DPPM制程不良统计方法

2020/3/21DPPM製程不良統計方法2020/3/22主要內容•DPPM概念介紹•計數值與計量值統計方法定義及區別•CPK與良率及sigma對應關係•定宏採用之DPPM製程統計方法•定宏製程DPPM統計目標•定宏採用DPPM統計目的及改進措施2020/3/23DPPM相關知識解釋•DPPM:DefectPartPerMillion:百萬分之一不良品•產品品質特性的記錄一般分成計數值或計量值，計數值又以計件或計點為記錄，計量值以實際量測之特性值•計量值則以製程能力指數Cp、k（Ca）、Cpk為代表•計數值一般以MIL-STD-105E之AQL來衡量,AQL在10以下時，可表計件的不良率或計點的缺點數，AQL在10以上時，則表計點的缺點數或每百件缺點2020/3/24計量值衡量標準:Cpk—製程能力指標(1)Ca之計算方式如下(準確度)實績平均值-規格中心值X-uCa=----------------------------------*100%=--------------*100%規格公差/2T/2T=USL-LSL=規格上限--規格下限規格公差6個估計實績標準差=T6σCp=(雙邊規格)(單邊規格)或規格上限-實績平均值3個估計實績標準差=USL-X3σCp=實績平均值-規格下限3個估計實績標準差=X-LSL3σCp=Cpk=(1─│Ca│)*Cp(2)Cp之計算方式:(精確度)(3)製程能力指數2020/3/25計量值品質統計衡量方式Cp=0.331SIGMA4SIGMA6SIGMA5SIGMA3SIGMA2SIGMACp=2.00Cp=1.67Cp=1.33Cp=1.00Cp=0.67Cpk&Sigma(中心點不偏移Cp=Cpk)2020/3/26Cp=0.331SIGMA4SIGMA6SIGMA5SIGMA3SIGMA2SIGMACp=2.00Cp=1.67Cp=1.33Cp=1.00Cp=0.67Cpk=-0.17Cpk=0.17Cpk=0.50Cpk=0.83Cpk=1.17Cpk=1.50計量值品質統計衡量方式Cpk&Sigma(中心點偏移1.5σ)2020/3/27計數值製程良率衡量指標•製程良率（Yield）：一般以一製程之投入產品件數與該製程輸出良品的件數之比率。以上適用於電子零件、半導體等製程，其不良品無法修理而報廢者。裝配廠的製程，其不良品大致上都可以修理，修理好的產品，再回線測試，繼續裝配，如此要定義其良率應以各製程的初檢通過率（FirstTimeYield；FTY）較為合理。•初檢通過率（FirstTimeYield；FTY）:一製程投入產品件數與第一次檢驗就通過之件數之比率。•全製程之直通率（RolledThroughoutYield）:定義為全製程的投入產品件數與通過全製程無缺點產品件數之比率，不過在製程上要準確計算比較困難，一般以各製程的良率相乘2020/3/28檢點數與良率的關係一.檢點數與良率的關係(中心不偏移目標值)檢點數ｎ3σ4σ5σ6σ199.73%99.9937%99.999943%99.9999998%299.6499.9999.999999.99999398.6699.9799.999799.999991097.3399.9499.999499.999995087.3699.6999.99799.9999910076.3199.7399.99499.9999850025.8896.9099.9799.9999010006.7093.8999.9499.99982020/3/29檢點數與良率的關係二.檢點數與良率的關係(中心偏移目標值1.5σ)檢點數ｎ3σ4σ5σ6σ193.32%99.797%99.9767%99.99966%287.0998.7699.9599.99932370.7796.9399.8899.99831050.0993.9699.7799.9966503.1573.2498.8499.981000.1053.6497.7099.9665000.004.4489.0299.8310000.000.2079.2499.662020/3/210計數值計點的品質1.一般資訊電子產品只要有一個缺點就應視為不良品，但是一個不良品可能有一個以上的缺點，因此以平均每件幾個缺點較能完全表示品質，以dpu（DefectsPerUnit）為單位2.一般不同產品的每件檢點數不同，檢點數愈多，dpu就可能愈大，以dpu的大小來比較產品品質的好壞似乎不太合理，因此用總檢點數與總缺點數之比來比較品質會客觀一點；以dppm（DefectPartsPerMillion）為單位.dpu是代表每件產品平均有幾個缺點，而dppm是每檢查一百萬的檢點平均有幾個缺點。