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临床应用技术经理:麻攀1342ABC校准原理常见原因故障反馈案例分析目录1ABC校准原理PART01校准的定义和目的?迈瑞发光校准原理?客户端校准工作模式?校准有效性判断规则?校准的定义和目的定义ISO010012-1《计量检测设备的质量保证要求》定义:在规定条件下,为确定计量仪器或测量系统的示值或实物量具或标准物质所代表的值与对应的被测量的已知值之间关系的一组操作。目的对照计量标准,评定测量装置的示值误差,确保量值准确,属于自下而上量值溯源的一组操作。校准的定义和目的物质程序实施不确定度计量学溯源WHO/NMI用户ML用户用户参考物质迈瑞选定测量程序用户常规测量程序常规样本检测结果迈瑞参考血清迈瑞常设测量程序产品校准品迈瑞标准测量程序工作校准品MLMLMLMLMLWHO:世界卫生组织;NMI:国家计量机构;ML:生产厂商试验室校准/赋值物质程序实施不确定度计量学溯源WHO/NMI用户ML用户用户参考物质迈瑞选定测量程序用户常规测量程序常规样本检测结果迈瑞参考血清迈瑞常设测量程序产品校准品迈瑞标准测量程序工作校准品MLMLMLMLMLWHO:世界卫生组织;NMI:国家计量机构;ML:生产厂商试验室校准/赋值校准/赋值迈瑞发光校准原理定量(4PLC)系统使用1-3点校准,对试剂盒内的校准主曲线进行调整,得到校准结果。根据校准结果,将样本测试的发光值转化为浓度值。定性(COI)系统使用1-2点校准,按照各项目预设的公式,将校准品的发光值转化为Cutoff值。比较样本测试的发光值和Cutoff值,判断样本的阴阳性。夹心法曲线客户端校准工作模式三点校准:是通过测量曲线上的某三个不同浓度的点,对比实测值与标准曲线理论值的变化,从而获得整条曲线的变化特征,得到当前状态下的反应曲线。两点校准:测定C0及C1,获得相对发光值(RLU)并取均值,按照公式计算CutoffRLU值。(校准系数根据特定的校准品批号确定。)校准有效性判断规则定标重复性检查判断斜率、比值、偏差组合判断拟合收敛检查判断回归检查判断对各浓度点的发光值进行重复性计算,若有某点的重复性超出限度,则判定标失败对比曲线斜率、C1/C0及C2/C0点发光值比值、实测值与出厂值差异,偏差超限则判定失败检测经过多步迭代之后得出的数值是否趋于固定值,若无趋势则判定失败使用定标后的校准曲线反算定标液的浓度,检查实测值与理论值差异,偏差过大则判定失败12435递归检查判断引用上次定标结果进行判断,两次定标数据偏差超限则判失败任一规则判断不通过则校准失败!2常见原因PART02常见校准失败报警有哪些?常见校准失败报警处理思路分享常见校准失败报警标识描述原因解决方法COV校准曲线不收敛对于非线性校准,找不到满足精度要求的根拟合确认试剂和校准品有无问题,并重新校准CSDB校准结果错误,检测到气泡底物注入过程中,检测到气泡底物灌注后重新定标DCF光度计错误校准过程中发生DCF校准失败重启仪器,重启软件DET校准曲线拟合度超限计算出的校准曲线拟合度与用户输入“校准曲线拟合度”比较,大于规定限确认参数设置的合理性,确认试剂和校品有无问题,并重新校准DEV校准发光值偏差超限校准品发光值偏差超限,检查失败重新校准DUP校准重复性错误CV大于试剂条码中获取的该校准品重复性指标确认参数设置的合理性,查找重复不好的原因,并重新校准。LVC前一次有效校准超出允许误差范围前一次有效校准,计算出的校准品浓度超出条码中定义的允许误差范围更换校准品和试剂重新校准MON单调性检查失败不符合夹心法升序及竞争法降序原则调整校准品顺序后校准RAT校准品信号比超限超出对应比值的波动范围重新校准RCV校准品回归浓度超限RECOVERY回归检测失败重新校准RGTL试剂不足试剂不足得到的校准结果更换试剂SLO斜率超限校准斜率检查失败重新校准SMPL样本不足测试过程中,样本不足添加样本后重新校准VAM校准数据丢失校准过程中测试未完成导致无法进行校准参数计算系统恢复后重新计算校准失败—DEV报警(校准品实测发光值相对主曲线拟合偏差大)可能原因:1.