您好,欢迎访问三七文档
§1.3理想PN结的直流电流-电压特性符合以下假设条件的PN结称为理想PN结模型:①小注入条件。注入的少数载流子浓度比平衡多数载流子浓度小得多。②突变耗尽层条件。外加电压和接触电势差都降落在耗尽层上,耗尽层中的电荷是由电离施主和电离受主的电荷组成,耗尽层外的半导体是电中性的。因此,注入的少数载流子在P区和N区是纯扩散运动。③通过耗尽层的电子和空穴电流为常量,不考虑耗尽层中载流子的产生及复合作用。④玻耳兹曼边界条件。在耗尽层两端,载流子分布满足玻耳兹曼统计分布。1.理想PN模型2.正向偏压特性(1)非平衡少子在扩散区中的分布1)边界少子浓度在P区边界处,电子和空穴的费米能级分别为和,所以电子和空穴的浓度分别为:FnEFpEpx)exp()(BiFnippTkEEnxn)exp()(BFpiippTkEEnxp)exp()exp()()(B2iBFpFn2ippppTkqVnTkEEnxpxn又,代入上式可得pxp0ppp)(npn2i0p0p同理可得,在N区边界处,空穴的浓度为:nx)exp()(B0nnnTkqVpxp)exp()(B0pppTkqVnxn在P区边界处,电子的浓度为:px其中、分别表示P区和N区的平衡少子浓度。n0pp0n2)扩散区少子浓度分布正向PN结向对方注入的少子往体内边扩散边复合,形成一个稳态分布。先分析N区少子空穴分布,少子空穴稳态扩散方程(一维,理想模型下)为:表示由于扩散,x处单位时间在单位体积内积累的空穴数(为空穴扩散系数)xxpD2n2pd)(dDppn)(xp表示x处单位时间单位体积内由于复合而消失的空穴数(为非平衡少子空穴的寿命)ppn2n2p)(d)(dxpxxpD(*)边界条件:1)exp()()(B0n0nnnnnTkqVppxpxp0)(np同理,可得注入P区的非平衡少子电子为:LxxTkqVnnxnxnnpB0p0pppexp1exp)()(解方程(*),可得注入N区的非平衡少子空穴为:LxxTkqVppxpxppnB0n0nnnexp1exp)()(pppDLnnnDL:称为电子的扩散长度:称为空穴的扩散长度其中:(2)正向PN结的电流转换和传输上图表示出了正向PN结电流转换和少子分布示意图。在N型区的右侧区域,由于注入过来的非平衡少子空穴已经基本复合消失,空穴的扩散电流为零,流过的电流主要是多子电子的漂移电流(因为少子空穴的浓度很低,其漂移电流可忽略不计)。同样,在P型区的左侧区域,流过的主要是多子空穴的漂移电流。在扩散区中,少子扩散电流和多子漂移电流将互相转换。N型区中的电子,在外加电压的作用下,向边界漂移,越过空间电荷区,经过边界注入P区,然后向前扩散形成电子扩散电流,但在电子扩散区域中,电子边扩散、边复合,不断与从左边漂移过来的空穴复合而转化为空穴漂移电流,直至注入电子全部复合掉,电子扩散电流全部转变为空穴漂移电流。xnxpLn电子电流与空穴电流的大小在PN结附近扩散区域内的各处是不相等的,但两者之和始终相等。这说明电流转换并非电流的中断,而仅仅是电流的具体形式和载流子类型发生了改变,PN结内电流是连续的。同样,P型区中的空穴,在外加电压的作用下,向边界漂移,越过空间电荷区,经过边界注入N区,在空穴扩散区域中,空穴扩散电流通过复合转换为电子漂移电流。总之,经过上述过程,扩散区中的少子扩散电流都通过复合转换为多子漂移电流。xpxnLp(3)PN结正向电流-电压关系由以上分析可知,PN结内各处电流是连续的,则通过PN结的任意截面电流都一样。因此,只要求出空间电荷区与N区的交界面处的电子电流与空穴电流,它们的和就是流过PN结的总电流,即=(处的电子漂移电流)+(处的空穴扩散电流)xnIxnxp=(处的电子扩散电流)+(处的空穴扩散电流)xn)()(nppnxIxI=在处,空穴扩散电流密度为:xxn)(d)(d)(nnpnpxxxxpDqxJ1expBp0npTkqVLpDq在处,电子扩散电流密度为:xxp)(d)(d)(ppnpnxxxxnDqxJ1expBn0pnTkqVLnDq这就是著名的肖克莱方程式,是理想PN结模型的电流-电压方程式。流过PN结的总电流为:1exp)()(Bp0npnpnpTkqVLpDqAAxJxI1exp)()(Bn0pnpnpnTkqVLnDqAAxJxI∴)()(nppnxIxII1expBp0npn0pnTkqVLpDLnDqA(*)讨论:①令,称为PN结二极管的饱和电流,不随外加正向偏压而变化。