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实验四系统校正与离散系统仿真一.实验目的:1.学习结构图编程,掌握结构图simulink文件的设计方法;2.对给定的控制系统,设计满足频域性能指标的校正环节,并通过仿真结果验证设计的准确性。3.掌握PID控制器参数对系统的影响。4.掌握离散系统的特点,以及仿真方法。二.预习要点1.频率法串联校正(超前、滞后);2.PID控制器的参数特点。3.离散系统的时间响应以及稳定性。三.实验方法1.超前校正的一般步骤如下:(1)确定开环放大系数K。根据稳态误差的要求来确定K。(2)绘制满足稳态性能要求的原系统的伯德图,主要是对数幅频特性图。确定原系统的相位裕量)(c和增益裕量GM。(3)根据要求的相位裕量(设为)估计需要附加的最大相角位移max。即:)(maxc。考虑原系统一般都具有惯性,由于校正后穿越频率增大,会使相角位移增加一个迟后角,所以要在要求的相位裕量与原系统相位裕量之差的计算值上再增加(5~15)裕量。(4)确定两个交接频率的比。根据11arcsinmax。(5)确定校正装置的交接频率:T11,T2。其原则是:使校正后特性中频段(穿越0分贝线附近)斜率为-20dB/十倍频;并使校正装置出现最大相角位移的频率max与校正后的穿越频率c相等。(6)验证校正后的相位裕量)(c是否满足要求,如不满足要求需返回到第(3)步重新计算,直到满足要求为止。(7)确定出校正装置的传递函数。2.滞后校正的一般步骤如下:(1)根据稳态误差要求确定开环放大系数K。绘制校正前系统的伯德图,确定其相位裕量以及增益裕量。(2)确定校正后的穿越频率c。根据要求的相位裕量再考虑到滞后校正装置的滞后角影响,适当增加(5~15)裕量,在原系统伯德图上找到符合这一相位裕量的频率,此频率即为校正后的穿越频率c。(3)确定滞后校正装置的两个交接频率的比。先确定出原系统在c处的幅值,令其为H,使lg20H,从而确定出值。(4)确定交接频率T11,T12。考虑尽量减小滞后校正装置滞后角的影响,以及校正装置参数易于实现,选5.31(2~c)101,则21即可确定。(5)校验相位裕量和其它指标。(6)确定校正装置的传递函数。3.PID控制器1()cpdiWsKTsTs或1()1dcpiTsWsKTsNs(N取100)4.c2d将连续系统离散化,wd=c2d(num,den,T,Method)其中,T为采样周期,num和den分别为连续系统传递函数分子和分母系数,Method用来选择离散化方法,其类型分别为(1)’zoh’(零阶保持器);(2)’foh’(一阶保持器);(3)’tustin’(双线性变换法);(4)’prewarp’(频域法);(5)’matched’(零极点匹配法),如果省略参数Method的话,默认为对输入信号加零阶保持器。dstep求离散系统的单位阶跃响应,[c,t]=dstep(n,d);[c,t]=dstep(n,d,m)说明:dstep函数可绘制出离散系统以多项式函数W(z)=n(z)/d(z)表示的系统的阶跃响应曲线。dstep(n,d,m)函数可绘制出用户指定的采样点数为m的系统的阶跃响应曲线.当带有输出变量引用函数时,可得到系统阶跃响应的输出数据,而不直接绘制出曲线。dimpulse求离散系统的单位脉冲响应[c,t]=dimpulse(n,d);[c,t]=dimpulse(n,d,m)说明:dimpulse函数说明类似dstep函数,从略。四.实验内容:1.系统开环传递函数为)10125.0)(1(100)(ssssW,试用MATLAB设计合适的校正环节,使ωc≤50rad/s,相位裕量γ(ωc)≥50°2.已知三阶对象模型3()1/(1)Gss,研究闭环系统在不同控制情况下的阶跃响应,并分析结果。1)0,idTT时,在不同KP值下,闭环系统的阶跃响应;2)10,pdKT时,在不同iT值下,闭环系统的阶跃响应;3)1piKT时,在不同dT值下,闭环系统的阶跃响应;3.已知系统传递函数)10)(15.0()22.0(10)(22ssssssW,绘制连续系统的脉冲响应。以及T=1S,0.1S,0.01S时采样系统的脉冲响应;并确定系统的稳定性。
本文标题:实验四系统校正与离散系统仿真
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