SDH漂移测试

SDH漂移测试一、漂移特性1、基本概念：（1）漂移(Wander)：漂移的定义是一个数字信号的有效瞬时在时间上偏离其理想位置的长期的、非累积性的偏离。所谓长期的偏离是指偏离随时间较慢的变化，通常认为变化频率低于10Hz就属于较慢的变化。（2）单位间隔（UI）：等步信号两个相邻有效瞬时之间的标准时间差称为单位间隔。对于比特率为B的信号相对应的单位间隔可按下式计算：1UI=1/B（秒）。（3）时间间隔误差（TIE）：是指在特定的时间间隔内，一个给定信号相对于理想信号的时延变化。特定时间间隔是指观察时间，TIE单位通常用纳秒（ns）和微秒（us）或单位间隔（UI）来表示。时间间隔误差测量是一种最基本的测量方法，通过由测量得到的原始相位数据，可以进行很多其它相关参数的分析和计算，例如漂动、相位瞬变和频偏等。（4）最大时间间隔误差(MTIE):是指在一个测量周期内，一个给定的窗口内的最大相位变化。MTIE的单位通常用纳秒（ns）和微秒（us）或单位间隔（UI）来表示。通常MTIE用来描述在某一观察时间内一个定时信号漂动的最大值、相位瞬变和长期频偏。该参数无论在同步设备性能测试和同步网接口性能测试中，还是在传输性能测试其它相关测试中，都是不可缺少的。图注：例如当=20s时，图中所示窗口下PPTIE=4ns，而当这个长度的窗口沿时间轴滑动时，PPTIE的最大值为11ns，故MTIE（20s）=11ns。（5）、时间偏差（TDEV）：是指在一个测量周期内，一个给定的积分时间内的统计平均相位变化。即为时间方差（TVAR）的平方根，通常用纳秒（ns）和微秒（us）或单位间隔（UI）来表示。时间偏差通常用来规定相位噪声，即描述一个定时信号的漂动。该测试在漂动容限和漂动传递特性测量中产生漂动模板和规定其滤波特性是极其重要的。TDEV功能定义及其测试带通滤波器脉冲响应和频率响应分别见图3及图4。2、漂移机理：数字网内可能有多种漂移源。首先，基准主时钟系统中的数字锁相环受环境温度变化影响将引入不小的漂移。同理，从时钟也会引入漂移。其次，传输系统中的传输煤质和再生器中的激光器产生的时延受温度变化影响将引进可观的漂移。最后，对于SDH系统而言，由于指针调整和网同步的结合也会产生很低频率的抖动和漂移。总的来说，时钟和指针调整引起的抖动和漂移可以通过技术措施控制在较低的水平，而由于温度所引起的漂移却是难以控制的，主要由环境温度决定。二、漂移性能指标1、PDH输入口的漂移容限ITU-TG.823建议对PDH接口的输入漂移容限进行了规定，具体要求见第五部分《抖动测试》中的PDH输入口抖动容限指标，其中已包含了漂移容限限值。2、SDH网络STM-N输出口漂移网络限值：ITU-TG.825建议规定STM-N等级接口的漂移限值用最大时间间隔误差MTIE来规定，指标尚未最后确定，目前已经提出的推荐值见表1。MTIE(us)观察时间(s)7.51/300.1+0.251/307.5510-3+217.51200110-5+812003、STM-N输入口的漂移容限ITU-TG.825建议对STM-N输入口的输入漂移容限进行了规定，具体要求见第五部分《抖动测试》中的SDH输入口抖动容限指标，其中已包含了漂移容限限值。三、漂移测试1、PDH输入口的漂移容限测试见第五部分《抖动测试》中的PDH输入口抖动容限测试基本配置及测试步骤，其中已包含了漂移容限限值测试方法。2、SDH网络STM-N输出口漂移网络限值：测试配置见图2。图注：进行STM-N接口输出漂移测试时必须用高稳定的基准时钟PRC对漂移测试仪进行定时，这样一来仪表才能用接收到的STM-N线路时钟信号与基准时钟进行相位比较，得出TIE值，同时也使测试结果更准确。对于没有PRC的地方，可以用大楼综合定时系统（BITS）的时钟代替。3、测试步骤：（1）按图1接好电路，调整光衰减器，使输出光的功率在漂移测试仪要求的范围内；（2）按被测接口速率等级，设置漂移测试仪接收为相同速率；（3）连续进行长时间测试（从0.01s级开始至1200s或更长，一般为三倍于最大观察时间）获得漂移数据，测试结束后利用分析软件包对数据进行分析得到MTIE和TDEV结果（经漂移测试仪记录的TIE数据送入计算机分析得到MTIE和TDEV曲线），测得的结果应不超过表1中的数值。4、STM-N输入口的漂移容限测试见第五部分《抖动测试》中的SDH输入口抖动容限指标测试基本配置及测试步骤，其中已包含了漂移容限限值测试方法。