管路污染分离液污染底物液污染2.试剂问题3.校准品问题4.仪器故障系统重复性差加样性能磁分离盘多项目定标失败,报警DEV可能原因:1.仪器管路污染(建议关注40次以上)2.分离液污染3.底物液污染4.仪器加样系统故障解决思路:1.排查仪器因素(用服)2.排除故障及污染源后执行灌注3.重新定标单项目定标失败,报警DEV可能原因:1.试剂失效、污染、未正确装载2.校准品失效、污染、添加过程中引入气泡3.系统故障(管路、底物、分离液等)解决思路:1.试剂混匀重新装载/更换新试剂重新定标2.启用新校准品重新定标3.仪器故障排查、维护后重新定标单项目定标失败,报警DEV特别注意敏感项目校准品的保存!查看定标数据及周边信息调查CV<60%(夹心法C0的CV<240%)CV>60%查看软件版本:①.如下版本之后不考虑人为误操作,直接排查二维码(反馈总部);CL1000i:V00.01.18.176196CL2000i:V00.02.08.32547SAL6000:V04.00.08SAL8000:V04.01.08②.如在上述版本之前版本,先排查人为误操作。(可能存在键盘击入问题)2、试剂问题:①.更换新瓶试剂重新测试;②.问题反馈总部。1、底物本底测试:如fail:①.排空问题底物,酸性清洗液清洗管道;②.新瓶底物灌注后,重新底物本底测试;③.OK后重新定标4、系统加样问题:①.系统重复性测试,如fail,转交用服工程师处理。②.加样准确度测试:转交用服工程师完成。6、分离液问题:进行系统检测中的清洁检:①.pass,直接进入下一步测试;②.fail:重新灌注新批次分离液,重测清洁检测。5、磁分离问题:磁分离重复性测试及磁分离清洗效果测试,如fail,则转交用服工程师。3、校准品问题:①.确认校准品量是否足够,是否放错;②.更换校准品重新测试。DEV/SLO排查思路校准失败—DUP报警(校准品发光值重复性超过范围)可能原因:1.管路污染分离液污染底物液污染2.试剂问题试剂未混匀磁珠团聚3.校准品问题校准加样不够校准品冻融不彻底4.仪器故障反应杯位加样性能磁分离盘多项目定标失败,报警DUP可能原因:1.仪器光度计模块故障2.孵育盘堵孔3.试剂/校准品问题4.仪器其他部件故障解决思路:1.排查仪器因素(用服)2.混匀试剂,重新添加校准品定标3.更换试剂及校准品定标单项目定标失败,报警DUP可能原因:1.试剂未混匀/失效2.校准品失效/添加过程中引入气泡3.系统故障(管路、底物、分离液等)解决思路:1.试剂混匀/更换试剂重新定标2.启用新校准品重新定标3.仪器故障排查、维护后重新定标反应杯位排查(暗计数)、磁分离重复性测试及磁分离清洗效果测试、系统重复性测试详见《CL2000i标准操作规程》第4部分“诊断”(P57-59),或转交用服工程师。DUP排查思路校准失败—LVC报警(同批次试剂当前定标和上次定标(成功的)相比,两次定标数据超过范围)可能原因:1.上次定标问题前次定标差异较大,未及时发现2.本次定标问题本次定标差异较大,排查同DEV可能原因:1.该瓶试剂/校准品变质,导致发光值变化2.前一批次定标异常未发现解决思路:1.更换试剂校准品重新定标2.延期前次定标数据后重新定标分析哪次定标有问题上次定标有问题当前定标有问题延期操作:把上次定标延期,重新定标(上次试剂有瓶间差或校准品有批间和瓶间差)2、试剂问题:①.更换新瓶试剂重新测试;②.问题反馈总部。1、底物本底测试:如fail:①.排空问题底物,酸性清洗液清洗管道;②.新瓶底物灌注后,重新底物本底测试;③.OK后重新定标4、系统加样问题:①.系统重复性测试,如fail,转交用服工程师处理。②.加样准确度测试:转交用服工程师完成。6、分离液问题:进行系统检测中的清洁检:①.pass,直接进入下一步测试;②.fail:重新灌注新批次分离液,重测清洁检测。