您好,欢迎访问三七文档
当前位置:首页 > 商业/管理/HR > 质量控制/管理 > SPC统计制程管制技术(1)
SPCAmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,Ltd.Technique统计制程管制技术统计制程管制技术统计制程管制技术统计制程管制技术Presentedby:NikeOuYangApril7,2005SPCTechnique一﹑SPC的理论基础AmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,LtdSPCTechnique一﹑SPC的理论基础AmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,Ltd均值Xbar=∑∑∑∑nX/n众数Mo=L+∆1*i/(∆1+∆1)中位数Me=L+(N/2-Sm-1)*i/fm标准差σ=Rt{[∑∑∑∑(Xi-Xbar)]/N}SPCTechnique描述变化常用的统计量:一﹑SPC的理论基础(续)AmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,LtdSPCTechnique直方图的定义:将所收集的数据(特性或结果值)在一定的范围轴上加以区分并将其分成几个相等的区间,依各组的次数,用柱形表示的图形.一﹑SPC的理论基础(续)AmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,LtdSPCTechnique直方图的作法:(1)找出样本数;(2)根据样本数分出组数;(3)算出每组之组距与组界;(4)根据上述(1)(2)(3)来设计次数分配表;(5)依据次数分配表来绘制直方图.一﹑SPC的理论基础(续)AmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,LtdSPCTechnique例如:有如下测定值:636064626364636266646062616562636663676463626563656162646361一﹑SPC的理论基础(续)AmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,LtdSPCTechnique组别组别组别组别下组界下组界下组界下组界上组界上组界上组界上组界组中值组中值组中值组中值次数次数次数次数累计次数累计次数累计次数累计次数159.5060.5060.0022260.5061.5061.0035361.5062.5062.00611462.5063.5063.00819563.5064.5064.00524664.5065.5065.00327765.5066.5066.00229866.5067.5067.00130Xbar=63.1σ=1.72906次数分布表:一﹑SPC的理论基础(续)AmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,LtdSPCTechniqueXbar=63.1σ=1.72906直方图的绘制:一﹑SPC的理论基础(续)AmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,LtdSPCTechnique直方图的用途::::1.直观地了解被观察对象的分布状况直观地了解被观察对象的分布状况直观地了解被观察对象的分布状况直观地了解被观察对象的分布状况;2.测知制程能力测知制程能力测知制程能力测知制程能力:u=M????;3.计算产品不良率计算产品不良率计算产品不良率计算产品不良率:4.调查是否混入两个以上不同群体调查是否混入两个以上不同群体调查是否混入两个以上不同群体调查是否混入两个以上不同群体;5.测知有无假数据测知有无假数据测知有无假数据测知有无假数据;6.测知数据分配形态测知数据分配形态测知数据分配形态测知数据分配形态(偏左还是偏右偏左还是偏右偏左还是偏右偏左还是偏右?);7.借以订定规格界限借以订定规格界限借以订定规格界限借以订定规格界限:u+/-4*δδδδ或或或或u+/-3*δδδδ;8.与规格或标准值比较与规格或标准值比较与规格或标准值比较与规格或标准值比较;9.设计管制界限可否用于管制制程设计管制界限可否用于管制制程设计管制界限可否用于管制制程设计管制界限可否用于管制制程;一﹑SPC的理论基础(续)AmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,LtdSPCTechnique一﹑SPC的理论基础(续)AmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,LtdSPCTechnique一﹑SPC的理论基础(续)AmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,LtdSPCTechniqueCpkCp0.330.50.6611.331.6620.330.68%82.00%84.00%84.13%84.13%84.13%84.13%0.5087.00%92.72%93.32%93.32%93.32%93.32%0.6695.40%97.39%97.72%97.72%97.72%1.0097.73%99.87%99.87%99.87%1.3399.99%99.97%100.00%1.66100.00%100.00%2.00100.00%CPK值与PPM对照表CPK值与PPM对照表CPK值与PPM对照表CPK值与PPM对照表CPK=MIN((XU-X),(X-XL))*2.059/(3*R);(XU规格上限,XL规格下限)二﹑管制图的引进AmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,LtdSPCTechnique二﹑管制图的引进AmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,LtdSPCTechnique二﹑管制图的引进(续)AmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,LtdSPCTechniqueμ-3σμ+σμμ+3σμ+2σμ-2σμ-σ68.26%99.73%95.46%