2020/3/211定宏光電將採用統計方法1.針對每一Process(或站別)列出檢點數如附表2.總檢點數=抽樣件數*檢點數/件3.依每一站別IPQC抽檢不良點數作為統計Dpu4.製程DPPM=抽檢出不良總點數與整個製程總檢點數比值5.各工站(Process)製程良率=產出數/投入數6.全製程直通率=各工站(Process)製程良率相乘以上可以整體反映產線狀況,但有時有來料不良,這樣對產線製程管控似乎不太公平,故類似上述做法,引出以下概念I.產線DPPM=(抽檢出不良總點數-來料不良總點數)/整個製程總檢點數II.各工站(Process)產線良率=產出數/(投入數-來料不良數)III.整體產線直通率=各工站(Process)產線良率相乘2020/3/212定宏製程不良DPPM品質目標季度Q1Q2Q3Q42005品質目標DPPM5000300020001000500一.Backlight組裝線製程不良DPPM品質目標季度Q1Q2Q3Q42005品質目標DPPM300020001000800400二.Lampassembly&Invertr組裝線製程不良DPPM品質目標2020/3/213項次站別檢驗點數項次站別檢驗點數10點／件1.网點劃傷2.网點連結3.鏡面劃傷4.黑點5.凸點6.黑影7.白點5點／件1.變形2.缺料3.异色4.雜點5.划傷點數點數8.鏡面网水溢出9.鏡面亮點10.尺寸不良7點／件1.划傷2.异色3.油污4.縮水5.變形點數點數6點/件1.尺寸不良2.划傷3.凸點4.黑點5.印痕6.流紋點／件1.划傷2.异色3.雜點點數點數7點/件1.保護饃破損2.划傷3.凸點4.黑點5.印痕6.流紋6點／件1.划傷2.油污3.縮水4.變形5.毛邊點數點數3點/件1.貼歪2.折傷3.尺寸不良3點／件1.脫漆2.滑牙點數點數4點/件1.貼歪2.折傷3.尺寸不良4.异色6點／件1.污點2.异色3.破損4.折傷5.貼歪點數點數6點/件1.housing插錯位2.銀光粉脫落3.燈管漏气4.斷裂5.退pin6.規格錯誤4點／件1.斷碼2.氣泡3.折傷4.貼斜點數點數3點/件1.毛邊2.溢膠3.斷裂6點/件1.流紋2.划傷3.异色4.破損5.凹陷點數點數5點/件1.上下貼偏2.折傷3.尺寸不良4.貼近5.溢膠3點／件1.划傷2.銀漆3.斷腳點數點數7點/件1.凹凸點2.划傷3.毛發4.亮點5.黑點6.油污7.霧狀7點／件1.毛邊2.溢膠3.雜點4.髒污5.折傷點數點數7點/件1﹒尺寸不良2.折傷3.划傷4.亮點5.黑點6.白點7.髒污3點／件點數點數5點/件1﹒亮線2.折傷3.凹凸點4.印痕5.划傷7點／件1.划傷2.异色3.油污4.縮水5.噴漆不均點數點數4點/件1.异色2.變形3.油污4.黑點點數3點/件1.點燈不亮漏件型號錯誤點數4點/件1.划傷2.折傷3.雜點4.流紋點數7點/件1.斑點2.縮水3.异色4.變形5.毛邊6.重影7.划傷點數27噴漆件25泡棉26包裝3.泡棉受潮1.紙箱破損2.氣泡袋髒污5R18824支架22條碼21銘板23CABLE線12定位板13INVERTER4W20010D115/D2047膠帶9上覆蓋板8GR25D15負片2PC片14負片紙6LAMP3校正片11BEF零件檢點數統計18后蓋／內蓋19底座201壓克力檢驗項目檢驗項目16燈罩17上蓋/掀蓋3.規格不符螺絲2020/3/214檢點數檢出來料檢出制程制程產線制程產線／件抽樣數檢出缺點數抽樣數檢出缺點數抽樣數檢出缺點數抽樣數檢出缺點數抽樣數檢出缺點數缺點數缺點數dppmdppm良率良率核准﹕品檢員﹕全製程直通產出數率整體產線直通率產線缺點數全製程檢出制程缺點數全製程制程dppm總抽樣數投入數總檢點數全製程檢出表單編號﹕機種﹕日期﹕巡檢日報表13:00~15:0015:10~17:2018:00~20:008:00~10:00站別原因描述10:10~12:00注:1.制程dppm=(檢出制程缺點數/總檢點數)*106整體產線dppm審查﹕全製程檢點數2.全製程制程dppm=(全製程檢出制程缺點數/全製程檢點數)*1063.各工站制程良率＝產出數／投入數7.整體產線直通率=各工站(Process)產線良率相乘4.全制程直通率＝各工站制程良率相乘5.產線DPPM=(抽檢出不良總點數-來料不良總點數)/整個製程總檢點數6.各工站(Process)產線良率=產出數/(投入數-來料不良數)2020/3/215定宏採用DPPM統計目的及意義一.目的;A.引入統計品管及dppm管理體系B.加強品質觀念,提昇製程能力,提昇良率,滿足客戶需求二.改進措施A.檢討不良發生原因及提出有效改善措施B.不斷採取PDCA循環,使公司管理及品質上一個新台階