所以方程式(*)可表示为:LpDLnDqAIp0npn0pn01expB0TkqVII②在正向偏压下,正向电流随正向偏压呈指数关系迅速增大。在室温(300K)下,,一般外加正向偏压约零点几伏,故,式(*)可以表示为:V026.0/BqTk1/expBTkqVTkqVIIB0expnLnDLpDqAI2ip0npn0pn0nNLDNLDqA2idppannTkENLDNLDNNqABgdppannvcexpLpLτnqApp0nnn0p③在讨论PN结特性时,往往把写出以下几种变形I0④对于结,,因此,所以由式(*)可知,结的正向电流近似为NPnp0n0pnp0p0nNP1expBp0npTkqVLpDqAIPNpn0p0npn0n0p1expBn0pnTkqVLnDqAI同理对于结,,因此,所以正向电流近似为3.反向偏压特性(1)少子浓度分布与正向偏压情况分析类似,可以得到在反向偏压下,即时0VLxxTkqVppxppnB0n0nnexp1exp)(N区的非平衡少子空穴的浓度分布为:P区的非平衡少子电子的浓度分布为:LxxTkqVnnxnnpB0p0ppexp1exp)(所以边界条件下有:0exp)(B0nnnTkqVpxppp0nn)(0exp)(B0pppTkqVnxnnn0pp)(当PN结加上反向偏压时,在结边缘有:所以这种现象称为反向少子抽取。pxp0nnn)(nxn0ppp)((2)反向PN结电流的转换和传输由于反向PN结具有抽取作用,使得其边界附近区域的少子浓度低于平衡少子浓度,因而产生大于复合,即有电子空穴对的净产生。在区域内,净产生的空穴往结区扩散,到达空间电荷区边界后,便被电场扫过空间电荷区进入P区;产生的电子,则以漂移的形式向N区右侧流出。在区域净产生的电子往结区扩散,到达空间电荷区边界,随即被电场扫过空间电荷区进入N区;产生的空穴,则以漂移的形式向P区左侧流出。这样,就形成由N区流向P区的PN结反向电流,与正向PN结电流方向相反。PN结反向电流在N区的右侧为电子漂移电流,到了扩散区逐渐转换成空穴电流,在P区的左侧全部变为空穴电流。和PN结正向电流一样,反向电子电流与空穴电流的大小在PN结扩散区内各处是不相等的,但两者之和始终相等。pp~xxnn~xxpxnxnxpx(3)反向PN结电流用与正偏PN结类似的方法,可求得PN结反向电流为:1expBp0npn0pnRTkqVLpDLnDqAI1expB0TkqVILpDLnDqAIp0npn0pn0其中:讨论:①反向电流与正向电流的表达式一样,但反向偏压,正向偏压。0V0V0expBTkqV②在反向偏压下,当时,,反向电流简化为:TkVqB式中负号表示电流方向与正向时相反。表明反向电流为常量,与外加电压无关,故称为反向饱和电流。II0RI0③少子浓度与本征载流子浓度成正比,并且随温度升高而快速增大。因此,反向扩散电流随温度升高而快速增大。n2i④PN结的反向电流实质上是在PN结附近所产生的少子构成的电流。在一般情况下,不论P区还是N区其少子浓度都很小的,因而反向电流也是很小的。4.PN结的伏安特性(1)PN结的单向导电性PN结外加正向偏压时,表现为正向导通;外加反向偏压时,表现为反向截止,即表示PN结具有单向导电性。(2)PN结的导通电压和正向压降1)导通电压室温下,锗PN结的导通电压约为0.25V,硅PN结为0.5V。从伏安特性曲线可以看出,在外加电压较低时,正向电流很小,几乎为零;随着外加电压的增加,正向电流慢慢增大,只有当大于某一值时,正向电流才有明显的增加。通常规定正向电流达到某一明显数值数时所需外加的正向电压称为PN结的导通电压(用表示),即外加电压要大于后,正向电流才随着外加电压的增加急剧增加。VTHVVVTH由于PN结的正向电流与电压成指数关系,当正向电压超过PN结的导通电压后,正向电压的微小变化将引起正向电流的很大变化,即使正向电流有很大的变化,正向电压也几乎不变,称此时的正向电压为PN结的正向压降。正向压降与材料有关,锗PN结的正向压降为0.3~0.4V,硅PN结的正向压降为0.7~0.8V。可见,用禁带宽度不同的材料制成的PN结,其正向导通电压和正向压降的数值是不一样的。2)正向压降
本文标题:半导体器件物理4.
链接地址:https://www.777doc.com/doc-2589407 .html