TRI三端电容极性测试

D:\temp\1583422042215.doc第1頁，共9頁TRI三端電容極性測試三端電容極性軟硬體需求三端電容極性測試原理三端電容極性測試程式說明D:\temp\1583422042215.doc第2頁，共9頁三端電容極性軟硬體需求1.TR-518FE:.硬體需求:DCBOARD的版本需為518FE-002-18或之後的版本舊版本的DCBOARD無法使用..軟體需求:WINDOWS:V2.00E或之後的版本2.TR-518FR:.硬體需求:DCBOARD的版本需為518FR-002-11或之後的版本.舊版本的DCBOARD需更新U64EPLD為以下所述才能使用:518FR-002-6:(FRDCU647.pof,CC3BB)518FR-002-8,518FR-002-10:(FRDCU646.pof,CD76F).軟體需求:WINDOWS:V2.00C或之後的版本3.TR-8001:.硬體需求:MDABOARD的版本需為518FR-002-8或之後的版本.舊版本的MDABOARD需更新U64EPLD為以下所述才能使用:8001-002-6:(MDAU322.pof,1B6FB9).軟體需求:V1.03B或之後的版本D:\temp\1583422042215.doc第3頁，共9頁三端電容極性測試原理1.三端電容極性測試原理是利用電解電容的負極與外殼間的阻抗遠比正極與外殼間的阻抗小,因此可以在電容的正負極間施加一直流電壓0.2v,並量測電容的外殼電壓值,由此電壓值可以判斷出電容反插或缺件.2.由於必須量測外殼電壓,故只有直立式電解電容才能檢測.3.圖一為直立式電解電容的等效電路.4.圖二為電容正常時的檢測電路示意圖.量到電容外殼電壓為Vo1.5.圖三為電容反插時的檢測電路示意圖.量到電容外殼電壓為Vo2.6.圖四為電容缺件時的檢測電路示意圖.量到電容外殼電壓為Vo3.7.圖五為電容外殼電壓Vo1,Vo2,Vo3的比較圖,由於R1R2,且Vo3趨近於0v,故Vo1Vo2,Vo1Vo3.因此可以輕易的判斷出電容是否有反插或缺件.D:\temp\1583422042215.doc第4頁，共9頁CASER1R2R1VerticaltypeElectrolyticCapacitor+CASER2C1--+ICTV+V=0.2VR1-R2G-PinC1R1R2Hi-Pin+-321+-321MeasureVo1Lo-PinD:\temp\1583422042215.doc第5頁，共9頁:C1+-321G-PinVV=0.2V+-321R1R2Lo-PinICTR1R2+MeasureVo2-Hi-PinHi-PinG-PinV=0.2VLo-Pin+-321+-321ICTVMeasureVo3(Vo3=0v)D:\temp\1583422042215.doc第6頁，共9頁T0.2VVo3(電容缺件)Vo1(電容正常)圖五:電容外殼電壓比較圖VoVo2(電容反插)D:\temp\1583422042215.doc第7頁，共9頁三端電容極性測試程式說明1.測試點：2.測試程式：PartNameAct_VStd_VHlim%Llim%ModeTypeHipLopDlyG-P1CE10.20.12V-1208PX1305CE110.20.001V-12018PX1113015說明：測試原理為從HiP送sourcevoltage，然後從G-P1讀回量測值，由於缺件或反插，其量測值很低(接近0)，所以只比較下限，上限Don’tcare。Act_V：Sourcevoltage，建議值為0.2VStd_V：SenseVoltage(Threshold)，依實際Debug後決定Hlim：固定為–1(Don,tcare)Llim：建議值為20，可依實際Debug後決定Mode:固定為8或18(適用於防爆電容)Type：固定為PXHip：電容負端(sourcepin)Lop：電容正端Dly：依實際Debug後決定G-P1：SensePinHiP:1G-P1:5LoP:3-+Cap.D:\temp\1583422042215.doc第8頁，共9頁3.除錯規則：將Hip/Lop相同的電容放在一起，例如CE1,CE2,CE3的HiP及LoP都是1及3，所以測試程式如下：PartNameAct_VStd_VHlim%Llim%ModeTypeHipLopDlyG-P1CE10.20.12V-1208PX1305CE20.20.12V-1208PX1307CE30.20.12V-1208PX1309CE40.20.15V-1208PX2021022CE110.20.001V-12018PX1113015CE120.20.001V-12018PX1113017Debug時可交換HiP及Lop比較量測值，以決定較佳之Threshold(Std_V)缺件量測值顯示為–1，反向Mode18量測值為負值，Mode8則低於Threshold*(1-下限%)若交換HiP及Lop量測值差異不大可調整Delaytime或Sourcevoltage(Act_v)若交換HiP及Lop量測值皆很低，可能是第三端接觸問題，可先檢查第三端是否接觸正常或待測電容有歪斜，可用換針或扶正待測電容方式解決治具製作時第三端選用測試針，需考慮相同位置待用料的高度差異，以免造成接觸不良或刺穿待測物的問題三端電容量測是用來檢測缺件及反向，無法檢測錯件可利用量測分析工具(HotKeyF12)，決定較佳Threshold，DelaytimeD:\temp\1583422042215.doc第9頁，共9頁縱軸為量測值，橫軸為Delaytime，紅線表正常時曲線，藍線為勾選改變高低點的反向曲線