正态分布曲线二﹑管制图的引进(续)AmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,LtdSPCTechnique上限中心限下限二﹑管制图的引进(续)AmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,Ltd过程变异的两个原因过程变异的两个原因过程变异的两个原因过程变异的两个原因①①①①共同原因共同原因共同原因共同原因(偶然原因或机遇原因)(偶然原因或机遇原因)(偶然原因或机遇原因)(偶然原因或机遇原因)使品质发生变异且为不可避免的原因使品质发生变异且为不可避免的原因使品质发生变异且为不可避免的原因使品质发生变异且为不可避免的原因②②②②特殊原因特殊原因特殊原因特殊原因(非机遇性原因)(非机遇性原因)(非机遇性原因)(非机遇性原因)变异之来源:变异之来源:变异之来源:变异之来源:机器的差异,方法条件的机器的差异,方法条件的机器的差异,方法条件的机器的差异,方法条件的不同与操作者的不同不同与操作者的不同不同与操作者的不同不同与操作者的不同(4M1E)SPCTechnique二﹑管制图的引进(续)AmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,Ltd过程变异的两个控制特性过程变异的两个控制特性过程变异的两个控制特性过程变异的两个控制特性①①①①消极性消极性消极性消极性稳定变异稳定变异稳定变异稳定变异②②②②积极性积极性积极性积极性降低及减少变异降低及减少变异降低及减少变异降低及减少变异SPCTechnique三﹑均值-极差图AmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,LtdSPCTechnique三﹑均值-极差图AmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,LtdSPCTechnique理论中理论中理论中理论中:Xbar管制线的计算管制线的计算管制线的计算管制线的计算CL=µUCL=µ+3*σ/√nLCL=µ-3*σ/√n三﹑均值-极差图(续)AmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,LtdSPCTechnique理论中理论中理论中理论中:R管制线的计算管制线的计算管制线的计算管制线的计算CL=d2σUCL=d2σ+3d3σLCL=d2σ-3*d3σ三﹑均值-极差图(续)AmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,LtdSPCTechnique实际应用中为简便运算实际应用中为简便运算实际应用中为简便运算实际应用中为简便运算:以以以以Xbar推定推定推定推定µ,R推定推定推定推定d2σ,取取取取A2=3/(d2√n),D3=(d2-3d3),D4=d2+3d3三﹑均值-极差图(续)AmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,LtdSPCTechnique实际中实际中实际中实际中:Xbar管制线的计算管制线的计算管制线的计算管制线的计算:以以以以CL=X为中心线为中心线为中心线为中心线UCL=X+A2R为管控上限为管控上限为管控上限为管控上限LCL=X-A2R为管控下限为管控下限为管控下限为管控下限三﹑均值-极差图(续)AmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,LtdSPCTechnique实际中实际中实际中实际中:R管制线的计算管制线的计算管制线的计算管制线的计算:以以以以CL=R为中心线为中心线为中心线为中心线UCL=D4R为管控上限为管控上限为管控上限为管控上限LCL=D3R为管控下限为管控下限为管控下限为管控下限三﹑均值-极差图(续)AmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,LtdSPCTechniqueJan-15-2003X1X2X3X4X5X1X2X3X4X51111505050505050505049494949525252525151515150.4050.4050.4050.40333314141414535353534848484852525252525252525151515150.2050.2050.2050.2066662222474747475353535353535353454545455050505049.6049.6049.6049.60888815151515535353534848484851515151515151515252525250.6050.6050.6050.6055553333464646464545454549494949484848484949494947.4047.4047.4047.40444416161616464646465050505051515151515151515353535350.6050.6050.6050.6077774444505050504848484849494949494949495252525249.6049.6049.6049.60444417171717505050505252525249494949494949494949494949.8049.8049.8049.8033335555464646464848484850505050545454545050505049.6049.6049.6049.60888818181818505050504949494949494949494949495151515149.8049.8049.8049.8022226666505050504949494952525252515151515454545451.2051.2051.2051.20555519191919525252524949494953535353494949495050505051.2051.2051.2051.2044447777474747474949494950505050484848485252525249.2049.2049
本文标题:SPC统计制程管制技术(1)
链接地址:https://www.777doc.com/doc-417210 .html