能ALL18√√摇摆试验S-15√√拉力试验S-25√√按键寿命试验S-15√√保密等级：对内公开MT-WI-QXXX/Rev01-11/11-文件一经打印，只做参考。插拔寿命试验S-25√√盐雾试验S-33√√跌落试验S-33√√碰撞试验S-33√√高温贮存S-43√√低温贮存S-43√√恒定湿热S-43√√湿度冲击S-43√√ESD测试S-33√√√听筒寿命试验S-53√√√6相关文件GB-T6832-1986头戴耳机测量方法GB-T14471-93头戴耳机通用技术条件GB2423-89电工电子产品基本环