5、磁分离问题:磁分离重复性测试及磁分离清洗效果测试,如fail,则转交用服工程师。3、校准品问题:①.确认校准品量是否足够,是否放错;②.更换校准品重新测试。LVC排查思路校准失败—无报警/VAM报警可能原因:1.软件项目参数错误2.误操作至校准品信息变化(例:扫条码时误触键盘)解决思路:1.重新导入参数2.移除误操作重新扫描校准卡后定标寻找主曲线二维码信息有误的原因查看定标数据及周边信息调查查看定标数据:排查定标数据是否有丢点数据(夹心法C03次,其他校准品都是2次)无丢点粗看三点校准品浓度,查看软件版本:①.如下版本之后不考虑人为误操作,直接排查二维码(反馈总部);CL1000i:V00.01.18.176196CL2000i:V00.02.08.32547SAL6000:V04.00.08SAL8000:V04.01.08②.如在上述版本之前版本,先排查人为误操作。(可能存在键盘击入问题)有丢点:查看报警日志,是否有如下报警:①.未抓到反应杯;②.液路异常报警(气泡,液路空);③.摇匀/混匀异常报警;④.样本空吸报警;⑤.试剂空吸报警;⑥.软件/硬件错误(通讯异常、数据溢出、器件损坏等);如有报警排查解决后重新定标2017.3月份版本提供该功能:①.定标失败无提示问题优化;②.定标失败,允许测试单个标本(12h内)无报警/VAM报警排查思路校准失败—COV/DET/RCV123COV:校准曲线不收敛RCV:校准品发光值回算浓度超限DET:校准曲线拟合度超限•人为误操作•主曲线信息有误•校准品条码不匹配•试剂失效其他:常见操作问题1.校准品用量不足—导致部分浓度点测试数不够2.试剂量不足/装载不正确—试剂未吸到导致校准数据缺失或空白3.使用错误的校准卡—试剂与校准品批号不匹配,报RCV/SLO等4.校准品位置错误—各浓度点发光值不匹配,报DEV等5.未拧松底物瓶盖—导致底物未正确注入,校准失败。6.底物未平衡—C0点发光值偏高,报DEV解决思路:1.纠正操作后重新定标提示:不同批号校准条码谨慎使用其他:常见操作问题可能原因:1.仪器底物管路破裂2.使用空底物瓶(开启底物气泡检测后可避免)解决思路:1.仪器排查2.装载底物液,灌注后重新定标故障特点:发光值普遍偏低3案例分析PART03案例1:单项目校准失败(DEV)案例2:多项目校准失败(DEV)案例3:单项目校准失败(DUP)案例4:报警信息确认3案例分析案例1医院反馈:FPSA新开瓶试剂,新开瓶校准品多次定标失败,定标图片如下:1.其他项目定标正常,测试正常2.核对项目出厂发光值表,C1、C2点发光值异常偏低,但重复性良好3.试剂及校准品均为新开瓶问题分析:原因查找:根据分析基本排除系统性故障可能。定位于该项目试剂校准品:经查找,发现改瓶试剂未正确装载,磁珠腔翘起,导致磁珠聚集于底部,未能混匀。案例2医院反馈:仪器出现整体结果偏高,初步寻找原因主任头一天更换了底物液和分离液,重新更换这两类耗材后还是未得到解决。重新进行定标发现定标无法通过,报警DEV。1.多项目定标异常,报DEV。2.该仪器乙肝阳性率显著变高3.核对项目出厂发光值表,C0、C1、C2点发光值均偏高问题分析:原因查找:根据分析首先查找系统性故障用服工程师评估仪器各项参数案例2结果确认:经检测分离液污染导致结果异常,更换分离液,清洗管道后定标通过案例3医院反馈:T3定标多次失败,同日定标其余项目均成功,T3换瓶后重新定标仍然失败,失败报警DUP问题分析:1.仪器状态正常,其他项目定标均通过2.T3项目C2点发光值偏低,重复性差3.试剂/校准品新开瓶试剂质量?校准品质量问题?案例3原因查找及确认:基本排除系统性故障核对试剂装载、存储,校准品储存观察试剂及校准品状态最终确认为试剂未混匀(运输或储存过程中倒置倾斜引发)混匀试剂后解决【提示】:强调运输储
本文标题:常见化学发光定标问题处理
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