SEMITEK Presentation 2008

捷鸿电子有限公司Hongkongoffice:(852)21393077Shanghaioffice:021-26967085/13764316915E-mail:[e-mail]’anoffice:029-84248715/13359286661E-mail:[e-mail]?Provides:FailureAnalysisandReliabilityEquipment可靠性,失校分析设备SRMHandlerSystemandTestFinger/Blade/Socket测试分选编带机，测试片，测试座，SocketFor:SemiconductorCompanies半导体PCBA/EMSCompaniesXRAYINSPECTION,X射线GateACOUSTICMICROIMAGING扫描超声波显微镜Products-AcidDecapsulatorandDelayering去塑封AcidDecapsulation&Delayering样品制备ACIDDECAPSULATORS去塑封SiliconBacksidePreperationSystem————NanoPrep•可选择研磨和抛光的面积和厚度XY：0~75mm；Z：57mm•CNC控制，XY轴分辨率为5微米，Z轴可达1.5微米•可存储设定的程序，最高256组•可根据不同材料，选择不同的钻头进行研磨和抛光•还可进行背面制备及自动开封机衬垫德国leica工业显微镜visioninspectionBF明场效果图DF暗场效果图偏光与微分干涉效果图金相显微镜体式显微镜德国SUSS微探针台AnalyticalProbingStationPhotoEmission&LCSystem•半导体冷却至-40度的CCD摄像头•光谱范围从355纳米至1200纳米，涵盖可见光和部分红外区域•分辨率1360X1024像素•可增加液晶及荧光微热成像选项SolderJointReliabilityContinousMonitoringEventDetectorIPCSM785and9701SurfaceMountAttachmentsonTestVehicle焊点可靠性,热阻FIBandSEMSolutions二手设备FEIDualBeam865Type:DualBeam(SEM/FIB)YrMfg:2001LEO982FEGSEM(1996)FIB(FEIandSEIKO)TEM(PHILIPSandHITACHI)SEM(JEOL,LEO,PHILIPS)ACIDDECAPSULATORSVISIONINSPECTIONIC共面性检测仪ACIDDECAPSULATORSSRMTAPE&REELHANDLERSRM外观检测分选测试编带机XD244适合SOP系列XD206适合SOT系列ACIDDECAPSULATORSCITSB-测试片，测试座，SocketandContactFingersWhoisUpstar?SocketsandTestContactors封装测试配件